100µm×100µm 3D-scanning voor onderzoek naar materialenwetenschap op nanoschaal

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd wetenschappelijk instrument dat is ontworpen om beeldvorming met hoge resolutie en precieze oppervlaktekarakterisering op de nanoschaal te bieden. Deze geavanceerde microscoop is ontwikkeld om te voldoen aan de veeleisende eisen van verschillende onderzoeks- en industriële toepassingen, met name op gebieden als halfgeleiders, materiaalkunde en nanotechnologie. Met zijn uitzonderlijke mogelijkheden voor multi-mode meting biedt de AFM ongeëvenaarde veelzijdigheid en nauwkeurigheid, waardoor onderzoekers oppervlakte-eigenschappen met atomaire resolutie kunnen verkennen.

Een van de opvallende kenmerken van deze Atomic Force Microscope is het indrukwekkende scanbereik van 100 μm * 100 μm * 10 μm, waardoor het een breed scala aan monsters kan accommoderen. Het systeem is compatibel met monsters tot een diameter van 25 mm, waardoor het geschikt is voor het analyseren van een breed spectrum aan materialen en apparaten. Of u nu halfgeleiderwafels of nieuwe nanomaterialen onderzoekt, deze AFM biedt de flexibiliteit die nodig is om diverse monstergroottes efficiënt te verwerken.

Precisie in positionering en beweging is cruciaal in atoomkrachtmicroscopie, en dit instrument blinkt daarin uit. Het maakt gebruik van XYZ drie-assige full-sample scanning, wat zorgt voor een uitgebreide dekking en nauwkeurigheid tijdens metingen. De non-lineariteitsspecificaties van het systeem zijn uitzonderlijk laag, met slechts 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting. Deze precieze controleparameters garanderen minimale vervorming en hoge getrouwheid in de beeldvorming, wat essentieel is voor het bereiken van betrouwbare resultaten met atomaire resolutie.

De AFM ondersteunt meerdere werkingsmodi, elk afgestemd op specifieke meetbehoeften. Deze omvatten Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-Directional Scanning Mode. De beschikbaarheid van deze modi maakt gedetailleerde oppervlaktekarakterisering onder verschillende omstandigheden en interacties mogelijk. Contact Mode is bijvoorbeeld ideaal voor het meten van topografie met hoge gevoeligheid, terwijl Tap Mode schade aan zachte monsters vermindert door periodiek contact te maken met het oppervlak. Phase Imaging Mode maakt contrast mogelijk op basis van materiaaleigenschappen, en Lift Mode is handig voor magnetische of elektrische krachtmicroscopie. Multi-Directional Scanning Mode verbetert de mogelijkheden van het instrument verder door scannen vanuit verschillende hoeken mogelijk te maken, waardoor uitgebreide gegevens over de oppervlaktekenmerken van het monster worden verkregen.

Multi-mode meetmogelijkheden zijn een aanzienlijk voordeel van deze Atomic Force Microscope. Het stelt onderzoekers in staat om een schat aan informatie te verkrijgen uit één enkel instrument, waaronder topografische, mechanische, elektrische en magnetische eigenschappen. Deze veelzijdigheid maakt de AFM van onschatbare waarde in halfgeleideronderzoek, waar het begrijpen van oppervlaktekenmerken op nanoschaal en materiaaleigenschappen direct van invloed kan zijn op de prestaties van apparaten en productieprocessen.

Door beeldvorming met atomaire resolutie te leveren, verlegt deze microscoop de grenzen van wat kan worden waargenomen en gemeten. Het stelt wetenschappers in staat om individuele atomen en moleculaire structuren te visualiseren, wat baanbrekende ontdekkingen in nanotechnologie en materiaalkunde mogelijk maakt. De gegevens met hoge resolutie die via deze AFM worden verkregen, dragen bij aan de vooruitgang bij het ontwikkelen van kleinere, snellere en efficiëntere halfgeleiderapparaten, naast andere toepassingen.

