100μm × 100μm 3D σάρωση για νανοκλίμακα υλικών Επιστημονική έρευνα

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι ένα προηγμένο επιστημονικό όργανο που έχει σχεδιαστεί για να παρέχει απεικόνιση υψηλής ανάλυσης και ακριβή χαρακτηριστική επιφάνειας σε νανοκλίμακα.Αυτό το προηγμένο μικροσκόπιο έχει σχεδιαστεί για να ανταποκρίνεται στις απαιτητικές απαιτήσεις διαφόρων ερευνητικών και βιομηχανικών εφαρμογώνΜε την εξαιρετική ικανότητά του για πολλαπλές μετρήσεις, η τεχνολογία τηςτο AFM προσφέρει απαράμιλλη ευελιξία και ακρίβεια, επιτρέποντας στους ερευνητές να διερευνήσουν τις ιδιότητες της επιφάνειας με ατομική ανάλυση.

Ένα από τα σημαντικότερα χαρακτηριστικά αυτού του μικροσκόπου ατομικής δύναμης είναι το εντυπωσιακό εύρος σάρωσης 100 μm * 100 μm * 10 μm, το οποίο του επιτρέπει να φιλοξενεί ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων.Το σύστημα είναι συμβατό με δείγματα με διάμετρο έως 25 mm., καθιστώντας το κατάλληλο για την ανάλυση ενός ευρέος φάσματος υλικών και συσκευών.το παρόν AFM παρέχει την απαραίτητη ευελιξία για την αποτελεσματική διαχείριση διαφόρων μεγεθών δειγμάτων.

Η ακρίβεια στην τοποθέτηση και την κίνηση είναι κρίσιμη στη μικροσκόπηση ατομικής δύναμης, και αυτό το όργανο ξεχωρίζει σε αυτό.διασφάλιση ολοκληρωμένης κάλυψης και ακρίβειας κατά τη διάρκεια των μετρήσεωνΟι προδιαγραφές μη γραμμικότητας του συστήματος είναι εξαιρετικά χαμηλές, με μόλις 0,02% στην κατεύθυνση XY και 0,08% στην κατεύθυνση Z.Αυτές οι ακριβείς παραμέτρους ελέγχου εγγυώνται ελάχιστη στρέβλωση και υψηλή πιστότητα στην απεικόνιση, η οποία είναι απαραίτητη για την επίτευξη αξιόπιστων αποτελεσμάτων ατομικής ανάλυσης.

Το AFM υποστηρίζει πολλαπλές λειτουργικές λειτουργίες, κάθε μία προσαρμοσμένη σε συγκεκριμένες ανάγκες μέτρησης.Η διαθεσιμότητα αυτών των τρόπων επιτρέπει λεπτομερή χαρακτηρισμό της επιφάνειας υπό διάφορες συνθήκες και αλληλεπιδράσεις.Για παράδειγμα, η λειτουργία επαφής είναι ιδανική για τη μέτρηση της τοπογραφίας με υψηλή ευαισθησία, ενώ η λειτουργία χτύπησης μειώνει τη ζημιά στα μαλακά δείγματα με διαλείπουσα επαφή με την επιφάνεια.Η λειτουργία απεικόνισης φάσης επιτρέπει την αντίθεση με βάση τις ιδιότητες του υλικούΗ πολλαπλής κατεύθυνσης λειτουργία σάρωσης ενισχύει περαιτέρω την ικανότητα του οργάνου, επιτρέποντας τη σάρωση από διαφορετικές γωνίες,παροχή ολοκληρωμένων δεδομένων σχετικά με τα χαρακτηριστικά της επιφάνειας του δείγματος.

Η δυνατότητα πολλαπλών μετρήσεων είναι ένα σημαντικό πλεονέκτημα αυτού του μικροσκόπου ατομικής δύναμης.συμπεριλαμβανομένων των τοπογραφικώνΑυτή η ευελιξία καθιστά το AFM ανεκτίμητο στην έρευνα των ημιαγωγών.όπου η κατανόηση των χαρακτηριστικών της επιφάνειας σε νανοκλίμακα και των ιδιοτήτων των υλικών μπορεί να επηρεάσει άμεσα τις επιδόσεις των συσκευών και τις διαδικασίες κατασκευής.

Παρέχοντας απεικόνιση ατομικής ανάλυσης, αυτό το μικροσκόπιο σπρώχνει τα όρια αυτού που μπορεί να παρατηρηθεί και να μετρηθεί.διευκόλυνση των πρωτοποριακών ανακαλύψεων στη νανοτεχνολογία και την επιστήμη των υλικώνΤα δεδομένα υψηλής ανάλυσης που συλλέγονται μέσω του AFM συμβάλλουν στην πρόοδο στην ανάπτυξη μικρότερων, ταχύτερων και αποτελεσματικότερων συσκευών ημιαγωγών, μεταξύ άλλων εφαρμογών.

