100 μm × 100 μm 3D-Scannen für Nanomaterialien Wissenschaftliche Forschung

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes wissenschaftliches Instrument, mit dem hochauflösende Bilder und eine präzise Oberflächencharakterisierung im Nanobereich erstellt werden können.Dieses hochentwickelte Mikroskop wurde entwickelt, um den anspruchsvollen Anforderungen verschiedener Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht zu werden, insbesondere in Bereichen wie Halbleiter, Materialwissenschaften und Nanotechnologie.Das AFM bietet beispiellose Vielseitigkeit und Genauigkeit, wodurch die Forscher die Oberflächenverhältnisse mit atomarer Auflösung erforschen können.

Eines der herausragenden Merkmale dieses Atomkraftmikroskops ist sein beeindruckender Scannbereich von 100 μm * 100 μm * 10 μm, der es ermöglicht, eine Vielzahl von Proben aufzunehmen.Das System ist mit Proben bis zu einem Durchmesser von 25 mm kompatibel., so dass sie für die Analyse eines breiten Spektrums von Materialien und Geräten geeignet ist.Diese AFM bietet die erforderliche Flexibilität, um unterschiedliche Stichprobengrößen effizient zu handhaben..

Die Präzision bei Positionierung und Bewegung ist in der Atomkraftmikroskopie von entscheidender Bedeutung, und dieses Instrument zeichnet sich in dieser Hinsicht aus.Gewährleistung einer umfassenden Abdeckung und Genauigkeit bei MessungenDie Nichtlinearität des Systems ist außergewöhnlich gering: nur 0,02% in der XY- und 0,08% in der Z-Richtung.Diese präzisen Steuerungsparameter garantieren minimale Verzerrungen und hohe Bildgenauigkeit, was für die Erzielung zuverlässiger Ergebnisse der atomaren Auflösung unerlässlich ist.

Das AFM unterstützt mehrere Betriebsarten, die jeweils auf spezifische Messbedürfnisse zugeschnitten sind, darunter Kontaktmodus, Tapmodus, Phasenbildmodus, Liftmodus und Multi-Directional Scanning Mode.Die Verfügbarkeit dieser Modi ermöglicht eine detaillierte Oberflächencharakterisierung unter verschiedenen Bedingungen und Wechselwirkungen.Der Kontaktmodus ist beispielsweise ideal für die Messung von Topografie mit hoher Empfindlichkeit geeignet, während der Tap-Modus durch intermittierenden Kontakt mit der Oberfläche Schäden an weichen Proben reduziert.Der Phasenbildmodus ermöglicht einen Kontrast basierend auf den MaterialeigenschaftenDer Multi-Directional Scanning-Modus verbessert die Leistungsfähigkeit des Instruments, indem er das Scannen aus verschiedenen Winkeln ermöglicht.Bereitstellung umfassender Daten über die Oberflächenmerkmale der Probe.

Die Multimode-Messung ist ein wesentlicher Vorteil dieses Atomkraftmikroskops, das es Forschern ermöglicht, eine Fülle von Informationen aus einem einzigen Instrument zu erhalten.einschließlich topographischerDiese Vielseitigkeit macht das AFM in der Halbleiterforschung von unschätzbarem Wert.wo das Verständnis von Oberflächenmerkmalen und Materialeigenschaften im Nanobereich die Leistung des Geräts und die Herstellungsprozesse direkt beeinflussen kann.

Durch die Bereitstellung von Bildern mit atomarer Auflösung erweitert dieses Mikroskop die Grenzen dessen, was beobachtet und gemessen werden kann.Erleichterung bahnbrechender Entdeckungen in den Bereichen Nanotechnologie und MaterialwissenschaftDie hochauflösenden Daten, die durch dieses AFM erfasst werden, tragen unter anderem zur Entwicklung kleinerer, schnellerer und effizienterer Halbleitergeräte bei.

