logo

Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης

Ποιότητα Πολυλειτουργικό Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων Χαμηλού Θορύβου, Μικροσκόπιο Υλικών με Λειτουργίες MFM, EFM, PFM εργοστάσιο

Πολυλειτουργικό Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων Χαμηλού Θορύβου, Μικροσκόπιο Υλικών με Λειτουργίες MFM, EFM, PFM

Multi Functional Atomic Force Microscope With MFM EFM PFM Modes Product Description: One of the key features of the AFM is its low noise levels in both the Z direction and XY direction, ensuring accurate and reliable measurements. The noise level in the Z direction is an impressive 0.04 Nm, providing exceptional sensitivity for capturing subtle surface variations and interactions. In the XY direction, the noise level is maintained at 0.4 Nm, further enhancing the precision of

Πολυλειτουργικό Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων Χαμηλού Θορύβου, Μικροσκόπιο Υλικών με Λειτουργίες MFM, EFM, PFM

Ποιότητα Μικροσκόπιο AFM υψηλής σταθερότητας 0.1 Hz - 30 Hz Συστήματα AFM για υλικά Βιολογία και Ηλεκτρονική απεικόνιση εργοστάσιο

Μικροσκόπιο AFM υψηλής σταθερότητας 0.1 Hz - 30 Hz Συστήματα AFM για υλικά Βιολογία και Ηλεκτρονική απεικόνιση

High Stability AFM For Materials Biology And Electronics Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge scientific instrument that offers high-resolution imaging and precise measurements for a wide range of applications in nanotechnology, material science, and biological research. This advanced microscope utilizes XYZ Three-axis Full Sample Scanning method, allowing for detailed analysis of samples with exceptional accuracy. One of the key features

Μικροσκόπιο AFM υψηλής σταθερότητας 0.1 Hz - 30 Hz Συστήματα AFM για υλικά Βιολογία και Ηλεκτρονική απεικόνιση

Ποιότητα Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.1 Hz - 30 Hz, 0.04 Nm Μικροσκόπιο Υψηλής Ακρίβειας με Πολλαπλές Λειτουργίες εργοστάσιο

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.1 Hz - 30 Hz, 0.04 Nm Μικροσκόπιο Υψηλής Ακρίβειας με Πολλαπλές Λειτουργίες

Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.1 Hz - 30 Hz, 0.04 Nm Μικροσκόπιο Υψηλής Ακρίβειας με Πολλαπλές Λειτουργίες

Δείτε περισσότερων

Μικροσκόπιο Kerr

Ποιότητα Προηγμένο μικροσκόπιο Κερ υψηλής ανάλυσης μικροσκόπιο για μικρομαγνητική και απεικόνιση τομέα εργοστάσιο

Προηγμένο μικροσκόπιο Κερ υψηλής ανάλυσης μικροσκόπιο για μικρομαγνητική και απεικόνιση τομέα

Advanced Kerr Microscope For Micromagnetics And Domain Imaging Product Description: The Permanent Magnet Kerr Microscope is a cutting-edge tool designed for advanced micromagnetics research, offering high-resolution imaging capabilities for in-depth studies. This innovative microscope features PID closed-loop feedback regulation for precise magnetic field resolution, with an impressive resolution of 0.05 MT. Equipped with an in-plane magnetic field configuration, this

Προηγμένο μικροσκόπιο Κερ υψηλής ανάλυσης μικροσκόπιο για μικρομαγνητική και απεικόνιση τομέα

Ποιότητα Δοκιμαστής βρόχων υστερέζης σε κλίμακα κυψελών για μη επακτική μαγνητική μετρολογία εργοστάσιο

Δοκιμαστής βρόχων υστερέζης σε κλίμακα κυψελών για μη επακτική μαγνητική μετρολογία

