Balayage 3D 100μm×100μm pour la recherche en science des matériaux à l'échelle nanométrique

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument scientifique de pointe conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une caractérisation précise des surfaces à l'échelle nanométrique. Ce microscope avancé est conçu pour répondre aux exigences des diverses applications de recherche et industrielles, en particulier dans des domaines tels que les semi-conducteurs, la science des matériaux et la nanotechnologie. Grâce à sa capacité exceptionnelle de mesure multi-mode, l'AFM offre une polyvalence et une précision inégalées, permettant aux chercheurs d'explorer les propriétés de surface avec une résolution atomique.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de ce microscope à force atomique est sa plage de balayage impressionnante de 100 μm * 100 μm * 10 μm, qui lui permet de s'adapter à une grande variété d'échantillons. Le système est compatible avec des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 25 mm, ce qui le rend adapté à l'analyse d'un large éventail de matériaux et de dispositifs. Que vous étudiiez des plaquettes de semi-conducteurs ou de nouveaux nanomatériaux, cet AFM offre la flexibilité nécessaire pour gérer efficacement diverses tailles d'échantillons.

La précision du positionnement et du mouvement est essentielle en microscopie à force atomique, et cet instrument excelle à cet égard. Il utilise un balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ, assurant une couverture et une précision complètes pendant les mesures. Les spécifications de non-linéarité du système sont exceptionnellement faibles, avec seulement 0,02 % dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z. Ces paramètres de contrôle précis garantissent une distorsion minimale et une fidélité élevée de l'imagerie, ce qui est essentiel pour obtenir des résultats de résolution atomique fiables.

L'AFM prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, chacun étant adapté à des besoins de mesure spécifiques. Ceux-ci incluent le mode contact, le mode tapotement, le mode imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel. La disponibilité de ces modes permet une caractérisation détaillée de la surface dans diverses conditions et interactions. Par exemple, le mode contact est idéal pour mesurer la topographie avec une grande sensibilité, tandis que le mode tapotement réduit les dommages aux échantillons mous en entrant en contact par intermittence avec la surface. Le mode imagerie de phase permet un contraste basé sur les propriétés des matériaux, et le mode levage est utile pour la microscopie à force magnétique ou électrique. Le mode de balayage multidirectionnel améliore encore les capacités de l'instrument en permettant le balayage sous différents angles, fournissant des données complètes sur les caractéristiques de surface de l'échantillon.

La capacité de mesure multi-mode est un avantage significatif de ce microscope à force atomique. Il permet aux chercheurs d'obtenir une mine d'informations à partir d'un seul instrument, notamment les propriétés topographiques, mécaniques, électriques et magnétiques. Cette polyvalence rend l'AFM inestimable dans la recherche sur les semi-conducteurs, où la compréhension des caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique et des propriétés des matériaux peut avoir un impact direct sur les performances des appareils et les processus de fabrication.

En fournissant une imagerie à résolution atomique, ce microscope repousse les limites de ce qui peut être observé et mesuré. Il permet aux scientifiques de visualiser des atomes individuels et des structures moléculaires, facilitant ainsi des découvertes révolutionnaires en nanotechnologie et en science des matériaux. Les données haute résolution acquises grâce à cet AFM contribuent aux progrès du développement de dispositifs semi-conducteurs plus petits, plus rapides et plus efficaces, entre autres applications.

En résumé, le microscope à force atomique est un outil puissant et flexible qui combine une large plage de balayage, un balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ précis et une faible non-linéarité pour offrir des performances exceptionnelles. Ses capacités de mesure multi-mode et sa compatibilité avec des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 25 mm en font un instrument essentiel pour la recherche sur les semi-conducteurs et d'autres domaines de la nanotechnologie. Avec une imagerie à résolution atomique et de multiples modes de fonctionnement, cet AFM se distingue comme une ressource vitale pour les scientifiques et les ingénieurs qui s'efforcent d'explorer et de manipuler le monde nanométrique avec une précision sans précédent.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Niveau de bruit sur l'axe Z : 0,04 Nm pour des mesures nanométriques précises
• Vitesse de balayage : Réglable de 0,1 Hz à 30 Hz pour répondre à divers besoins d'analyse
• Points d'échantillonnage d'image : Prend en charge une résolution de 32*32 jusqu'à 4096*4096 pour une imagerie détaillée
• Mesures multifonctionnelles, notamment :
  • Microscope à force électrostatique (EFM)
  • Microscope de Kelvin à balayage (KPFM) permettant une microscopie à sonde de Kelvin à balayage avancée
  • Microscope à force piézoélectrique (PFM)
  • Microscope à force atomique capacitif à balayage (SCM)
  • Microscope à force magnétique (MFM)
  • Microscope à force atomique conducteur (C-AFM) en option pour la mesure électrique à l'échelle nanométrique
• Modes de fonctionnement : Mode contact, mode tapotement, mode imagerie de phase, mode levage et mode de balayage multidirectionnel
• Idéal pour l'analyse à l'échelle nanométrique dans diverses applications scientifiques et industrielles

Paramètres techniques :

Ce microscope à force atomique est conçu pour l'analyse à l'échelle nanométrique et la mesure électrique à l'échelle nanométrique, offrant des capacités de mesure multi-mode pour répondre aux divers besoins de recherche et industriels.

Applications :

Le microscope à force atomique (AFM) AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un AFM tout-en-un de pointe conçu pour offrir des performances inégalées dans la caractérisation des surfaces à l'échelle nanométrique. Sa polyvalence et sa précision en font l'outil idéal pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits, en particulier lorsque l'imagerie topographique détaillée est essentielle.

Dans les laboratoires de recherche et développement, l'AtomEdge Pro sert d'outil essentiel pour la science des matériaux, permettant aux scientifiques d'analyser les structures de surface avec une résolution exceptionnelle. La méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ avancée de l'appareil permet une cartographie topographique complète sur une plage de balayage de 100 μm * 100 μm * 10 μm, pouvant accueillir des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 25 mm. Cette capacité prend en charge des études approfondies des couches minces, des nanostructures et des biomatériaux, fournissant des informations critiques sur la morphologie de surface et les propriétés mécaniques.

Le contrôle qualité industriel et la fabrication de semi-conducteurs bénéficient également grandement des capacités de l'AtomEdge Pro. Sa plage de points d'échantillonnage d'image élevée, de 32*32 à 4096*4096, garantit une imagerie topographique de surface détaillée et précise, ce qui est essentiel pour détecter les défauts à l'échelle nanométrique et garantir la fiabilité des produits. Le faible niveau de bruit sur l'axe Z de 0,04 nm améliore encore la précision des mesures, répondant aux normes rigoureuses requises dans ces industries de haute technologie.

De plus, la conception AFM tout-en-un de l'AtomEdge Pro simplifie le fonctionnement et l'intégration dans les flux de travail existants, ce qui le rend accessible aux utilisateurs experts et à ceux qui débutent avec la technologie AFM. Les établissements d'enseignement tirent parti de cette fonctionnalité pour la formation et la recherche, offrant aux étudiants et aux chercheurs une expérience pratique de l'imagerie et de l'analyse à l'échelle nanométrique.

En résumé, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est parfaitement adapté à diverses occasions d'application, notamment la recherche scientifique avancée, l'inspection industrielle, l'analyse des semi-conducteurs et à des fins éducatives. Ses capacités de balayage complètes, sa compatibilité avec une variété de tailles d'échantillons et sa résolution d'imagerie exceptionnelle en font une solution AFM tout-en-un de premier plan pour l'imagerie topographique détaillée et l'analyse de surface à l'échelle nanométrique.