100μm×100μm Scansione 3D per materiali su nanoscala Ricerca scientifica

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento scientifico all'avanguardia progettato per fornire immagini ad alta risoluzione e una caratterizzazione precisa della superficie a nanoscala.Questo microscopio avanzato è stato progettato per soddisfare i requisiti più esigenti di varie applicazioni di ricerca e industria, in particolare in settori quali i semiconduttori, la scienza dei materiali e la nanotecnologia.l'AFM offre una versatilità e una precisione senza pari, consentendo ai ricercatori di esplorare le proprietà superficiali con risoluzione atomica.

Una delle caratteristiche più importanti di questo microscopio è la sua impressionante gamma di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm, che gli consente di ospitare una grande varietà di campioni.Il sistema è compatibile con campioni fino a un diametro di 25 mm, che lo rende adatto all'analisi di un'ampia gamma di materiali e dispositivi.questo AFM fornisce la flessibilità necessaria per gestire in modo efficiente le diverse dimensioni del campione.

La precisione nel posizionamento e nel movimento è fondamentale nella microscopia di forza atomica, e questo strumento eccelle in questo senso.garantire una copertura completa e una precisione durante le misurazioniLe specifiche di non linearità del sistema sono eccezionalmente basse, con solo lo 0,02% nella direzione XY e lo 0,08% nella direzione Z.Questi parametri di controllo precisi garantiscono una distorsione minima e un'alta fedeltà nell'immagine, che è essenziale per ottenere risultati di risoluzione atomica affidabili.

L'AFM supporta più modalità operative, ognuna su misura per specifiche esigenze di misurazione, tra cui la modalità di contatto, la modalità di tocco, la modalità di imaging di fase, la modalità di sollevamento e la modalità di scansione multidirezionale.La disponibilità di tali modalità consente una caratterizzazione dettagliata della superficie in varie condizioni e interazioni.Ad esempio, la modalità di contatto è ideale per misurare la topografia con elevata sensibilità, mentre la modalità di scarico riduce i danni ai campioni molli contattando intermittente la superficie.Modalità di imaging di fase consente il contrasto in base alle proprietà del materialeLa modalità di scansione multi-direzionale migliora ulteriormente le capacità dello strumento consentendo la scansione da diverse angolazioni.fornire dati completi sulle caratteristiche superficiali del campione.

La capacità di misurazione multi-modo è un vantaggio significativo di questo microscopio di forza atomica.comprese le aree topograficheQuesta versatilità rende l'AFM inestimabile nella ricerca sui semiconduttori.dove la comprensione delle caratteristiche superficiali e delle proprietà dei materiali su scala nanometrica può avere un impatto diretto sulle prestazioni del dispositivo e sui processi di produzione.

Fornendo immagini a risoluzione atomica, questo microscopio spinge i confini di ciò che può essere osservato e misurato.facilitare le scoperte rivoluzionarie nel campo della nanotecnologia e della scienza dei materialiI dati ad alta risoluzione acquisiti tramite questo AFM contribuiscono ai progressi nello sviluppo di dispositivi semiconduttori più piccoli, veloci ed efficienti, tra le altre applicazioni.

In sintesi, il Microscopio della Forza Atomica è uno strumento potente e flessibile che combina un'ampia gamma di scansioni, una precisione XYZ di scansioni a tre assi,e bassa non linearità per offrire prestazioni eccezionaliLe sue capacità di misurazione multi-modo e la sua compatibilità con campioni fino a 25 mm di diametro ne fanno uno strumento essenziale per la ricerca sui semiconduttori e altri campi della nanotecnologia.con un'immagine a risoluzione atomica e modalità operative multiple, questo AFM si distingue come una risorsa vitale per gli scienziati e gli ingegneri che si sforzano di esplorare e manipolare il mondo a nanoscala con una precisione senza precedenti.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Livello di rumore dell'asse Z: 0,04 Nm per misurazioni precise su nanoscala
• Velocità di scansione: regolabile da 0,1 Hz a 30 Hz per soddisfare varie esigenze di analisi
• Punti di campionamento dell'immagine: supporta la risoluzione da 32*32 fino a 4096*4096 per l'imaging dettagliato
• Misurazioni multifunzionali, tra cui:
  • Microscopio di forza elettrostatica (EFM)
  • Microscopio Kelvin di scansione (KPFM) che consente la microscopia avanzata di sonda di scansione Kelvin
  • Microscopio di forza piezoelettrica (PFM)
  • Microscopio di forza atomica capacitivo di scansione (SCM)
  • Microscopio a forza magnetica (MFM)
  • Microscopio di forza atomica conduttivo opzionale (C-AFM) per misurazioni elettriche su scala nanometrica
• Modalità di funzionamento: modalità di contatto, modalità di tocco, modalità di imaging di fase, modalità di sollevamento e modalità di scansione multidirezionale
• Ideale per l'analisi su nanoscala in varie applicazioni scientifiche e industriali

Parametri tecnici:

Questo microscopio di forza atomica è progettato per l'analisi a nanoscala e la misurazione elettrica a nanoscala, offrendo capacità di misurazione multi-modo per soddisfare diverse esigenze di ricerca e industriali.

Applicazioni:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), originario della Cina,è un AFM all-in-one all'avanguardia progettato per fornire prestazioni senza pari nella caratterizzazione superficiale su scala nanometricaLa sua versatilità e precisione lo rendono ideale per una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto, in particolare dove è essenziale una dettagliata imaging topografica.

Nei laboratori di ricerca e sviluppo, l'AtomEdge Pro funge da strumento vitale per la scienza dei materiali, consentendo agli scienziati di analizzare le strutture superficiali con una risoluzione eccezionale.Il metodo avanzato di scansione a campione completo a tre assi XYZ del dispositivo consente una mappatura topografica completa su un intervallo di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μmQuesta capacità supporta studi approfonditi di film sottili, nanostrutture e biomateriali,fornire informazioni critiche sulla morfologia della superficie e sulle proprietà meccaniche.

Anche il controllo della qualità industriale e la produzione di semiconduttori beneficiano notevolmente delle capacità dell'AtomEdge Pro.garantisce un'immagine dettagliata e accurata della topografia superficiale, che è essenziale per rilevare i difetti su scala nanometrica e garantire l'affidabilità del prodotto.- la fornitura di servizi per soddisfare gli standard rigorosi richiesti in queste industrie ad alta tecnologia.

Inoltre, il design All-in-One AFM dell'AtomEdge Pro semplifica il funzionamento e l'integrazione nei flussi di lavoro esistenti, rendendolo accessibile sia agli utenti esperti che a quelli nuovi alla tecnologia AFM.Gli istituti di istruzione sfruttano questa caratteristica per la formazione e la ricerca, fornendo agli studenti e ai ricercatori esperienze pratiche in imaging e analisi su scala nanometrica.

In sintesi, il microscopio AtomEdge Pro è perfettamente adatto per diverse applicazioni, tra cui ricerca scientifica avanzata, ispezione industriale,analisi dei semiconduttoriLe sue capacità di scansione complesse, la sua compatibilità con una varietà di dimensioni di campione,e la sua eccezionale risoluzione di imaging lo costituiscono una delle migliori soluzioni AFM all-in-one per l'imaging topografico dettagliato e l'analisi superficiale su scala nanometrica.