logo

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης υψηλής ανάλυσης 0,04 Nm Βιομηχανικό μικροσκόπιο για ανάλυση σε νανοκλίμακα

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης Υψηλής Ανάλυσης

,

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0

,

04 Nm

Name: Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης
Scanning Modes: Επικοινωνήστε, χτυπήστε, μη επαφή, πλευρική δύναμη, διαμόρφωση δύναμης
Resolution: 0,04 nm
Scanning Speed: 0.1Hz-30Hz
Sample Stage: Μηχανοκίνητο στάδιο XY με ανάλυση 100 μm
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10μm
Sample Size: Μέχρι 25 mm

Βασικές ιδιότητες

Ονομασία μάρκας: Truth Instruments
Αριθμός μοντέλου: Ψεκασμός

Εμπορικά Ακίνητα

Τιμή: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Όροι πληρωμής: T/t
Περιγραφή προϊόντων

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης Υψηλής Ανάλυσης για Ανάλυση σε Νανοκλίμακα

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι ένα ευέλικτο εργαλείο για την ανάλυση επιφάνειας, που χρησιμοποιείται συνήθως σε διάφορες επιστημονικές και βιομηχανικές εφαρμογές.Αυτή η προηγμένη συσκευή προσφέρει εξαιρετικές δυνατότητες σάρωσης και ακριβή απεικόνιση για λεπτομερή ανάλυση των δειγμάτων.

Ένα από τα βασικά χαρακτηριστικά του AFM είναι το εντυπωσιακό εύρος ταχύτητας σάρωσης, το οποίο επιτρέπει την ακριβή σάρωση σε ταχύτητες που κυμαίνονται από 0,1 Hz έως 30 Hz.Αυτή η ευελιξία στην ταχύτητα σάρωσης επιτρέπει στους χρήστες να προσαρμόζουν τις ρυθμίσεις με βάση τις ειδικές απαιτήσεις των πειραμάτων τους, εξασφαλίζοντας ακριβή και αποτελεσματικά αποτελέσματα.

Με εύρος σάρωσης 100 μm X 100 μm X 10 μm, το AFM παρέχει ολοκληρωμένη εικόνα της επιφάνειας δείγματος με υψηλή ανάλυση.Το ευρύ αυτό εύρος σάρωσης επιτρέπει λεπτομερή απεικόνιση και ανάλυση διαφόρων τύπων δειγμάτων, καθιστώντας το ιδανικό εργαλείο για ερευνητές και επιστήμονες σε ένα ευρύ φάσμα τομέων.

Το AFM έχει σχεδιαστεί για να φιλοξενεί μεγέθη δειγμάτων έως και 25 mm, προσφέροντας ευελιξία στο χειρισμό και την ανάλυση δειγμάτων.Αυτή η γενναιόδωρη χωρητικότητα μεγέθους δείγματος καθιστά το AFM κατάλληλο για ένα ευρύ φάσμα εφαρμογών, από την έρευνα για τη νανοτεχνολογία μέχρι την επιστήμη των υλικών και πέρα.

Εφοδιασμένο με μηχανοκίνητο στάδιο XY με ανάλυση 100 μm, το AFM εξασφαλίζει ακριβή και ελεγχόμενη κίνηση του σταδίου δείγματος κατά τη διάρκεια της σάρωσης.Αυτό το προηγμένο χαρακτηριστικό ελέγχου στάδιο επιτρέπει την ακριβή θέση του δείγματος, επιτρέποντας υψηλής ποιότητας απεικόνιση και ανάλυση με ελάχιστο λάθος.

Το AFM προσφέρει μια ποικιλία από τρόπους σάρωσης, συμπεριλαμβανομένων των τρόπων επαφής, κτύπησης, μη επαφής, πλευρικής δύναμης και διαμόρφωσης δύναμης.Οι διαφορετικοί τρόποι σάρωσης παρέχουν στους χρήστες ευελιξία στις τεχνικές απεικόνισης και ανάλυσης, επιτρέποντας μια ολοκληρωμένη έρευνα των επιφανειών και των ιδιοτήτων των δειγμάτων.

Συμπερασματικά, το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης είναι ένα ισχυρό και ευπροσάρμοστο εργαλείο για την ανάλυση επιφάνειας, που χρησιμοποιείται συνήθως στην επιστημονική έρευνα, τον χαρακτηρισμό υλικών και τις βιομηχανικές εφαρμογές.Με τις προηγμένες δυνατότητες σαρώσής τουΤο AFM είναι ένα απαραίτητο όργανο για ερευνητές και επιστήμονες που αναζητούν λεπτομερείς πληροφορίες σχετικά με τις ιδιότητες διαφόρων δειγμάτων.

Χαρακτηριστικά:

  • Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
  • Ταχύτητα σάρωσης: 0.1Hz-30Hz
  • Περιοχή σάρωσης: 100 μm X 100 μm X 10 μm
  • Στάδιο δειγματοληψίας: Μηχανοκίνητο στάδιο XY με ανάλυση 100 μm
  • Τρόποι ανίχνευσης: επαφή, κτύπημα, μη επαφή, πλευρική δύναμη, διαμόρφωση δύναμης
  • Ανάλυση: 0,04 Nm

Τεχνικές παραμέτρους:

Στάδιο δειγματοληψίας Μηχανοκίνητο στάδιο XY με ανάλυση 100 μm
Ταχύτητα σάρωσης 0.1Hz-30Hz
Μέγεθος δείγματος Μέχρι 25 mm
Τρόποι σάρωσης Επικοινωνία, κτύπημα, μη επαφή, πλευρική δύναμη, διαμόρφωση δύναμης
Πεδίο σάρωσης 100 μm X 100 μm X 10 μm
Απόφαση 00,04 Nm

Εφαρμογές:

Το μικροσκόπιο πυρηνικής δύναμης AtomEdge Pro της Truth Instruments, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα εργαλείο αιχμής που έχει σχεδιαστεί για χαρακτηρισμό σε νανοκλίμακα και απεικόνιση ατομικής ανάλυσης.Με τα προηγμένα χαρακτηριστικά και τις δυνατότητές του, το προϊόν αυτό είναι κατάλληλο για ένα ευρύ φάσμα περιπτώσεων εφαρμογής και σεναρίων.

Ένα βασικό σενάριο εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στην έρευνα επιστήμης υλικών.Οι ερευνητές μπορούν να χρησιμοποιήσουν αυτό το μικροσκόπιο δύναμης σάρωσης για να διερευνήσουν τη μορφολογία της επιφάνειας και τις μηχανικές ιδιότητες διαφόρων υλικών σε επίπεδο νανοκλίμακαςΗ υψηλή ανάλυση 0,04 nm επιτρέπει λεπτομερή απεικόνιση των ατομικών δομών, καθιστώντας το ένα απαραίτητο εργαλείο για τη μελέτη των ιδιοτήτων των υλικών.

Ένα άλλο σημαντικό πεδίο εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στον τομέα των βιολογικών επιστημών.με υψηλή ακρίβεια και ανάλυσηΤο μηχανοκίνητο στάδιο XY με ανάλυση 100 μm επιτρέπει την ακριβή τοποθέτηση των δειγμάτων, καθιστώντας το ιδανικό για την απεικόνιση βιολογικών δειγμάτων με σύνθετες δομές.

Στον τομέα της έρευνας και ανάπτυξης ημιαγωγών, το AtomEdge Pro μπορεί να χρησιμοποιηθεί για την ανάλυση ημιαγωγών υλικών και συσκευών σε ατομικό επίπεδο.1Hz-30Hz επιτρέπει την ταχεία συλλογή δεδομένων, καθιστώντας το ένα πολύτιμο εργαλείο για τον χαρακτηρισμό των δομών των ημιαγωγών και την ανίχνευση ελαττωμάτων.

Επιπλέον, το AtomEdge Pro είναι επίσης κατάλληλο για εφαρμογές στην επιστήμη της επιφάνειας και την ανάλυση λεπτού φιλμ. Οι ερευνητές μπορούν να χρησιμοποιήσουν αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης για να διερευνήσουν τις ιδιότητες λεπτού φιλμ,τραχύτητα της επιφάνειαςΤο εύρος σάρωσης των 100 μm x 100 μm x 10 μm παρέχει μια ευπροσάρμοστη πλατφόρμα για τη μελέτη ενός ευρέος φάσματος ιδιοτήτων επιφάνειας.

Συνοπτικά, το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope είναι ένα ευπροσάρμοστο εργαλείο που βρίσκει εφαρμογές σε διάφορους τομείς όπως επιστήμη υλικών, βιολογία, έρευνα ημιαγωγών,και επιστήμη της επιφάνειαςΗ υψηλή του ανάλυση, ταχύτητα σάρωσης,και το μηχανοκίνητο στάδιο XY το καθιστούν μια ιδανική επιλογή για ερευνητές και επιστήμονες που αναζητούν προηγμένη χαρακτηριστική νανοκλίμακας και δυνατότητες απεικόνισης ατομικής ανάλυσης.

Στείλε Ερευνά

Πάρτε μια γρήγορη προσφορά