Samenvattend is de Atomic Force Microscope een krachtig en flexibel hulpmiddel dat een breed scanbereik, precieze XYZ drie-assige full-sample scanning en lage non-lineariteit combineert om uitstekende prestaties te leveren. De multi-mode meetmogelijkheden en compatibiliteit met monsters tot 25 mm in diameter maken het een essentieel instrument voor halfgeleideronderzoek en andere nanotechnologiegebieden. Met beeldvorming met atomaire resolutie en meerdere werkingsmodi onderscheidt deze AFM zich als een essentiële bron voor wetenschappers en ingenieurs die ernaar streven de nanoschaalwereld met ongekende precisie te verkennen en te manipuleren.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Z-as ruisniveau: 0,04 Nm voor precieze metingen op nanoschaal
• Scansnelheid: instelbaar van 0,1 Hz tot 30 Hz om aan verschillende analysebehoeften te voldoen
• Beeldbemonsteringspunten: ondersteunt resolutie van 32*32 tot 4096*4096 voor gedetailleerde beeldvorming
• Multifunctionele metingen, waaronder:
  • Elektrostatische krachtmicroscoop (EFM)
  • Scanning Kelvin Microscope (KPFM) voor geavanceerde Scanning Kelvin Probe Microscopy
  • Piëzo-elektrische krachtmicroscoop (PFM)
  • Scanning Capacitive Atomic Force Microscope (SCM)
  • Magnetische krachtmicroscoop (MFM)
  • Optionele geleidende Atomic Force Microscope (C-AFM) voor elektrische metingen op nanoschaal
• Werkingsmodi: Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-Directional Scanning Mode
• Ideaal voor nano-analyse in verschillende wetenschappelijke en industriële toepassingen

Technische parameters:

Deze Atomic Force Microscope is ontworpen voor nano-analyse en elektrische metingen op nanoschaal en biedt multi-mode meetmogelijkheden om te voldoen aan diverse onderzoeks- en industriële behoeften.

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), afkomstig uit China, is een geavanceerde All-in-One AFM die is ontworpen om ongeëvenaarde prestaties te leveren bij oppervlaktekarakterisering op nanoschaal. De veelzijdigheid en precisie maken het ideaal voor een breed scala aan producttoepassingen en scenario's, vooral waar gedetailleerde topografiebeeldvorming essentieel is.

In onderzoeks- en ontwikkelingslaboratoria dient de AtomEdge Pro als een essentieel hulpmiddel voor materiaalkunde, waardoor wetenschappers oppervlaktestructuren met uitzonderlijke resolutie kunnen analyseren. De geavanceerde XYZ drie-assige full-sample scanmethode van het apparaat maakt uitgebreide topografische mapping mogelijk over een scanbereik van 100 μm * 100 μm * 10 μm, geschikt voor monstergroottes tot 25 mm in diameter. Deze mogelijkheid ondersteunt diepgaande studies van dunne films, nanostructuren en biomaterialen, en biedt kritische inzichten in oppervlaktemorfologie en mechanische eigenschappen.

Industriële kwaliteitscontrole en halfgeleiderfabricage profiteren ook enorm van de mogelijkheden van de AtomEdge Pro. De hoge beeldbemonsteringspunten, variërend van 32*32 tot 4096*4096, zorgen voor gedetailleerde en nauwkeurige topografiebeeldvorming van het oppervlak, wat essentieel is voor het detecteren van defecten op nanoschaal en het waarborgen van de betrouwbaarheid van producten. Het lage Z-as ruisniveau van 0,04 nm verbetert de meetprecisie verder, en voldoet aan de strenge normen die in deze hightech-industrieën vereist zijn.

Bovendien vereenvoudigt het All-in-One AFM-ontwerp van de AtomEdge Pro de bediening en integratie in bestaande workflows, waardoor het toegankelijk is voor zowel ervaren gebruikers als degenen die nieuw zijn in AFM-technologie. Onderwijsinstellingen benutten deze functie voor training en onderzoek, en bieden studenten en onderzoekers praktische ervaring in beeldvorming en analyse op nanoschaal.

Samenvattend is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope perfect geschikt voor diverse toepassingsmogelijkheden, waaronder geavanceerd wetenschappelijk onderzoek, industriële inspectie, halfgeleideranalyse en educatieve doeleinden. De uitgebreide scanmogelijkheden, compatibiliteit met een verscheidenheid aan monstergroottes en uitzonderlijke beeldresolutie maken het tot een toonaangevende All-in-One AFM-oplossing voor gedetailleerde topografiebeeldvorming en oppervlakteanalyse op nanoschaal.