ন্যানোস্কেল উপাদানগুলির জন্য 100μm × 100μm 3D স্ক্যানিং বিজ্ঞান গবেষণা
১০০ মাইক্রোমিটার থ্রিডি স্ক্যানিং পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ
,ন্যানোস্কেল উপকরণ বিজ্ঞান এএফএম
,গবেষণার জন্য উচ্চ রেজোলিউশনের 3D মাইক্রোস্কোপ
মৌলিক বৈশিষ্ট্য
পণ্য বিবরণ:
অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM) হল একটি অত্যাধুনিক বৈজ্ঞানিক যন্ত্র যা ন্যানোস্কেলে উচ্চ-রেজোলিউশন ইমেজিং এবং সুনির্দিষ্ট পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এই উন্নত অণুবীক্ষণ যন্ত্রটি বিভিন্ন গবেষণা এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনের চাহিদা মেটাতে ইঞ্জিনিয়ার করা হয়েছে, বিশেষ করে সেমিকন্ডাক্টর, পদার্থ বিজ্ঞান এবং ন্যানো প্রযুক্তির মতো ক্ষেত্রে। মাল্টি-মোড পরিমাপের জন্য তার ব্যতিক্রমী ক্ষমতা সহ, AFM অতুলনীয় বহুমুখিতা এবং নির্ভুলতা প্রদান করে, গবেষকদের পারমাণবিক রেজোলিউশনের সাথে পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি অন্বেষণ করতে সক্ষম করে।
এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপের একটি স্ট্যান্ডআউট বৈশিষ্ট্য হল এটির 100 μm * 100 μm * 10 μm এর চিত্তাকর্ষক স্ক্যানিং পরিসীমা, যা এটিকে বিভিন্ন ধরণের নমুনাগুলিকে মিটমাট করার অনুমতি দেয়। সিস্টেমটি 25 মিমি ব্যাস পর্যন্ত নমুনার সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, এটি উপকরণ এবং ডিভাইসের বিস্তৃত বর্ণালী বিশ্লেষণের জন্য উপযুক্ত করে তোলে। আপনি সেমিকন্ডাক্টর ওয়েফার বা নতুন ন্যানোম্যাটেরিয়ালগুলি তদন্ত করছেন কিনা, এই AFM বিভিন্ন নমুনা আকার দক্ষতার সাথে পরিচালনা করার জন্য প্রয়োজনীয় নমনীয়তা প্রদান করে।
পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপিতে অবস্থান এবং গতিবিধির নির্ভুলতা গুরুত্বপূর্ণ, এবং এই যন্ত্রটি সেই ক্ষেত্রে শ্রেষ্ঠ। এটি XYZ তিন-অক্ষের পূর্ণ-নমুনা স্ক্যানিং নিযুক্ত করে, পরিমাপের সময় ব্যাপক কভারেজ এবং নির্ভুলতা নিশ্চিত করে। সিস্টেমের অরৈখিকতার স্পেসিফিকেশনগুলি ব্যতিক্রমীভাবে কম, শুধুমাত্র XY দিক থেকে 0.02% এবং Z দিক থেকে 0.08%। এই সুনির্দিষ্ট নিয়ন্ত্রণ পরামিতিগুলি ইমেজিংয়ে ন্যূনতম বিকৃতি এবং উচ্চ বিশ্বস্ততার গ্যারান্টি দেয়, যা নির্ভরযোগ্য পারমাণবিক রেজোলিউশন ফলাফল অর্জনের জন্য অপরিহার্য।
AFM একাধিক অপারেটিং মোড সমর্থন করে, প্রতিটি নির্দিষ্ট পরিমাপের প্রয়োজন অনুসারে তৈরি। এর মধ্যে রয়েছে কন্টাক্ট মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড এবং মাল্টি-ডাইরেকশনাল স্ক্যানিং মোড। এই মোডগুলির প্রাপ্যতা বিভিন্ন অবস্থা এবং মিথস্ক্রিয়াগুলির অধীনে বিশদ পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যকে সক্ষম করে। উদাহরণস্বরূপ, যোগাযোগ মোড উচ্চ সংবেদনশীলতার সাথে টপোগ্রাফি পরিমাপের জন্য আদর্শ, যখন ট্যাপ মোড মাঝে মাঝে পৃষ্ঠের সাথে যোগাযোগ করে নরম নমুনার ক্ষতি কমায়। ফেজ ইমেজিং মোড উপাদান বৈশিষ্ট্যের উপর ভিত্তি করে বৈসাদৃশ্যের জন্য অনুমতি দেয় এবং লিফট মোড চৌম্বকীয় বা বৈদ্যুতিক শক্তি মাইক্রোস্কোপির জন্য উপযোগী। মাল্টি-ডাইরেকশনাল স্ক্যানিং মোড বিভিন্ন কোণ থেকে স্ক্যানিং সক্ষম করে, নমুনার পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য সম্পর্কে ব্যাপক তথ্য প্রদান করে যন্ত্রের ক্ষমতাকে আরও উন্নত করে।
