Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это универсальный инструмент для анализа поверхности, широко используемый в различных научных и промышленных областях. Это современное устройство предлагает исключительные возможности сканирования и точную визуализацию для детального анализа образцов.

Одной из ключевых особенностей АСМ является впечатляющий диапазон скорости сканирования, который позволяет выполнять точное сканирование со скоростью от 0,1 Гц до 30 Гц. Такая гибкость скорости сканирования позволяет пользователям настраивать параметры в соответствии с конкретными требованиями их экспериментов, обеспечивая точные и эффективные результаты.

С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, АСМ обеспечивает всесторонний обзор поверхности образца с высоким разрешением. Этот широкий диапазон сканирования позволяет детально визуализировать и анализировать различные типы образцов, что делает его идеальным инструментом для исследователей и ученых в широком спектре областей.

АСМ предназначен для работы с образцами размером до 25 мм, предлагая универсальность в обработке и анализе образцов. Эта большая вместимость образцов делает АСМ подходящим для широкого спектра применений, от нанотехнологических исследований до материаловедения и других областей.

Оснащенный моторизованным XY-столиком с разрешением 100 мкм, АСМ обеспечивает точное и контролируемое перемещение столика образца во время сканирования. Эта передовая функция управления столиком позволяет точно позиционировать образец, обеспечивая высококачественную визуализацию и анализ с минимальной погрешностью.

АСМ предлагает различные режимы сканирования, включая контактный, касательный, бесконтактный, боковой силы и режим модуляции силы. Эти различные режимы сканирования предоставляют пользователям гибкость в методах визуализации и анализа, позволяя всесторонне исследовать поверхности и свойства образцов.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это мощный и универсальный инструмент для анализа поверхности, широко используемый в научных исследованиях, характеристике материалов и промышленных применениях. Благодаря своим передовым возможностям сканирования, точной визуализации и универсальным режимам сканирования, АСМ является незаменимым инструментом для исследователей и ученых, стремящихся получить подробную информацию о свойствах различных образцов.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Скорость сканирования: 0,1 Гц - 30 Гц
• Диапазон сканирования: 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм
• Столик для образцов: моторизованный XY-столик с разрешением 100 мкм
• Режимы сканирования: контактный, касательный, бесконтактный, боковой силы, модуляция силы
• Разрешение: 0,04 нм

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro от Truth Instruments, произведенный в Китае, является передовым инструментом, предназначенным для наноразмерной характеристики и визуализации с атомным разрешением. Благодаря своим передовым функциям и возможностям, этот продукт подходит для широкого спектра применений и сценариев.

Одним из ключевых сценариев применения AtomEdge Pro является исследование материалов. Исследователи могут использовать этот сканирующий силовой микроскоп для исследования морфологии поверхности и механических свойств различных материалов на наноуровне. Высокое разрешение 0,04 нм позволяет детально визуализировать атомные структуры, что делает его незаменимым инструментом для изучения свойств материалов.

Еще одной важной областью применения AtomEdge Pro является область биологических наук. Биологи могут использовать этот прибор для изучения биологических образцов, таких как клетки и ткани, с высокой точностью и разрешением. Моторизованный XY-столик с разрешением 100 мкм обеспечивает точное позиционирование образцов, что делает его идеальным для визуализации биологических образцов со сложными структурами.

В области исследований и разработок полупроводников AtomEdge Pro можно использовать для анализа полупроводниковых материалов и устройств на атомном уровне. Диапазон скорости сканирования 0,1 Гц - 30 Гц позволяет быстро получать данные, что делает его ценным инструментом для характеристики полупроводниковых структур и обнаружения дефектов.

Кроме того, AtomEdge Pro также подходит для применения в науке о поверхности и анализе тонких пленок. Исследователи могут использовать этот атомно-силовой микроскоп для исследования свойств тонких пленок, шероховатости поверхности и топографических особенностей с высокой точностью. Диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм обеспечивает универсальную платформу для изучения широкого спектра свойств поверхности.

В заключение, атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro является универсальным инструментом, который находит применение в различных областях, таких как материаловедение, биология, исследования полупроводников и наука о поверхности. Его высокое разрешение, скорость сканирования и моторизованный XY-столик делают его идеальным выбором для исследователей и ученых, стремящихся к передовой наноразмерной характеристике и возможностям визуализации с атомным разрешением.