Wafer Scale Hysteresis Tracer For Non Contact Magnetic Metrology Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for precise and efficient characterization of magnetic properties at the wafer level. This instrument is essential for industries requiring accurate and reliable measurements for quality control and research purposes. One of the key features of this product is its exceptional Sample Repeatability, which is

Δοκιμαστής βρόχων υστερέζης σε κλίμακα κυψελών για μη επακτική μαγνητική μετρολογία

Ποιότητα Μικροσκόπιο Kerr Υψηλού Μαγνητικού Πεδίου Σύστημα MOKE Υψηλής Ευαισθησίας Για Μελέτη Ασθενούς Μαγνητισμού Και 2D Υλικών εργοστάσιο

Μικροσκόπιο Kerr Υψηλού Μαγνητικού Πεδίου Σύστημα MOKE Υψηλής Ευαισθησίας Για Μελέτη Ασθενούς Μαγνητισμού Και 2D Υλικών

High Sensitivity MOKE For Weak Magnetism And 2D Material Study Product Description: With a variable temperature range spanning from 4.2 K to 420 K, researchers have the flexibility to study a wide range of materials under different thermal conditions. This broad temperature range is ideal for investigating the properties of weak magnetic materials at low temperatures, providing valuable insights into their behavior and magnetic responses. One of the key features of this

Μικροσκόπιο Kerr Υψηλού Μαγνητικού Πεδίου Σύστημα MOKE Υψηλής Ευαισθησίας Για Μελέτη Ασθενούς Μαγνητισμού Και 2D Υλικών

Δείτε περισσότερων

Δονητικό μαγνητόμετρο δείγματος

Ποιότητα Υψηλής Ταχύτητας Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Ευέλικτο Σύστημα Μέτρησης Μαγνητικών Ιδιοτήτων εργοστάσιο

Υψηλής Ταχύτητας Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Ευέλικτο Σύστημα Μέτρησης Μαγνητικών Ιδιοτήτων

VSM For Thin Film ,Nanoparticle And Powder Magnetic Characterization Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer (VSM) is a cutting-edge magnetic property measurement system that offers precise and reliable magnetic moment measurements. With exceptional repeatability of ±0.5% and stability of ±0.05% full range, this VSM ensures accurate and consistent results for your magnetic material analysis. Equipped with advanced magnetic field parameters, the VSM can generate

Υψηλής Ταχύτητας Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Ευέλικτο Σύστημα Μέτρησης Μαγνητικών Ιδιοτήτων

Ποιότητα Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Υψηλής Ευαισθησίας Ευρέος Εύρους Θερμοκρασίας VSM Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών εργοστάσιο

Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Υψηλής Ευαισθησίας Ευρέος Εύρους Θερμοκρασίας VSM Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών

VSM With Wide Temperature Range For Advanced Material Research Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer features a sweep field speed of 0.5 T/second, allowing for efficient and rapid data collection. With a sample holder rotation range of ±360-degree electric rotation, this instrument offers flexibility and ease of use for various experimental setups. Equipped with impressive magnetic field parameters, the Vibrating Sample Magnetometer boasts a magnetic field

Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος Υψηλής Ευαισθησίας Ευρέος Εύρους Θερμοκρασίας VSM Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών

Ποιότητα Σύστημα μέτρησης ακριβών μαγνητικών ιδιοτήτων υψηλής ευαισθησίας VSM εργοστάσιο

Σύστημα μέτρησης ακριβών μαγνητικών ιδιοτήτων υψηλής ευαισθησίας VSM

High Sensitivity VSM For Accurate Magnetic Property Measurements Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer (VSM) is a cutting-edge Magnetic Characterization System that offers precise and automated measurement capabilities for analyzing magnetic properties of various materials. This advanced instrument is equipped with multiple features that make it a valuable tool for research and industrial applications. One of the key features of the VSM is its Sample Holder

