Hoge resolutie atoomKrachtmicroscoop 0,04 nm industriële microscoop voor nanoschaalanalyse

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een veelzijdig hulpmiddel voor oppervlakteanalyse, veelgebruikt in diverse wetenschappelijke en industriële toepassingen. Dit geavanceerde apparaat biedt uitzonderlijke scanmogelijkheden en precieze beeldvorming voor gedetailleerde analyse van monsters.

Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM is het indrukwekkende Scanning Speed-bereik, dat precieze scanning mogelijk maakt met snelheden variërend van 0,1 Hz tot 30 Hz. Deze flexibiliteit in scansnelheid stelt gebruikers in staat om de instellingen aan te passen op basis van de specifieke vereisten van hun experimenten, wat zorgt voor nauwkeurige en efficiënte resultaten.

Met een Scanning Range van 100 μm X 100 μm X 10μm biedt de AFM een uitgebreid beeld van het monsteroppervlak met een hoge resolutie. Dit brede scanbereik maakt gedetailleerde beeldvorming en analyse van verschillende monstertypes mogelijk, waardoor het een ideaal hulpmiddel is voor onderzoekers en wetenschappers in een breed scala aan vakgebieden.

De AFM is ontworpen om Sample Sizes tot 25 mm te accommoderen, wat veelzijdigheid biedt in monsterbehandeling en -analyse. Deze royale capaciteit voor monstermaten maakt de AFM geschikt voor een breed scala aan toepassingen, van nanotechnologieonderzoek tot materiaalkunde en daarbuiten.

Uitgerust met een Motorized XY Stage met 100 μm resolutie, zorgt de AFM voor precieze en gecontroleerde beweging van de monsterstage tijdens het scannen. Deze geavanceerde stage-besturingsfunctie maakt nauwkeurige positionering van het monster mogelijk, waardoor beeldvorming en analyse van hoge kwaliteit met minimale fouten mogelijk zijn.

De AFM biedt een verscheidenheid aan Scanning Modes, waaronder Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force en Force Modulation modes. Deze verschillende scanmodi bieden gebruikers flexibiliteit in beeldvormings- en analysetechnieken, waardoor een uitgebreid onderzoek van monsteroppervlakken en -eigenschappen mogelijk is.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een krachtig en veelzijdig hulpmiddel voor oppervlakteanalyse, veelgebruikt in wetenschappelijk onderzoek, materiaalkarakterisering en industriële toepassingen. Met zijn geavanceerde scanmogelijkheden, precieze beeldvorming en veelzijdige scanmodi is de AFM een essentieel instrument voor onderzoekers en wetenschappers die gedetailleerde inzichten willen in de eigenschappen van verschillende monsters.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scansnelheid: 0,1 Hz-30 Hz
• Scanbereik: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Monsterstage: Motorized XY Stage met 100 μm resolutie
• Scanmodi: Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation
• Resolutie: 0,04 nm

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments' AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, afkomstig uit China, is een geavanceerd hulpmiddel ontworpen voor karakterisering op nanoschaal en beeldvorming met atomaire resolutie. Met zijn geavanceerde functies en mogelijkheden is dit product geschikt voor een breed scala aan toepassingsgebieden en scenario's.

Een belangrijk toepassingsscenario voor de AtomEdge Pro is in materiaalwetenschappelijk onderzoek. Onderzoekers kunnen deze scanning force microscope gebruiken om de oppervlaktemorfologie en mechanische eigenschappen van verschillende materialen op nanoschaal te onderzoeken. De hoge resolutie van 0,04 nm maakt gedetailleerde beeldvorming van atomaire structuren mogelijk, waardoor het een essentieel hulpmiddel is voor het bestuderen van materiaaleigenschappen.

Een ander belangrijk toepassingsgebied voor de AtomEdge Pro is op het gebied van de biologische wetenschappen. Biologen kunnen dit instrument gebruiken om biologische monsters, zoals cellen en weefsels, met hoge precisie en resolutie te bestuderen. De gemotoriseerde XY-stage met 100 μm resolutie maakt een precieze positionering van monsters mogelijk, waardoor het ideaal is voor het afbeelden van biologische monsters met complexe structuren.

Op het gebied van onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders kan de AtomEdge Pro worden gebruikt voor het analyseren van halfgeleidermaterialen en -apparaten op atomair niveau. Het scansnelheidsbereik van 0,1 Hz-30 Hz maakt snelle data-acquisitie mogelijk, waardoor het een waardevol hulpmiddel is voor het karakteriseren van halfgeleiderstructuren en het detecteren van defecten.

Verder is de AtomEdge Pro ook geschikt voor toepassingen in oppervlakte-wetenschap en dunne-film-analyse. Onderzoekers kunnen deze atomic force microscope gebruiken om dunne-filmeigenschappen, oppervlakte ruwheid en topografische kenmerken met hoge nauwkeurigheid te onderzoeken. Het scanbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm biedt een veelzijdig platform voor het bestuderen van een breed scala aan oppervlakte-eigenschappen.

Samenvattend is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope een veelzijdig hulpmiddel dat toepassingen vindt in verschillende gebieden zoals materiaalwetenschap, biologie, halfgeleideronderzoek en oppervlakte-wetenschap. De hoge resolutie, scansnelheid en gemotoriseerde XY-stage maken het een ideale keuze voor onderzoekers en wetenschappers die op zoek zijn naar geavanceerde karakterisering op nanoschaal en beeldvormingsmogelijkheden met atomaire resolutie.