Zusammenfassend ist das Atomic Force Microscope ein leistungsfähiges und flexibles Werkzeug, das einen breiten Scanning-Bereich kombiniert, präzise XYZ-Drei-Achsen-Full-Sample-Scanning,und geringe Nichtlinearität, um eine hervorragende Leistung zu erzielenDie Multimode-Messfunktionen und die Kompatibilität mit Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25 mm machen es zu einem wesentlichen Instrument für die Halbleiterforschung und andere Nanotechnologiefelder.mit einer atomaren Auflösung und mehreren Betriebsmodi, ist dieses AFM eine wichtige Ressource für Wissenschaftler und Ingenieure, die sich bemühen, die Welt im Nanobereich mit beispielloser Präzision zu erforschen und zu manipulieren.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Geräuschpegel auf der Z-Achse: 0,04 Nm für präzise Nanomessungen
• Scanning Rate: Einstellbar von 0,1 Hz bis 30 Hz für verschiedene Analyseanforderungen
• Bildprobenpunkte: Unterstützt eine Auflösung von 32*32 bis 4096*4096 für detaillierte Bildgebung
• Multifunktionale Messungen einschließlich:
  • Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM)
  • Scanning-Kelvin-Mikroskop (KPFM), das eine fortgeschrittene Scanning-Kelvin-Sonde-Mikroskopie ermöglicht
  • Piezoelektrische Kraftmikroskop (PFM)
  • Skannendes Kapasitäts-Atomkraftmikroskop (SCM)
  • Magnetkraftmikroskop (MFM)
  • Optionales leitfähiges Atomkraftmikroskop (C-AFM) für elektrische Nanomessungen
• Betriebsmodus: Kontaktmodus, Tappingmodus, Phasenbildmodus, Liftmodus und mehrrichtungsfähiger Scanningmodus
• Ideal für die Analyse auf Nanoskala in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen

Technische Parameter:

Dieses Atomkraftmikroskop ist für die Nanoanalyse und elektrische Nanomessung konzipiert und bietet Multi-Mode-Messfunktionen, um unterschiedliche Forschungs- und Industrieanforderungen zu erfüllen.

Anwendungen:

Die Wahrheit Instrumente AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), mit Ursprung in China,ist ein hochmodernes All-in-One-AFM, das eine beispiellose Leistung bei der Oberflächencharakterisierung im Nanobereich bietet. Seine Vielseitigkeit und Präzision machen ihn ideal für eine Vielzahl von Anwendungsfällen und Szenarien, insbesondere wenn detaillierte Topographiebilder unerlässlich sind.

In Forschungs- und Entwicklungslaboratorien dient der AtomEdge Pro als wichtiges Werkzeug für die Materialwissenschaft und ermöglicht Wissenschaftlern die Analyse von Oberflächenstrukturen mit außergewöhnlicher Auflösung.Die fortschrittliche dreiachsige XYZ-Scan-Methode des Geräts ermöglicht eine umfassende topographische Kartierung über einen Scanningbereich von 100 μm * 100 μm * 10 μmDiese Fähigkeit unterstützt eingehende Untersuchungen von Dünnfolien, Nanostrukturen und Biomaterialien.Bereitstellung kritischer Erkenntnisse über Oberflächenmorphologie und mechanische Eigenschaften.

Auch die industrielle Qualitätskontrolle und die Halbleiterherstellung profitieren stark von den Fähigkeiten des AtomEdge Pro.gewährleistet eine detaillierte und genaue ErdoberflächenbildaufnahmeDie geringe Geräuschdichte der Z-Achse von 0,04 nm verbessert die Messgenauigkeit weiter.die in diesen Hightech-Industrien erforderlichen strengen Standards gerecht werden.

Darüber hinaus vereinfacht das All-in-One-AFM-Design des AtomEdge Pro die Bedienung und Integration in bestehende Arbeitsabläufe und macht es sowohl für erfahrene Benutzer als auch für Neulinge in der AFM-Technologie zugänglich.Bildungseinrichtungen nutzen diese Funktion für Ausbildung und Forschung, die Studierenden und Forschern praktische Erfahrungen in der Nano-Bildgebung und -Analyse vermitteln.

Zusammenfassend ist das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments perfekt für verschiedene Anwendungsbereiche geeignet, einschließlich fortgeschrittener wissenschaftlicher Forschung, industrieller Inspektion,Halbleiteranalyse, und pädagogischen Zwecken. Seine umfassenden Scanfähigkeiten, Kompatibilität mit einer Vielzahl von Probengrößen,und eine außergewöhnliche Bildauflösung etablieren es als eine führende All-in-One AFM-Lösung für detaillierte Topographiebilder und Nanoskala-Oberflächenanalyse.