Σύστημα μέτρησης ακριβών μαγνητικών ιδιοτήτων υψηλής ευαισθησίας VSM

Δείτε περισσότερων

Magneto Optical Cryostat

Ποιότητα Ψυχροστάτη υψηλού πεδίου οπτικής ακτινοβολίας 1.7 K - 350 K Περιοχή θερμοκρασίας MO Cryo με πολλαπλή οπτική πρόσβαση εργοστάσιο

Ψυχροστάτη υψηλού πεδίου οπτικής ακτινοβολίας 1.7 K - 350 K Περιοχή θερμοκρασίας MO Cryo με πολλαπλή οπτική πρόσβαση

High Field Optical Cryostat With Multi Directional Optical Access Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a cutting-edge research tool designed for precise measurements in the fields of 2D Materials, High Magnetic Field, and Magneto optical measurements. This innovative cryostat offers exceptional performance and versatility, making it ideal for a wide range of experimental setups. Featuring 16 DC Lines and 4 20 GHz RF Lines, the Magneto Optical Cryostat provides

Ψυχροστάτη υψηλού πεδίου οπτικής ακτινοβολίας 1.7 K - 350 K Περιοχή θερμοκρασίας MO Cryo με πολλαπλή οπτική πρόσβαση

Ποιότητα Κρυοστάτης Μαγνητο-Οπτικής Ψύξης Ταχείας Ψύξης 1 Top Window MO Cryostat Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών εργοστάσιο

Κρυοστάτης Μαγνητο-Οπτικής Ψύξης Ταχείας Ψύξης 1 Top Window MO Cryostat Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών

Fast Cooldown MO-Cryostat for Advanced Material Research Product Description: The Ultra-Low-Temperature Superconducting-Magnet Integrated Optical Property Measurement Cryostat is a cutting-edge system designed for researchers working with quantum materials and conducting cryogenic microscopy experiments. This advanced cryostat offers precise control over temperature stability, sample space, magnetic field strength, and optical windows, making it an ideal solution for a wide

Κρυοστάτης Μαγνητο-Οπτικής Ψύξης Ταχείας Ψύξης 1 Top Window MO Cryostat Για Έρευνα Προηγμένων Υλικών

Ποιότητα 1 Κρυοστάτης οπτικού μαγνητικού κρυοστάτη με μαγνήτη υπεραγωγιμότητας και οπτική πρόσβαση χαμηλών κραδασμών εργοστάσιο

1 Κρυοστάτης οπτικού μαγνητικού κρυοστάτη με μαγνήτη υπεραγωγιμότητας και οπτική πρόσβαση χαμηλών κραδασμών

Superconducting Magnet Cryostats with Low Vibration Optical Access Product Description: The Ultra-Low-Temperature Superconducting-Magnet Integrated Optical Property Measurement Cryostat is a cutting-edge system designed to provide precise and reliable measurements in the field of magneto optical measurements and Raman spectroscopy. This advanced cryostat offers a wide temperature range from 1.7 K to 350 K, making it ideal for a variety of research applications requiring

1 Κρυοστάτης οπτικού μαγνητικού κρυοστάτη με μαγνήτη υπεραγωγιμότητας και οπτική πρόσβαση χαμηλών κραδασμών

Δείτε περισσότερων

Κρυογονικός σταθμός ανίχνευσης

Ποιότητα Ακριβής Κρυογενής Σταθμός Έρευνας Πολυδιάστατος Οπτικός Σταθμός Έρευνας Για IV CV Μικροκύματα Και Οπτικές Δοκιμές εργοστάσιο

Ακριβής Κρυογενής Σταθμός Έρευνας Πολυδιάστατος Οπτικός Σταθμός Έρευνας Για IV CV Μικροκύματα Και Οπτικές Δοκιμές

Cryogenic Probe Station For IV CV Microwave And Optical Testing Product Description: Introducing our cutting-edge Cryogenic Probe Station, a revolutionary solution designed for precise and efficient testing in a wide range of applications. This advanced system offers unparalleled performance and versatility, making it an ideal choice for researchers and engineers seeking a cost-effective and reliable testing solution. The Cryogenic Probe Station features a Probe Arm Stroke of

