logo

উচ্চ রেজোলিউশন অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ ০.০৪ এনএম শিল্প মাইক্রোস্কোপ ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের জন্য

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0
পণ্যের বিবরণ
বিশেষভাবে তুলে ধরা:

উচ্চ রেজোলিউশন অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ

,

অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ ০.০৪ এনএম

,

০.০৪ এনএম শিল্প মাইক্রোস্কোপ

Name: পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ
Scanning Modes: যোগাযোগ, ট্যাপিং, অ-যোগাযোগ, পার্শ্বীয় শক্তি, ফোর্স মড্যুলেশন
Resolution: 0.04 এনএম
Scanning Speed: 0.1Hz-30Hz
Sample Stage: 100 মিমি রেজোলিউশন সহ মোটরযুক্ত এক্সওয়াই স্টেজ
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10μm
Sample Size: 25 মিমি পর্যন্ত

মৌলিক বৈশিষ্ট্য

ব্র্যান্ড নাম: Truth Instruments
মডেল নম্বর: Atomage প্রো

বাণিজ্যিক সম্পত্তি

দাম: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
অর্থ প্রদানের শর্তাবলী: টি/টি
পণ্যের বর্ণনা

ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের জন্য উচ্চ-রেজোলিউশন অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ

পণ্যের বর্ণনা:

অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম) পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য একটি বহুমুখী সরঞ্জাম, যা সাধারণত বিভিন্ন বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে ব্যবহৃত হয়। এই অত্যাধুনিক ডিভাইসটি নমুনাগুলির বিস্তারিত বিশ্লেষণের জন্য ব্যতিক্রমী স্ক্যানিং ক্ষমতা এবং সুনির্দিষ্ট চিত্র সরবরাহ করে।

এএফএম-এর মূল বৈশিষ্ট্যগুলির মধ্যে একটি হল এর চিত্তাকর্ষক স্ক্যানিং স্পিড পরিসীমা, যা 0.1Hz থেকে 30Hz পর্যন্ত গতিতে সুনির্দিষ্ট স্ক্যানিংয়ের অনুমতি দেয়। স্ক্যানিং গতির এই নমনীয়তা ব্যবহারকারীদের তাদের পরীক্ষার নির্দিষ্ট প্রয়োজনীয়তার উপর ভিত্তি করে সেটিংস সামঞ্জস্য করতে সক্ষম করে, যা সঠিক এবং দক্ষ ফলাফল নিশ্চিত করে।

100 μm X 100 μm X 10μm এর স্ক্যানিং রেঞ্জ সহ, এএফএম উচ্চ রেজোলিউশনের সাথে নমুনা পৃষ্ঠের একটি বিস্তৃত দৃশ্য সরবরাহ করে। এই বিস্তৃত স্ক্যানিং পরিসীমা বিভিন্ন ধরণের নমুনার বিস্তারিত চিত্র এবং বিশ্লেষণ করতে দেয়, যা এটিকে বিস্তৃত ক্ষেত্রের গবেষক এবং বিজ্ঞানীদের জন্য একটি আদর্শ সরঞ্জাম করে তোলে।

এএফএম 25 মিমি পর্যন্ত নমুনা আকার মিটমাট করার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে, যা নমুনা হ্যান্ডলিং এবং বিশ্লেষণে বহুমুখীতা প্রদান করে। এই উদার নমুনা আকারের ক্ষমতা এএফএমকে ন্যানোটেকনোলজি গবেষণা থেকে শুরু করে উপকরণ বিজ্ঞান এবং আরও অনেক কিছু পর্যন্ত বিস্তৃত অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য উপযুক্ত করে তোলে।

100 μm রেজোলিউশন সহ একটি মোটরযুক্ত XY স্টেজের সাথে সজ্জিত, এএফএম স্ক্যানিংয়ের সময় নমুনা স্টেজের সুনির্দিষ্ট এবং নিয়ন্ত্রিত চলাচল নিশ্চিত করে। এই উন্নত স্টেজ কন্ট্রোল বৈশিষ্ট্যটি নমুনার সঠিক অবস্থান সক্ষম করে, যা ন্যূনতম ত্রুটি সহ উচ্চ-মানের চিত্র এবং বিশ্লেষণ করতে সক্ষম করে।

এএফএম বিভিন্ন স্ক্যানিং মোড সরবরাহ করে, যার মধ্যে রয়েছে কন্টাক্ট, ট্যাপিং, নন-কন্টাক্ট, ল্যাটারাল ফোর্স এবং ফোর্স মডুলেশন মোড। এই বিভিন্ন স্ক্যানিং মোড ব্যবহারকারীদের চিত্র এবং বিশ্লেষণ কৌশলগুলিতে নমনীয়তা প্রদান করে, যা নমুনা পৃষ্ঠ এবং বৈশিষ্ট্যগুলির একটি বিস্তৃত তদন্তের অনুমতি দেয়।

উপসংহারে, অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য একটি শক্তিশালী এবং বহুমুখী সরঞ্জাম, যা সাধারণত বৈজ্ঞানিক গবেষণা, উপকরণ চরিত্রায়ন এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে ব্যবহৃত হয়। এর উন্নত স্ক্যানিং ক্ষমতা, সুনির্দিষ্ট চিত্র এবং বহুমুখী স্ক্যানিং মোডগুলির সাথে, এএফএম গবেষক এবং বিজ্ঞানীদের জন্য একটি অপরিহার্য যন্ত্র যারা বিভিন্ন নমুনার বৈশিষ্ট্যগুলির বিস্তারিত অন্তর্দৃষ্টি পেতে চান।

 

