logo

میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح بالا 0.04 نانومتر، میکروسکوپ صنعتی برای آنالیز در مقیاس نانو

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0
جزئیات محصول
برجسته کردن:

میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح بالا,میکروسکوپ نیروی اتمی 0.04 نانومتر,میکروسکوپ صنعتی 0.04 نانومتر

,

Atomic Force Microscope 0.04 Nm

,

0.04 Nm Industrial Microscope

Name: میکروسکوپ نیروی اتمی
Scanning Modes: تماس ، ضربه زدن ، عدم تماس ، نیروی جانبی ، مدولاسیون نیرو
Resolution: 0.04 نانومتر
Scanning Speed: 0.1Hz-30Hz
Sample Stage: مرحله XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر
Scanning Range: 100 میکرومتر در 100 میکرومتر در 10μm
Sample Size: تا 25 میلی متر

ویژگی های اساسی

نام تجاری: Truth Instruments
شماره مدل: Atomedge Pro

املاک تجاری

قیمت: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
شرایط پرداخت: t/t
توضیحات محصول

میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح بالا برای آنالیز نانومقیاس

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار همه کاره برای آنالیز سطح است که معمولاً در کاربردهای علمی و صنعتی مختلف استفاده می شود. این دستگاه پیشرفته قابلیت های اسکن استثنایی و تصویربرداری دقیق را برای تجزیه و تحلیل دقیق نمونه ها ارائه می دهد.

یکی از ویژگی های کلیدی AFM، محدوده سرعت اسکن چشمگیر آن است که امکان اسکن دقیق را با سرعت های بین 0.1 هرتز تا 30 هرتز فراهم می کند. این انعطاف پذیری در سرعت اسکن به کاربران اجازه می دهد تا تنظیمات را بر اساس نیازهای خاص آزمایشات خود تنظیم کنند و نتایج دقیق و کارآمد را تضمین کنند.

با محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر، AFM نمای جامعی از سطح نمونه با وضوح بالا ارائه می دهد. این محدوده اسکن وسیع امکان تصویربرداری و تجزیه و تحلیل دقیق انواع نمونه ها را فراهم می کند و آن را به ابزاری ایده آل برای محققان و دانشمندان در طیف گسترده ای از زمینه ها تبدیل می کند.

AFM برای تطبیق اندازه نمونه تا 25 میلی متر طراحی شده است و تطبیق پذیری در جابجایی و تجزیه و تحلیل نمونه را ارائه می دهد. این ظرفیت سخاوتمندانه اندازه نمونه، AFM را برای طیف گسترده ای از کاربردها، از تحقیقات نانوتکنولوژی گرفته تا علم مواد و فراتر از آن، مناسب می کند.

AFM مجهز به یک استیج XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر، حرکت دقیق و کنترل شده استیج نمونه را در حین اسکن تضمین می کند. این ویژگی کنترل استیج پیشرفته امکان موقعیت یابی دقیق نمونه را فراهم می کند و تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با کیفیت بالا را با حداقل خطا امکان پذیر می کند.

AFM حالت های اسکن متنوعی از جمله حالت های تماس، ضربه ای، غیر تماسی، نیروی جانبی و مدولاسیون نیرو را ارائه می دهد. این حالت های اسکن مختلف، انعطاف پذیری را در تکنیک های تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در اختیار کاربران قرار می دهد و امکان بررسی جامع سطوح و خواص نمونه را فراهم می کند.

در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار قدرتمند و همه کاره برای آنالیز سطح است که معمولاً در تحقیقات علمی، مشخصه یابی مواد و کاربردهای صنعتی استفاده می شود. AFM با قابلیت های اسکن پیشرفته، تصویربرداری دقیق و حالت های اسکن همه کاره، یک ابزار ضروری برای محققان و دانشمندانی است که به دنبال بینش های دقیق در مورد خواص نمونه های مختلف هستند.

 

ویژگی ها:

  • نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
  • سرعت اسکن: 0.1 هرتز - 30 هرتز
  • محدوده اسکن: 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر
  • استیج نمونه: استیج XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر
  • حالت های اسکن: تماس، ضربه ای، غیر تماسی، نیروی جانبی، مدولاسیون نیرو
  • وضوح: 0.04 نانومتر
 

پارامترهای فنی:

استیج نمونه استیج XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر
سرعت اسکن 0.1 هرتز - 30 هرتز
اندازه نمونه تا 25 میلی متر
حالت های اسکن تماس، ضربه ای، غیر تماسی، نیروی جانبی، مدولاسیون نیرو
محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر
وضوح 0.04 نانومتر
 

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments، که منشاء آن از چین است، یک ابزار پیشرفته است که برای مشخصه یابی در مقیاس نانو و تصویربرداری با وضوح اتمی طراحی شده است. این محصول با ویژگی ها و قابلیت های پیشرفته خود برای طیف گسترده ای از موقعیت ها و سناریوهای کاربردی مناسب است.

یکی از سناریوهای کاربردی کلیدی برای AtomEdge Pro در تحقیقات علوم مواد است. محققان می توانند از این میکروسکوپ نیروی اسکن برای بررسی مورفولوژی سطح و خواص مکانیکی مواد مختلف در سطح نانومقیاس استفاده کنند. وضوح بالای 0.04 نانومتر امکان تصویربرداری دقیق از ساختارهای اتمی را فراهم می کند و آن را به ابزاری ضروری برای مطالعه خواص مواد تبدیل می کند.

یکی دیگر از زمینه های کاربردی مهم برای AtomEdge Pro در زمینه علوم زیستی است. زیست شناسان می توانند از این ابزار برای مطالعه نمونه های بیولوژیکی، مانند سلول ها و بافت ها، با دقت و وضوح بالا استفاده کنند. استیج XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر امکان موقعیت یابی دقیق نمونه ها را فراهم می کند و آن را برای تصویربرداری از نمونه های بیولوژیکی با ساختارهای پیچیده ایده آل می کند.

در زمینه تحقیق و توسعه نیمه هادی ها، AtomEdge Pro می تواند برای تجزیه و تحلیل مواد و دستگاه های نیمه هادی در سطح اتمی استفاده شود. محدوده سرعت اسکن 0.1 هرتز - 30 هرتز امکان جمع آوری سریع داده ها را فراهم می کند و آن را به ابزاری ارزشمند برای مشخصه یابی ساختارهای نیمه هادی و تشخیص عیوب تبدیل می کند.

علاوه بر این، AtomEdge Pro برای کاربردها در علم سطح و آنالیز لایه نازک نیز مناسب است. محققان می توانند از این میکروسکوپ نیروی اتمی برای بررسی خواص لایه نازک، زبری سطح و ویژگی های توپوگرافی با دقت بالا استفاده کنند. محدوده اسکن 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر یک پلت فرم همه کاره برای مطالعه طیف گسترده ای از خواص سطح فراهم می کند.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments یک ابزار همه کاره است که در زمینه های مختلفی مانند علوم مواد، زیست شناسی، تحقیقات نیمه هادی و علم سطح کاربرد دارد. وضوح بالا، سرعت اسکن و استیج XY موتوری آن، آن را به انتخابی ایده آل برای محققان و دانشمندانی تبدیل می کند که به دنبال مشخصه یابی پیشرفته در مقیاس نانو و قابلیت های تصویربرداری با وضوح اتمی هستند.

درخواست ارسال کنید

دریافت قیمت سریع