Ακριβής Κρυογενής Σταθμός Έρευνας Πολυδιάστατος Οπτικός Σταθμός Έρευνας Για IV CV Μικροκύματα Και Οπτικές Δοκιμές

Ποιότητα Σταθμός ανίχνευσης ημιαγωγών κλειστού βρόχου 4K Σταθμός ανίχνευσης κυψελών κενού για δοκιμές κυψελών 2 ίντσες εργοστάσιο

Σταθμός ανίχνευσης ημιαγωγών κλειστού βρόχου 4K Σταθμός ανίχνευσης κυψελών κενού για δοκιμές κυψελών 2 ίντσες

4K Closed Loop Cryogenic Probe Station For 2 Inch Wafer Testing Product Description: The Cryogenic Probe Station is an essential tool for researchers and scientists working in the field of low-temperature measurements. This advanced equipment is designed to provide precise control over the thermal environment during experiments, ensuring accurate and reliable results. With its innovative features and high-performance capabilities, the Cryogenic Probe Station is ideal for a

Σταθμός ανίχνευσης ημιαγωγών κλειστού βρόχου 4K Σταθμός ανίχνευσης κυψελών κενού για δοκιμές κυψελών 2 ίντσες

Ποιότητα Αυτόματος Σταθμός Δοκιμών Ηλεκτρικών Δοκιμών Κρυογονικής Ανίχνευσης κενού εργοστάσιο

Αυτόματος Σταθμός Δοκιμών Ηλεκτρικών Δοκιμών Κρυογονικής Ανίχνευσης κενού

Cost Effective Cryo Probe Station For Automated Electrical Testing Product Description: The Cryogenic Probe Station is an essential tool for cryogenic device characterization, providing a cost-effective solution for researchers and engineers in various industries. This closed-cycle probe station offers precise control and stability for conducting experiments at low temperatures. Key Features: Vacuum: The Cryogenic Probe Station boasts a low-temperature vacuum level of

Αυτόματος Σταθμός Δοκιμών Ηλεκτρικών Δοκιμών Κρυογονικής Ανίχνευσης κενού

Δείτε περισσότερων

Δοκιμαστής MRAM

Ποιότητα Δοκιμαστής Μαγνητικών Τσιπ Tri Temp Precision Final Tester για Επαλήθευση Υψηλής Αξιοπιστίας εργοστάσιο

Δοκιμαστής Μαγνητικών Τσιπ Tri Temp Precision Final Tester για Επαλήθευση Υψηλής Αξιοπιστίας

Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the cutting-edge Magnetic Chip Final Test Machine, the ultimate solution for ATE for Magnetic Chips. This innovative product is designed to meet the demanding requirements of testing magnetic chips with precision and accuracy. The Socket Test Seat of the Magnetic Chip Final Test Machine is engineered to withstand extreme temperatures ranging from -60°C to 170°C, ensuring reliable

Δοκιμαστής Μαγνητικών Τσιπ Tri Temp Precision Final Tester για Επαλήθευση Υψηλής Αξιοπιστίας

Ποιότητα Αυτόματο Τελικό Σύστημα Δοκιμών Precision MRAM Tester για Γραμμές Παραγωγής Μαγνητικών Τσιπ εργοστάσιο

Αυτόματο Τελικό Σύστημα Δοκιμών Precision MRAM Tester για Γραμμές Παραγωγής Μαγνητικών Τσιπ

Automated Final Test System For Magnetic Chip Production Lines Product Description: Excitation System1: One of the key features of this magnetic chip final test machine is the excitation system's capability to generate a maximum magnetic field intensity of ±2000 Oe along the X-axis. This high magnetic field intensity ensures thorough testing of magnetic chips for a wide range of applications. Excitation System3: Another remarkable attribute of this MRAM tester is the