বৈশিষ্ট্য:

  • পণ্যের নাম: অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
  • স্ক্যানিং গতি: 0.1Hz-30Hz
  • স্ক্যানিং রেঞ্জ: 100 μm X 100 μm X 10μm
  • নমুনা স্টেজ: 100 μm রেজোলিউশন সহ মোটরযুক্ত XY স্টেজ
  • স্ক্যানিং মোড: কন্টাক্ট, ট্যাপিং, নন-কন্টাক্ট, ল্যাটারাল ফোর্স, ফোর্স মডুলেশন
  • রেজোলিউশন: 0.04 Nm
 

প্রযুক্তিগত পরামিতি:

নমুনা স্টেজ 100 μm রেজোলিউশন সহ মোটরযুক্ত XY স্টেজ
স্ক্যানিং গতি 0.1Hz-30Hz
নমুনা আকার 25 মিমি পর্যন্ত
স্ক্যানিং মোড কন্টাক্ট, ট্যাপিং, নন-কন্টাক্ট, ল্যাটারাল ফোর্স, ফোর্স মডুলেশন
স্ক্যানিং রেঞ্জ 100 μm X 100 μm X 10μm
রেজোলিউশন 0.04 Nm
 

অ্যাপ্লিকেশন:

চীন থেকে উৎপন্ন ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস-এর অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ, ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্যকরণ এবং পারমাণবিক রেজোলিউশন ইমেজিংয়ের জন্য ডিজাইন করা একটি অত্যাধুনিক সরঞ্জাম। এর উন্নত বৈশিষ্ট্য এবং ক্ষমতা সহ, এই পণ্যটি বিভিন্ন অ্যাপ্লিকেশন উপলক্ষ এবং দৃশ্যের জন্য উপযুক্ত।

অ্যাটমএজ প্রো-এর একটি মূল অ্যাপ্লিকেশন দৃশ্য হল উপকরণ বিজ্ঞান গবেষণা। গবেষকরা ন্যানোস্কেল স্তরে বিভিন্ন উপাদানের পৃষ্ঠের গঠন এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলি তদন্ত করতে এই স্ক্যানিং ফোর্স মাইক্রোস্কোপ ব্যবহার করতে পারেন। 0.04 nm এর উচ্চ রেজোলিউশন পারমাণবিক কাঠামোর বিস্তারিত চিত্র সরবরাহ করে, যা উপাদান বৈশিষ্ট্য অধ্যয়নের জন্য এটি একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে।

অ্যাটমএজ প্রো-এর আরেকটি গুরুত্বপূর্ণ অ্যাপ্লিকেশন ক্ষেত্র হল জীববিজ্ঞান বিজ্ঞান। জীববিজ্ঞানীরা এই যন্ত্রটি ব্যবহার করে কোষ এবং টিস্যুগুলির মতো জৈবিক নমুনাগুলি উচ্চ নির্ভুলতা এবং রেজোলিউশনের সাথে অধ্যয়ন করতে পারেন। 100 μm রেজোলিউশন সহ মোটরযুক্ত XY স্টেজ নমুনার সুনির্দিষ্ট অবস্থান সক্ষম করে, যা জটিল কাঠামোর সাথে জৈবিক নমুনাগুলির চিত্রগ্রহণের জন্য আদর্শ করে তোলে।

সেমিকন্ডাক্টর গবেষণা এবং উন্নয়নের ক্ষেত্রে, অ্যাটমএজ প্রো পারমাণবিক স্তরে সেমিকন্ডাক্টর উপকরণ এবং ডিভাইসগুলি বিশ্লেষণ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। 0.1Hz-30Hz এর স্ক্যানিং গতির পরিসীমা দ্রুত ডেটা অর্জনের অনুমতি দেয়, যা সেমিকন্ডাক্টর কাঠামো চিহ্নিত করতে এবং ত্রুটি সনাক্ত করতে এটি একটি মূল্যবান সরঞ্জাম করে তোলে।

আরও, অ্যাটমএজ প্রো পৃষ্ঠ বিজ্ঞান এবং পাতলা ফিল্ম বিশ্লেষণের অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্যও উপযুক্ত। গবেষকরা এই অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি ব্যবহার করে পাতলা ফিল্মের বৈশিষ্ট্য, পৃষ্ঠের রুক্ষতা এবং টপোগ্রাফিক্যাল বৈশিষ্ট্যগুলি উচ্চ নির্ভুলতার সাথে তদন্ত করতে পারেন। 100 μm x 100 μm x 10 μm এর স্ক্যানিং রেঞ্জ বিস্তৃত পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়নের জন্য একটি বহুমুখী প্ল্যাটফর্ম সরবরাহ করে।

সংক্ষেপে, ট্রুথ ইন্সট্রুমেন্টস অ্যাটমএজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ একটি বহুমুখী সরঞ্জাম যা উপকরণ বিজ্ঞান, জীববিজ্ঞান, সেমিকন্ডাক্টর গবেষণা এবং পৃষ্ঠ বিজ্ঞানের মতো বিভিন্ন ক্ষেত্রে অ্যাপ্লিকেশন খুঁজে পায়। এর উচ্চ রেজোলিউশন, স্ক্যানিং গতি এবং মোটরযুক্ত XY স্টেজ এটিকে গবেষক এবং বিজ্ঞানীদের জন্য একটি আদর্শ পছন্দ করে তোলে যারা উন্নত ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্যকরণ এবং পারমাণবিক রেজোলিউশন ইমেজিং ক্ষমতা অর্জন করতে চান।

একটি অনুসন্ধান পাঠান

একটি দ্রুত উদ্ধৃতি পান