মাল্টি-মোড পরিমাপ ক্ষমতা এই পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপের একটি উল্লেখযোগ্য সুবিধা। এটি গবেষকদের টপোগ্রাফিক্যাল, যান্ত্রিক, বৈদ্যুতিক এবং চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্য সহ একটি একক যন্ত্র থেকে প্রচুর তথ্য পাওয়ার ক্ষমতা দেয়। এই বহুমুখিতা অর্ধপরিবাহী গবেষণায় AFM কে অমূল্য করে তোলে, যেখানে ন্যানোস্কেল পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য এবং উপাদান বৈশিষ্ট্যগুলি বোঝা সরাসরি ডিভাইসের কার্যকারিতা এবং উত্পাদন প্রক্রিয়াগুলিকে প্রভাবিত করতে পারে।
পারমাণবিক রেজোলিউশন ইমেজিং প্রদান করে, এই অণুবীক্ষণ যন্ত্রটি কী পর্যবেক্ষণ এবং পরিমাপ করা যায় তার সীমানাকে ঠেলে দেয়। এটি বিজ্ঞানীদের পৃথক পরমাণু এবং আণবিক কাঠামো কল্পনা করতে দেয়, ন্যানো প্রযুক্তি এবং পদার্থ বিজ্ঞানে যুগান্তকারী আবিষ্কারগুলিকে সহজতর করে। এই AFM এর মাধ্যমে অর্জিত উচ্চ-রেজোলিউশন ডেটা অন্যান্য অ্যাপ্লিকেশনগুলির মধ্যে ছোট, দ্রুত, এবং আরও দক্ষ সেমিকন্ডাক্টর ডিভাইসগুলি বিকাশে অগ্রগতিতে অবদান রাখে।
সংক্ষেপে, অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ একটি শক্তিশালী এবং নমনীয় টুল যা একটি বিস্তৃত স্ক্যানিং পরিসীমা, সুনির্দিষ্ট XYZ তিন-অক্ষের পূর্ণ-নমুনা স্ক্যানিং, এবং অসামান্য কর্মক্ষমতা প্রদানের জন্য কম অরৈখিকতাকে একত্রিত করে। এর মাল্টি-মোড পরিমাপের ক্ষমতা এবং 25 মিমি ব্যাস পর্যন্ত নমুনার সাথে সামঞ্জস্যতা এটিকে সেমিকন্ডাক্টর গবেষণা এবং অন্যান্য ন্যানো প্রযুক্তি ক্ষেত্রের জন্য একটি অপরিহার্য উপকরণ করে তোলে। পারমাণবিক রেজোলিউশন ইমেজিং এবং একাধিক অপারেটিং মোড সহ, এই AFM অভূতপূর্ব নির্ভুলতার সাথে ন্যানোস্কেল বিশ্বের অন্বেষণ এবং ম্যানিপুলেট করার জন্য বিজ্ঞানী এবং প্রকৌশলীদের জন্য একটি গুরুত্বপূর্ণ সংস্থান হিসাবে দাঁড়িয়েছে।
বৈশিষ্ট্য:
- পণ্যের নাম: অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
- Z-অক্ষ নয়েজ লেভেল: সুনির্দিষ্ট ন্যানোস্কেল পরিমাপের জন্য 0.04 Nm
- স্ক্যানিং রেট: বিভিন্ন বিশ্লেষণের প্রয়োজন অনুসারে 0.1 Hz থেকে 30 Hz পর্যন্ত সামঞ্জস্যযোগ্য
- ইমেজ স্যাম্পলিং পয়েন্ট: বিস্তারিত ইমেজিংয়ের জন্য 32*32 থেকে 4096*4096 পর্যন্ত রেজোলিউশন সমর্থন করে
- বহুমুখী পরিমাপ সহ:
- ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (EFM)
- স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (KPFM) উন্নত স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব মাইক্রোস্কোপি সক্ষম করে
- পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (PFM)
- স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (SCM)
- ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (MFM)
- ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক পরিমাপের জন্য ঐচ্ছিক পরিবাহী পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (C-AFM)
- অপারেটিং মোড: যোগাযোগ মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফ্ট মোড এবং মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড
- বিভিন্ন বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনে ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের জন্য আদর্শ
প্রযুক্তিগত পরামিতি:
| ইমেজ স্যাম্পলিং পয়েন্ট | 32*32 - 4096*4096 |
| স্ক্যানিং পদ্ধতি | XYZ তিন-অক্ষ সম্পূর্ণ-নমুনা স্ক্যানিং |
| Z-অক্ষ নয়েজ লেভেল | 0.04 Nm |
| নমুনা আকার | 25 মিমি ব্যাস সহ নমুনার সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ |
| অপারেটিং মোড | যোগাযোগ মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড, মাল্টি-ডিরেকশনাল স্ক্যানিং মোড |
| স্ক্যানিং পরিসীমা | 100 μm * 100 μm * 10 μm |
| অরৈখিকতা | XY দিকনির্দেশ: 0.02%; জেড দিক: 0.08% |
| স্ক্যানিং কোণ | 0~360° |