Συνοπτικά, το μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης είναι ένα ισχυρό και ευέλικτο εργαλείο που συνδυάζει ένα ευρύ φάσμα σαρώσεων, ακριβή XYZ τριών άξων πλήρη σαρώσεις δείγματος,και χαμηλή μη γραμμικότητα για την παροχή εξαιρετικών επιδόσεωνΟι δυνατότητες πολλαπλών τρόπων μέτρησης και η συμβατότητα με δείγματα μέχρι 25 mm σε διάμετρο το καθιστούν απαραίτητο όργανο για την έρευνα των ημιαγωγών και άλλους τομείς της νανοτεχνολογίας.Με απεικόνιση ατομικής ανάλυσης και πολλαπλές λειτουργικές λειτουργίες, αυτό το AFM ξεχωρίζει ως ένας ζωτικής σημασίας πόρος για τους επιστήμονες και τους μηχανικούς που προσπαθούν να εξερευνήσουν και να χειριστούν τον κόσμο της νανοκλίμακας με πρωτοφανή ακρίβεια.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
• Επίπεδο θορύβου στον άξονα Z: 0,04 Nm για ακριβείς μετρήσεις σε νανοκλίμακα
• Ταχύτητα σάρωσης: ρυθμιζόμενη από 0,1 Hz έως 30 Hz για να ταιριάζει σε διάφορες ανάγκες ανάλυσης
• Σημεία δειγματοληψίας εικόνας: Υποστηρίζει την ανάλυση από 32*32 έως 4096*4096 για λεπτομερή απεικόνιση
• Πολυλειτουργικές μετρήσεις που περιλαμβάνουν:
  • Ηλεκτροστατικό μικροσκόπιο δύναμης (EFM)
  • Μικροσκόπιο σάρωσης Κέλβιν (KPFM) που επιτρέπει την προηγμένη μικροσκόπηση σάρωσης Κέλβιν
  • Μικροσκόπιο πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM)
  • Μικροσκόπιο χωρητικής ατομικής δύναμης σάρωσης (SCM)
  • Μικροσκόπιο μαγνητικής δύναμης (MFM)
  • Προαιρετικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (C-AFM) για ηλεκτρικές μετρήσεις σε νανοκλίμακα
• Τρόποι λειτουργίας: Τρόπος επαφής, Τρόπος πάτημα, Τρόπος απεικόνισης φάσης, Τρόπος ανύψωσης και Τρόπος πολλαπλής κατεύθυνσης σάρωσης
• Ιδανικό για ανάλυση σε νανοκλίμακα σε διάφορες επιστημονικές και βιομηχανικές εφαρμογές

Τεχνικές παραμέτρους:

Αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης έχει σχεδιαστεί για ανάλυση σε νανοκλίμακα και ηλεκτρική μέτρηση σε νανοκλίμακα, προσφέροντας δυνατότητες πολλαπλών μετρήσεων για την κάλυψη διαφόρων ερευνητικών και βιομηχανικών αναγκών.

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), καταγωγής Κίνας,είναι ένα προηγμένο All-in-One AFM που έχει σχεδιαστεί για να προσφέρει απαράμιλλη απόδοση στην χαρακτηριστική επιφάνειας σε νανοκλίμακαΗ ευελιξία και η ακρίβεια του το καθιστούν ιδανικό για ένα ευρύ φάσμα περιπτώσεων και σεναρίων εφαρμογής προϊόντων, ειδικά όπου είναι απαραίτητη η λεπτομερή απεικόνιση της τοπογραφίας.

Στα εργαστήρια έρευνας και ανάπτυξης, το AtomEdge Pro χρησιμεύει ως ζωτικής σημασίας εργαλείο για την επιστήμη των υλικών, επιτρέποντας στους επιστήμονες να αναλύουν τις δομές της επιφάνειας με εξαιρετική ανάλυση.Η προηγμένη μέθοδος σάρωσης πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ της συσκευής επιτρέπει ολοκληρωμένη τοπογραφική χαρτογράφηση σε ένα εύρος σάρωσης 100 μm * 100 μm * 10 μmΗ δυνατότητα αυτή υποστηρίζει σε βάθος μελέτες λεπτών ταινιών, νανοδομών και βιοϋλικών,παρέχοντας κρίσιμες γνώσεις για τη μορφολογία της επιφάνειας και τις μηχανικές ιδιότητες.

Ο βιομηχανικός έλεγχος ποιότητας και η κατασκευή ημιαγωγών επωφελούνται επίσης σημαντικά από τις δυνατότητες του AtomEdge Pro.εξασφαλίζει λεπτομερή και ακριβή απεικόνιση της τοπογραφίας της επιφάνειαςΤο χαμηλό επίπεδο θορύβου στον άξονα Z των 0,04 nm βελτιώνει περαιτέρω την ακρίβεια των μετρήσεων,Υπηρεσία σε αυστηρά πρότυπα που απαιτούνται σε αυτές τις βιομηχανίες υψηλής τεχνολογίας.

Επιπλέον, ο σχεδιασμός All-in-One AFM του AtomEdge Pro απλοποιεί τη λειτουργία και την ενσωμάτωση σε υπάρχουσες ροές εργασίας, καθιστώντας τον προσβάσιμο τόσο για εμπειρογνώμονες χρήστες όσο και για τους νέους στην τεχνολογία AFM.Τα εκπαιδευτικά ιδρύματα αξιοποιούν αυτό το χαρακτηριστικό για την κατάρτιση και την έρευνα, παρέχοντας στους φοιτητές και τους ερευνητές πρακτική εμπειρία στην απεικόνιση και την ανάλυση σε νανοκλίμακα.

Συνοπτικά, το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope είναι ιδανικό για διάφορες εφαρμογές, όπως προηγμένη επιστημονική έρευνα, βιομηχανική επιθεώρηση,ανάλυση ημιαγωγώνΟι ευρείες δυνατότητες σάρωσης, η συμβατότητα με διάφορα μεγέθη δειγμάτων,και εξαιρετική ανάλυση εικόνας το καθιστούν μια κορυφαία λύση AFM All-in-One για λεπτομερή απεικόνιση τοπογραφίας και ανάλυση επιφάνειας σε νανοκλίμακα.