logo

ไมโครสโกปแรงอะตอมความละเอียดสูง 0.04 นิโมนิโครสโกปอุตสาหกรรมสําหรับการวิเคราะห์ขนาดนาโน

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมความละเอียดสูงสำหรับการวิเคราะห์ระดับนาโน รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการใช้งานทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรมต่างๆ อุปกรณ์ล้ำสมัยนี้มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยมและการถ่ายภาพที่แม่นยำสำหรับ...
รายละเอียดสินค้า
เน้น:

มิกรอสโคปพลังอะตอมความละเอียดสูง

,

มิกรอสโกปพลังอะตอม 0.04 นิโอน

,

0.04 นิโมนิโครสโกปอุตสาหกรรม

Name: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
Scanning Modes: ติดต่อ, แตะ, ไม่ติดต่อ, แรงด้านข้าง, การปรับแรง
Resolution: 0.04 นาโนเมตร
Scanning Speed: 0.1Hz-30Hz
Sample Stage: ระยะ XY แบบใช้เครื่องยนต์ที่มีความละเอียด 100 μm
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10μm
Sample Size: สูงสุด 25 มม

คุณสมบัติพื้นฐาน

ชื่อแบรนด์: Truth Instruments
เลขรุ่น: Atomedge Pro

การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์

ราคา: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
เงื่อนไขการจ่ายเงิน: t/t
คําอธิบายสินค้า

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมความละเอียดสูงสำหรับการวิเคราะห์ระดับนาโน

รายละเอียดสินค้า:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการใช้งานทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรมต่างๆ อุปกรณ์ล้ำสมัยนี้มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยมและการถ่ายภาพที่แม่นยำสำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยละเอียด

หนึ่งในคุณสมบัติหลักของ AFM คือช่วงความเร็วในการสแกนที่น่าประทับใจ ซึ่งช่วยให้สามารถสแกนได้อย่างแม่นยำด้วยความเร็วตั้งแต่ 0.1 Hz ถึง 30 Hz ความยืดหยุ่นในความเร็วในการสแกนนี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถปรับการตั้งค่าตามความต้องการเฉพาะของการทดลองของตนเอง เพื่อให้มั่นใจถึงผลลัพธ์ที่แม่นยำและมีประสิทธิภาพ

ด้วยช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10μm AFM ให้มุมมองที่ครอบคลุมของพื้นผิวตัวอย่างด้วยความละเอียดสูง ช่วงการสแกนที่กว้างนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างประเภทต่างๆ ได้อย่างละเอียด ทำให้เป็นเครื่องมือในอุดมคติสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ในหลากหลายสาขา

AFM ได้รับการออกแบบมาเพื่อรองรับขนาดตัวอย่างสูงสุด 25 มม. ซึ่งมีความสามารถรอบด้านในการจัดการและวิเคราะห์ตัวอย่าง ความจุขนาดตัวอย่างที่กว้างขวางนี้ทำให้ AFM เหมาะสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย ตั้งแต่การวิจัยเทคโนโลยีนาโนไปจนถึงวิทยาศาสตร์วัสดุและอื่นๆ

AFM ติดตั้งแท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการเคลื่อนที่ของแท่นตัวอย่างที่แม่นยำและควบคุมได้ในระหว่างการสแกน คุณสมบัติการควบคุมแท่นขั้นสูงนี้ช่วยให้สามารถวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำ ทำให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์คุณภาพสูงโดยมีข้อผิดพลาดน้อยที่สุด

AFM มีโหมดการสแกนที่หลากหลาย รวมถึงโหมด Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force และ Force Modulation โหมดการสแกนที่แตกต่างกันเหล่านี้ช่วยให้ผู้ใช้มีความยืดหยุ่นในเทคนิคการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ ทำให้สามารถตรวจสอบพื้นผิวและคุณสมบัติของตัวอย่างได้อย่างครอบคลุม

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมือที่ทรงพลังและหลากหลายสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการวิจัยทางวิทยาศาสตร์ การจำแนกคุณสมบัติของวัสดุ และการใช้งานทางอุตสาหกรรม ด้วยความสามารถในการสแกนขั้นสูง การถ่ายภาพที่แม่นยำ และโหมดการสแกนที่หลากหลาย AFM เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ต้องการข้อมูลเชิงลึกโดยละเอียดเกี่ยวกับคุณสมบัติของตัวอย่างต่างๆ

