Pemindaian 3D 100μm×100μm Untuk Penelitian Ilmu Material Skala Nano

Deskripsi Produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen ilmiah mutakhir yang dirancang untuk memberikan pencitraan resolusi tinggi dan karakterisasi permukaan yang tepat pada skala nano. Mikroskop canggih ini dirancang untuk memenuhi persyaratan berbagai penelitian dan aplikasi industri, khususnya di bidang seperti semikonduktor, ilmu material, dan nanoteknologi. Dengan kemampuannya yang luar biasa untuk pengukuran multi-mode, AFM menawarkan keserbagunaan dan akurasi yang tak tertandingi, memungkinkan para peneliti mengeksplorasi properti permukaan dengan resolusi atom.

Salah satu fitur menonjol dari Mikroskop Gaya Atom ini adalah jangkauan pemindaiannya yang mengesankan yaitu 100 μm * 100 μm * 10 μm, yang memungkinkannya mengakomodasi berbagai macam sampel. Sistem ini kompatibel dengan sampel hingga diameter 25 mm, sehingga cocok untuk menganalisis spektrum material dan perangkat yang luas. Baik Anda menyelidiki wafer semikonduktor atau material nano baru, AFM ini memberikan fleksibilitas yang diperlukan untuk menangani beragam ukuran sampel secara efisien.

Ketepatan dalam penentuan posisi dan pergerakan sangat penting dalam mikroskop gaya atom, dan instrumen ini unggul dalam hal tersebut. Ini menggunakan pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, memastikan cakupan dan akurasi yang komprehensif selama pengukuran. Spesifikasi nonlinier sistem ini sangat rendah, dengan hanya 0,02% pada arah XY dan 0,08% pada arah Z. Parameter kontrol yang presisi ini menjamin distorsi minimal dan ketelitian tinggi dalam pencitraan, yang penting untuk mencapai hasil resolusi atom yang andal.

AFM mendukung beberapa mode pengoperasian, masing-masing disesuaikan dengan kebutuhan pengukuran tertentu. Ini termasuk Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, dan Mode Pemindaian Multi-Arah. Ketersediaan mode ini memungkinkan karakterisasi permukaan secara rinci dalam berbagai kondisi dan interaksi. Misalnya, Mode Kontak ideal untuk mengukur topografi dengan sensitivitas tinggi, sedangkan Mode Ketuk mengurangi kerusakan pada sampel lunak dengan menyentuh permukaan secara berkala. Mode Pencitraan Fase memungkinkan kontras berdasarkan sifat material, dan Mode Pengangkatan berguna untuk mikroskop gaya magnet atau listrik. Mode Pemindaian Multi-Arah semakin meningkatkan kemampuan instrumen dengan memungkinkan pemindaian dari berbagai sudut, memberikan data komprehensif tentang karakteristik permukaan sampel.

Kemampuan pengukuran multi-mode merupakan keuntungan signifikan dari Mikroskop Gaya Atom ini. Hal ini memberdayakan peneliti untuk memperoleh banyak informasi dari satu instrumen, termasuk sifat topografi, mekanik, listrik, dan magnetik. Fleksibilitas ini menjadikan AFM sangat berharga dalam penelitian semikonduktor, di mana pemahaman fitur permukaan skala nano dan sifat material dapat berdampak langsung pada kinerja perangkat dan proses manufaktur.

Dengan memberikan pencitraan resolusi atom, mikroskop ini mendorong batas-batas apa yang dapat diamati dan diukur. Hal ini memungkinkan para ilmuwan untuk memvisualisasikan atom individu dan struktur molekul, memfasilitasi penemuan inovatif dalam nanoteknologi dan ilmu material. Data resolusi tinggi yang diperoleh melalui AFM ini berkontribusi terhadap kemajuan dalam pengembangan perangkat semikonduktor yang lebih kecil, lebih cepat, dan lebih efisien, serta aplikasi lainnya.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom adalah alat yang kuat dan fleksibel yang menggabungkan rentang pemindaian yang luas, pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang presisi, dan nonlinier rendah untuk menghasilkan kinerja yang luar biasa. Kemampuan pengukuran multi-mode dan kompatibilitasnya dengan sampel berdiameter hingga 25 mm menjadikannya instrumen penting untuk penelitian semikonduktor dan bidang nanoteknologi lainnya. Dengan pencitraan resolusi atom dan berbagai mode pengoperasian, AFM ini menonjol sebagai sumber daya penting bagi para ilmuwan dan insinyur yang berupaya mengeksplorasi dan memanipulasi dunia skala nano dengan presisi yang belum pernah terjadi sebelumnya.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Tingkat Kebisingan Sumbu Z: 0,04 Nm untuk pengukuran skala nano yang presisi
• Kecepatan Pemindaian: Dapat disesuaikan dari 0,1 Hz hingga 30 Hz untuk memenuhi berbagai kebutuhan analisis
• Titik Pengambilan Sampel Gambar: Mendukung resolusi dari 32*32 hingga 4096*4096 untuk pencitraan detail
• Pengukuran Multifungsi termasuk:
  • Mikroskop Gaya Elektrostatis (EFM)
  • Scanning Kelvin Microscope (KPFM) memungkinkan Scanning Kelvin Probe Microscopy tingkat lanjut
  • Mikroskop Kekuatan Piezoelektrik (PFM)
  • Memindai Mikroskop Kekuatan Atom Kapasitif (SCM)
  • Mikroskop Gaya Magnetik (MFM)
  • Mikroskop Kekuatan Atom Konduktif opsional (C-AFM) untuk pengukuran listrik skala nano
• Mode Pengoperasian: Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, dan Mode Pemindaian Multi-Arah
• Ideal untuk Analisis Skala Nano dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri

Parameter Teknis:

Mikroskop Gaya Atom ini dirancang untuk Analisis Skala Nano dan pengukuran listrik skala Nano, menawarkan kemampuan Pengukuran Multi-Mode untuk memenuhi beragam kebutuhan penelitian dan industri.

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), yang berasal dari Tiongkok, adalah AFM All-in-One mutakhir yang dirancang untuk memberikan kinerja tak tertandingi dalam karakterisasi permukaan berskala nano. Keserbagunaan dan presisinya menjadikannya ideal untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk, terutama ketika pencitraan topografi terperinci sangat penting.

Di laboratorium penelitian dan pengembangan, AtomEdge Pro berfungsi sebagai alat penting untuk ilmu material, memungkinkan para ilmuwan menganalisis struktur permukaan dengan resolusi luar biasa. Metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang canggih pada perangkat memungkinkan pemetaan topografi komprehensif pada rentang pemindaian 100 μm * 100 μm * 10 μm, mengakomodasi ukuran sampel hingga diameter 25 mm. Kemampuan ini mendukung studi mendalam tentang film tipis, struktur nano, dan biomaterial, memberikan wawasan penting mengenai morfologi permukaan dan sifat mekanik.

Kontrol kualitas industri dan manufaktur semikonduktor juga mendapat manfaat besar dari kemampuan AtomEdge Pro. Kisaran titik pengambilan sampel gambarnya yang tinggi, dari 32*32 hingga 4096*4096, memastikan pencitraan topografi permukaan yang detail dan akurat, yang penting untuk mendeteksi cacat skala nano dan memastikan keandalan produk. Tingkat kebisingan sumbu Z yang rendah sebesar 0,04 nm semakin meningkatkan presisi pengukuran, memenuhi standar ketat yang diperlukan dalam industri teknologi tinggi ini.

Selain itu, desain AFM All-in-One pada AtomEdge Pro menyederhanakan pengoperasian dan integrasi ke dalam alur kerja yang ada, sehingga dapat diakses oleh pengguna ahli dan mereka yang baru mengenal teknologi AFM. Institusi pendidikan memanfaatkan fitur ini untuk pelatihan dan penelitian, memberikan siswa dan peneliti pengalaman langsung dalam pencitraan dan analisis skala nano.

Singkatnya, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope sangat cocok untuk beragam kesempatan aplikasi, termasuk penelitian ilmiah tingkat lanjut, inspeksi industri, analisis semikonduktor, dan tujuan pendidikan. Kemampuan pemindaiannya yang komprehensif, kompatibilitas dengan berbagai ukuran sampel, dan resolusi pencitraan yang luar biasa menjadikannya sebagai solusi AFM All-in-One utama untuk pencitraan topografi terperinci dan analisis permukaan skala nano.