Mikroskop Sił Atomowych o Wysokiej Rozdzielczości 0,04 Nm Mikroskop Przemysłowy do Analizy w Skali Nano

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych (AFM) jest wszechstronnym narzędziem do analizy powierzchni, powszechnie stosowanym w różnych zastosowaniach naukowych i przemysłowych.To najnowocześniejsze urządzenie oferuje wyjątkowe możliwości skanowania i precyzyjne obrazowanie do szczegółowej analizy próbek.

Jedną z kluczowych cech AFM jest imponujący zakres prędkości skanowania, który umożliwia precyzyjne skanowanie z prędkościami od 0,1 Hz do 30 Hz.Ta elastyczność prędkości skanowania umożliwia użytkownikom dostosowanie ustawień w oparciu o specyficzne wymagania swoich eksperymentów, zapewniając dokładne i skuteczne wyniki.

Z zakresem skanowania 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM zapewnia kompleksowy widok powierzchni próbki o wysokiej rozdzielczości.Ten szeroki zakres skanowania umożliwia szczegółowe obrazowanie i analizę różnych typów próbek, co czyni go idealnym narzędziem dla badaczy i naukowców z różnych dziedzin.

AFM został zaprojektowany tak, aby pomieścić wielkości próbek do 25 mm, zapewniając wszechstronność w obsłudze i analizie próbek.Ta hojna pojemność próbki sprawia, że AFM nadaje się do wielu zastosowań, od badań nad nanotechnologią po naukę o materiałach i dalej.

Wyposażony w silnikowany etap XY o rozdzielczości 100 μm, AFM zapewnia precyzyjne i kontrolowane poruszanie się etapu próbki podczas skanowania.Ta zaawansowana funkcja sterowania etapem pozwala na dokładne ustawienie próbki, umożliwiając wysokiej jakości obrazowanie i analizę z minimalnym błędem.

AFM oferuje różne tryby skanowania, w tym tryby kontaktu, dotykania, bez kontaktu, siły bocznej i modulacji siły.Te różne tryby skanowania zapewniają użytkownikom elastyczność w zakresie technik obrazowania i analizy, umożliwiające kompleksowe badanie powierzchni i właściwości próbki.

Podsumowując, mikroskop sił atomowych jest potężnym i wszechstronnym narzędziem do analizy powierzchni, powszechnie stosowanym w badaniach naukowych, charakterystyce materiałów i zastosowaniach przemysłowych.Z zaawansowanymi możliwościami skanowaniaW celu uzyskania dokładnych obrazów i wszechstronnych trybów skanowania AFM jest niezbędnym instrumentem dla naukowców poszukujących szczegółowych informacji na temat właściwości różnych próbek.

Charakterystyka:

• Nazwa produktu: Mikroskop siły atomowej
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz-30 Hz
• Zakres skanowania: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Etap próbkowania: Etap XY z silnikiem o rozdzielczości 100 μm
• Tryby skanowania: kontakt, uderzenie, bezkontakt, siła boczna, modulacja siły
• Rozdzielczość: 0,04 Nm

Parametry techniczne:

Zastosowanie:

AtomEdge Pro Atomic Force Microscope firmy Truth Instruments, pochodzący z Chin, jest najnowocześniejszym narzędziem zaprojektowanym do charakterystyki w nanoskali i obrazowania atomów.Z jego zaawansowanymi funkcjami i możliwościami, produkt ten nadaje się do szerokiego zakresu zastosowań i scenariuszy.

Jednym z kluczowych scenariuszy zastosowań dla AtomEdge Pro jest badanie nauk o materiałach.Naukowcy mogą wykorzystać ten mikroskop do zbadania morfologii powierzchni i właściwości mechanicznych różnych materiałów na poziomie nanoskalowymWysoka rozdzielczość 0,04 nm pozwala na szczegółowe obrazowanie struktur atomowych, co czyni go niezbędnym narzędziem do badania właściwości materiałów.

Innym ważnym obszarem zastosowań AtomEdge Pro jest nauka biologiczna. Biolodzy mogą wykorzystać ten instrument do badania prób biologicznych, takich jak komórki i tkanki,z wysoką precyzją i rozdzielczościąZmotywowany etap XY o rozdzielczości 100 μm umożliwia precyzyjne pozycjonowanie próbek, co czyni go idealnym do obrazowania próbek biologicznych o złożonych strukturach.

W dziedzinie badań i rozwoju półprzewodników, AtomEdge Pro może być używany do analizy materiałów i urządzeń półprzewodnikowych na poziomie atomowym.1Hz-30Hz umożliwia szybkie pozyskiwanie danych, co czyni go cennym narzędziem do charakterystyki struktur półprzewodników i wykrywania wad.

Ponadto AtomEdge Pro nadaje się również do zastosowań w dziedzinie nauki o powierzchni i analizy cienkich folii.szorstkość powierzchniZakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm zapewnia wszechstronną platformę do badania szerokiego zakresu właściwości powierzchni.

Podsumowując, mikroskop siły atomowej Truth Instruments AtomEdge Pro jest wszechstronnym narzędziem, które znajduje zastosowanie w różnych dziedzinach, takich jak nauka o materiałach, biologia, badania półprzewodników,i nauki o powierzchniWysoka rozdzielczość, szybkość skanowania,i zmotoryzowany etap XY czynią go idealnym wyborem dla badaczy i naukowców poszukujących zaawansowanej charakterystyki nanoskalowej i zdolności obrazowania atomowej.