Αυτόματο Τελικό Σύστημα Δοκιμών Precision MRAM Tester για Γραμμές Παραγωγής Μαγνητικών Τσιπ

Ποιότητα Δοκιμαστής τρισδιάστατου μαγνητικού τσιπ Πολυδιάστατος τελικός δοκιμαστής για επαλήθευση υψηλής αξιοπιστίας εργοστάσιο

Δοκιμαστής τρισδιάστατου μαγνητικού τσιπ Πολυδιάστατος τελικός δοκιμαστής για επαλήθευση υψηλής αξιοπιστίας

Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the Magnetic Chip Final Test Machine, a cutting-edge product designed for non-destructive testing in the semiconductor industry. This advanced MRAM tester is equipped with state-of-the-art features to ensure accurate and reliable testing results. The Electric Displacement Stage Module of the Magnetic Chip Final Test Machine offers precise control with a θ-axis Adjustment Range of

Δοκιμαστής τρισδιάστατου μαγνητικού τσιπ Πολυδιάστατος τελικός δοκιμαστής για επαλήθευση υψηλής αξιοπιστίας

Δείτε περισσότερων

Σταθμός μαγνητικού ανιχνευτή

Ποιότητα Σταθμός ανίχνευσης μαγνητικού πεδίου 0,05 MT Σταθμός ανίχνευσης για δοκιμές μεταβλητής θερμοκρασίας εργοστάσιο

Σταθμός ανίχνευσης μαγνητικού πεδίου 0,05 MT Σταθμός ανίχνευσης για δοκιμές μεταβλητής θερμοκρασίας

Probe Station For Variable Temperature And Magnetic Field Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a sophisticated tool designed for precise magnetoresistance measurement in research and testing applications. This magnetic probe station is equipped with advanced features to ensure accurate and reliable data collection, making it an essential instrument for researchers and scientists working in the field of magnetoresistance measurement. The

Σταθμός ανίχνευσης μαγνητικού πεδίου 0,05 MT Σταθμός ανίχνευσης για δοκιμές μεταβλητής θερμοκρασίας

Ποιότητα Εγχειρίδιο Εργαστηρίου Σταθμού Δοκιμής Wafer Σταθμός Δοκιμής Μαγνητικού Πεδίου Με Περιστροφή 360 εργοστάσιο

Εγχειρίδιο Εργαστηρίου Σταθμού Δοκιμής Wafer Σταθμός Δοκιμής Μαγνητικού Πεδίου Με Περιστροφή 360

Manual Wafer Probe Station With 360 Rotation For Lab Research Product Description: The Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for research and development (R&D) in the field of magnetic field analysis. This innovative probe station offers precise control and accurate measurements for studying in-plane magnetic fields with ease and efficiency. One of the key features of this probe station is its optical magnification capabiliti

Εγχειρίδιο Εργαστηρίου Σταθμού Δοκιμής Wafer Σταθμός Δοκιμής Μαγνητικού Πεδίου Με Περιστροφή 360

Ποιότητα Σταθμός Δοκιμών Μαγνητικής Ανιχνεύσεως 50 MT RH για Μέτρηση Μαγνητικών Μεμβρανών εργοστάσιο

Σταθμός Δοκιμών Μαγνητικής Ανιχνεύσεως 50 MT RH για Μέτρηση Μαγνητικών Μεμβρανών

Cost Effective Wafer Probe Station For Magnetic Film Measurement Product Description: Introducing the Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station, a cutting-edge solution for wafer-level electrical measurement with a focus on RH Testing. This innovative probe station is designed to provide precise testing functions for in-plane magnetic fields with a magnetic field resolution of PID Closed-loop Feedback Regulation and an impressive resolution of 0.05 MT. One of

Σταθμός Δοκιμών Μαγνητικής Ανιχνεύσεως 50 MT RH για Μέτρηση Μαγνητικών Μεμβρανών

Δείτε περισσότερων