| বহুমুখী পরিমাপ | ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পাইজোইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (পিএফএম), স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এসসিএম), ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম); ঐচ্ছিক: পরিবাহী পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (C-AFM) |
| স্ক্যানিং রেট | 0.1 Hz - 30 Hz |
এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণ এবং ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক পরিমাপের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে, যা বিভিন্ন গবেষণা এবং শিল্প চাহিদা মেটাতে মাল্টি-মোড পরিমাপের ক্ষমতা প্রদান করে।
অ্যাপ্লিকেশন:
ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (AFM), চীন থেকে উদ্ভূত, একটি অত্যাধুনিক অল-ইন-ওয়ান AFM যা ন্যানোস্কেল সারফেস ক্যারেক্টারাইজেশনে অতুলনীয় কর্মক্ষমতা প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এর বহুমুখিতা এবং নির্ভুলতা এটিকে বিস্তৃত পণ্য প্রয়োগের অনুষ্ঠান এবং পরিস্থিতির জন্য আদর্শ করে তোলে, বিশেষ করে যেখানে বিশদ টপোগ্রাফি ইমেজিং অপরিহার্য।
গবেষণা ও উন্নয়ন পরীক্ষাগারগুলিতে, AtomEdge Pro পদার্থ বিজ্ঞানের জন্য একটি গুরুত্বপূর্ণ হাতিয়ার হিসাবে কাজ করে, যা বিজ্ঞানীদের ব্যতিক্রমী রেজোলিউশনের সাথে পৃষ্ঠের কাঠামো বিশ্লেষণ করতে সক্ষম করে। ডিভাইসের উন্নত XYZ তিন-অক্ষের পূর্ণ-নমুনা স্ক্যানিং পদ্ধতিটি 100 μm * 100 μm * 10 μm এর স্ক্যানিং পরিসীমা জুড়ে বিস্তৃত টপোগ্রাফিক্যাল ম্যাপিংয়ের অনুমতি দেয়, 25 মিমি ব্যাস পর্যন্ত নমুনার আকারগুলিকে মিটমাট করে। এই ক্ষমতাটি পাতলা ফিল্ম, ন্যানোস্ট্রাকচার এবং জৈব উপাদানগুলির গভীরভাবে অধ্যয়নকে সমর্থন করে, যা পৃষ্ঠের রূপবিদ্যা এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলিতে সমালোচনামূলক অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।
শিল্প মান নিয়ন্ত্রণ এবং সেমিকন্ডাক্টর উত্পাদন এছাড়াও AtomEdge Pro এর ক্ষমতাগুলি থেকে ব্যাপকভাবে উপকৃত হয়৷ এর উচ্চ ইমেজ স্যাম্পলিং পয়েন্ট রেঞ্জ, 32*32 থেকে 4096*4096 পর্যন্ত, বিশদ এবং সঠিক সারফেস টপোগ্রাফি ইমেজিং নিশ্চিত করে, যা ন্যানোস্কেল ত্রুটি সনাক্তকরণ এবং পণ্যের নির্ভরযোগ্যতা নিশ্চিত করার জন্য অপরিহার্য। 0.04 এনএম-এর নিম্ন Z-অক্ষের শব্দের মাত্রা এই উচ্চ-প্রযুক্তি শিল্পগুলিতে প্রয়োজনীয় কঠোর মান পূরণ করে পরিমাপের নির্ভুলতাকে আরও বাড়িয়ে তোলে।
তাছাড়া, AtomEdge Pro-এর অল-ইন-ওয়ান AFM ডিজাইন বিদ্যমান ওয়ার্কফ্লোতে অপারেশন এবং ইন্টিগ্রেশনকে সহজ করে, যা বিশেষজ্ঞ ব্যবহারকারী এবং AFM প্রযুক্তিতে নতুন যারা উভয়ের জন্যই এটি অ্যাক্সেসযোগ্য করে তোলে। শিক্ষা প্রতিষ্ঠানগুলি প্রশিক্ষণ এবং গবেষণার জন্য এই বৈশিষ্ট্যটি ব্যবহার করে, ন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং বিশ্লেষণে শিক্ষার্থীদের এবং গবেষকদের হাতে-কলমে অভিজ্ঞতা প্রদান করে।
সংক্ষেপে, ট্রুথ ইনস্ট্রুমেন্টস অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ উন্নত বৈজ্ঞানিক গবেষণা, শিল্প পরিদর্শন, সেমিকন্ডাক্টর বিশ্লেষণ এবং শিক্ষামূলক উদ্দেশ্যে সহ বিভিন্ন অ্যাপ্লিকেশনের জন্য পুরোপুরি উপযুক্ত। এর ব্যাপক স্ক্যানিং ক্ষমতা, বিভিন্ন নমুনার আকারের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণতা এবং ব্যতিক্রমী ইমেজিং রেজোলিউশন এটিকে বিশদ টপোগ্রাফি ইমেজিং এবং ন্যানোস্কেল পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য একটি প্রিমিয়ার অল-ইন-ওয়ান AFM সমাধান হিসাবে প্রতিষ্ঠিত করে।