 

คุณสมบัติ:

  • ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
  • ความเร็วในการสแกน: 0.1 Hz-30 Hz
  • ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm X 10μm
  • แท่นตัวอย่าง: แท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm
  • โหมดการสแกน: Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation
  • ความละเอียด: 0.04 nm
 

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

แท่นตัวอย่าง แท่น XY แบบใช้มอเตอร์พร้อมความละเอียด 100 μm
ความเร็วในการสแกน 0.1 Hz-30 Hz
ขนาดตัวอย่าง สูงสุด 25 มม.
โหมดการสแกน Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation
ช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10 μm
ความละเอียด 0.04 nm
 

การใช้งาน:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม AtomEdge Pro ของ Truth Instruments ซึ่งมีต้นกำเนิดจากประเทศจีน เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการจำแนกคุณสมบัติระดับนาโนและการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม ด้วยคุณสมบัติและความสามารถขั้นสูง ผลิตภัณฑ์นี้จึงเหมาะสำหรับโอกาสและสถานการณ์การใช้งานที่หลากหลาย

สถานการณ์การใช้งานหลักประการหนึ่งสำหรับ AtomEdge Pro คือในการวิจัยวิทยาศาสตร์วัสดุ นักวิจัยสามารถใช้กล้องจุลทรรศน์แรงสแกนนี้เพื่อตรวจสอบสัณฐานวิทยาพื้นผิวและคุณสมบัติทางกลของวัสดุต่างๆ ในระดับนาโน ความละเอียดสูง 0.04 nm ช่วยให้สามารถถ่ายภาพโครงสร้างอะตอมได้อย่างละเอียด ทำให้เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับการศึกษาคุณสมบัติของวัสดุ

อีกหนึ่งพื้นที่การใช้งานที่สำคัญสำหรับ AtomEdge Pro คือในสาขาวิทยาศาสตร์ชีวภาพ นักชีววิทยา สามารถใช้เครื่องมือนี้เพื่อศึกษาตัวอย่างทางชีวภาพ เช่น เซลล์และเนื้อเยื่อ ด้วยความแม่นยำและความละเอียดสูง แท่น XY แบบใช้มอเตอร์ที่มีความละเอียด 100 μm ช่วยให้สามารถวางตำแหน่งตัวอย่างได้อย่างแม่นยำ ทำให้เหมาะสำหรับการถ่ายภาพตัวอย่างทางชีวภาพที่มีโครงสร้างซับซ้อน

ในด้านการวิจัยและพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์ AtomEdge Pro สามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์วัสดุและอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ในระดับอะตอม ช่วงความเร็วในการสแกน 0.1 Hz-30 Hz ช่วยให้สามารถรวบรวมข้อมูลได้อย่างรวดเร็ว ทำให้เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับการจำแนกคุณสมบัติโครงสร้างเซมิคอนดักเตอร์และตรวจจับข้อบกพร่อง

นอกจากนี้ AtomEdge Pro ยังเหมาะสำหรับการใช้งานในวิทยาศาสตร์พื้นผิวและการวิเคราะห์ฟิล์มบาง นักวิจัยสามารถใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมนี้เพื่อตรวจสอบคุณสมบัติของฟิล์มบาง ความขรุขระของพื้นผิว และลักษณะทางภูมิประเทศด้วยความแม่นยำสูง ช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm เป็นแพลตฟอร์มอเนกประสงค์สำหรับการศึกษาคุณสมบัติพื้นผิวที่หลากหลาย

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม AtomEdge Pro ของ Truth Instruments เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์ที่พบการใช้งานในสาขาต่างๆ เช่น วิทยาศาสตร์วัสดุ ชีววิทยา การวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ และวิทยาศาสตร์พื้นผิว ความละเอียดสูง ความเร็วในการสแกน และแท่น XY แบบใช้มอเตอร์ ทำให้เป็นตัวเลือกในอุดมคติสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ต้องการการจำแนกคุณสมบัติระดับนาโนขั้นสูงและความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม

ส่งคำถาม

ขอใบเสนอราคาด่วน