ไมโครสโกปแรงอะตอมความละเอียดสูง 0.04 นิโมนิโครสโกปอุตสาหกรรมสําหรับการวิเคราะห์ขนาดนาโน
มิกรอสโคปพลังอะตอมความละเอียดสูง
,มิกรอสโกปพลังอะตอม 0.04 นิโอน
,0.04 นิโมนิโครสโกปอุตสาหกรรม
คุณสมบัติพื้นฐาน
การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมความละเอียดสูงสำหรับการวิเคราะห์ระดับนาโน
รายละเอียดสินค้า:
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการใช้งานทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรมต่างๆ อุปกรณ์ล้ำสมัยนี้มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยมและการถ่ายภาพที่แม่นยำสำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยละเอียด
หนึ่งในคุณสมบัติหลักของ AFM คือช่วงความเร็วในการสแกนที่น่าประทับใจ ซึ่งช่วยให้สามารถสแกนได้อย่างแม่นยำด้วยความเร็วตั้งแต่ 0.1 Hz ถึง 30 Hz ความยืดหยุ่นในความเร็วในการสแกนนี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถปรับการตั้งค่าตามความต้องการเฉพาะของการทดลองของตนเอง เพื่อให้มั่นใจถึงผลลัพธ์ที่แม่นยำและมีประสิทธิภาพ
ด้วยช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10μm AFM ให้มุมมองที่ครอบคลุมของพื้นผิวตัวอย่างด้วยความละเอียดสูง ช่วงการสแกนที่กว้างนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างประเภทต่างๆ ได้อย่างละเอียด ทำให้เป็นเครื่องมือในอุดมคติสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ในหลากหลายสาขา
AFM ได้รับการออกแบบมาเพื่อรองรับขนาดตัวอย่างสูงสุด 25 มม. ซึ่งมีความสามารถรอบด้านในการจัดการและวิเคราะห์ตัวอย่าง ความจุขนาดตัวอย่างที่กว้างขวางนี้ทำให้ AFM เหมาะสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย ตั้งแต่การวิจัยเทคโนโลยีนาโนไปจนถึงวิทยาศาสตร์วัสดุและอื่นๆ
AFM ติดตั้งแท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการเคลื่อนที่ของแท่นตัวอย่างที่แม่นยำและควบคุมได้ในระหว่างการสแกน คุณสมบัติการควบคุมแท่นขั้นสูงนี้ช่วยให้สามารถวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำ ทำให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์คุณภาพสูงโดยมีข้อผิดพลาดน้อยที่สุด
AFM มีโหมดการสแกนที่หลากหลาย รวมถึงโหมด Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force และ Force Modulation โหมดการสแกนที่แตกต่างกันเหล่านี้ช่วยให้ผู้ใช้มีความยืดหยุ่นในเทคนิคการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ ทำให้สามารถตรวจสอบพื้นผิวและคุณสมบัติของตัวอย่างได้อย่างครอบคลุม
โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมือที่ทรงพลังและหลากหลายสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการวิจัยทางวิทยาศาสตร์ การจำแนกคุณสมบัติของวัสดุ และการใช้งานทางอุตสาหกรรม ด้วยความสามารถในการสแกนขั้นสูง การถ่ายภาพที่แม่นยำ และโหมดการสแกนที่หลากหลาย AFM เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ต้องการข้อมูลเชิงลึกโดยละเอียดเกี่ยวกับคุณสมบัติของตัวอย่างต่างๆ
คุณสมบัติ:
- ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
- ความเร็วในการสแกน: 0.1 Hz-30 Hz
- ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm X 10μm
- แท่นตัวอย่าง: แท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm
- โหมดการสแกน: Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation
- ความละเอียด: 0.04 nm
พารามิเตอร์ทางเทคนิค:
| แท่นตัวอย่าง | แท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm |
| ความเร็วในการสแกน | 0.1 Hz-30 Hz |
| ขนาดตัวอย่าง | สูงสุด 25 มม. |
| โหมดการสแกน | Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation |
| ช่วงการสแกน | 100 μm X 100 μm X 10 μm |
| ความละเอียด | 0.04 nm |
การใช้งาน:
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม AtomEdge Pro ของ Truth Instruments ซึ่งมีต้นกำเนิดจากประเทศจีน เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการจำแนกคุณสมบัติระดับนาโนและการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม ด้วยคุณสมบัติและความสามารถขั้นสูง ผลิตภัณฑ์นี้จึงเหมาะสำหรับโอกาสและสถานการณ์การใช้งานที่หลากหลาย
สถานการณ์การใช้งานหลักประการหนึ่งสำหรับ AtomEdge Pro คือในการวิจัยวิทยาศาสตร์วัสดุ นักวิจัยสามารถใช้กล้องจุลทรรศน์แรงสแกนนี้เพื่อตรวจสอบสัณฐานวิทยาพื้นผิวและคุณสมบัติทางกลของวัสดุต่างๆ ในระดับนาโน ความละเอียดสูง 0.04 nm ช่วยให้สามารถถ่ายภาพโครงสร้างอะตอมได้อย่างละเอียด ทำให้เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับการศึกษาคุณสมบัติของวัสดุ
อีกหนึ่งพื้นที่การใช้งานที่สำคัญสำหรับ AtomEdge Pro คือในสาขาวิทยาศาสตร์ชีวภาพ นักชีววิทยา สามารถใช้เครื่องมือนี้เพื่อศึกษาตัวอย่างทางชีวภาพ เช่น เซลล์และเนื้อเยื่อ ด้วยความแม่นยำและความละเอียดสูง แท่น XY แบบใช้มอเตอร์ที่มีความละเอียด 100 μm ช่วยให้สามารถวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำ ทำให้เหมาะสำหรับการถ่ายภาพตัวอย่างทางชีวภาพที่มีโครงสร้างซับซ้อน
ในด้านการวิจัยและพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์ AtomEdge Pro สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์วัสดุและอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ในระดับอะตอม ช่วงความเร็วในการสแกน 0.1 Hz-30 Hz ช่วยให้สามารถรวบรวมข้อมูลได้อย่างรวดเร็ว ทำให้เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับการจำแนกคุณสมบัติโครงสร้างเซมิคอนดักเตอร์และตรวจจับข้อบกพร่อง
นอกจากนี้ AtomEdge Pro ยังเหมาะสำหรับการใช้งานในวิทยาศาสตร์พื้นผิวและการวิเคราะห์ฟิล์มบาง นักวิจัยสามารถใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมนี้เพื่อตรวจสอบคุณสมบัติของฟิล์มบาง ความขรุขระของพื้นผิว และลักษณะทางภูมิประเทศด้วยความแม่นยำสูง ช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm เป็นแพลตฟอร์มอเนกประสงค์สำหรับการศึกษาคุณสมบัติพื้นผิวที่หลากหลาย
โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม AtomEdge Pro ของ Truth Instruments เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์ที่พบการใช้งานในสาขาต่างๆ เช่น วิทยาศาสตร์วัสดุ ชีววิทยา การวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ และวิทยาศาสตร์พื้นผิว ความละเอียดสูง ความเร็วในการสแกน และแท่น XY แบบใช้มอเตอร์ ทำให้เป็นตัวเลือกในอุดมคติสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ต้องการการจำแนกคุณสมบัติระดับนาโนขั้นสูงและความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม