High Resolution Atomic Force Microscope 0,04 Nm Industriemikroskop zur Analyse im Nanobereich

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein vielseitiges Werkzeug für die Oberflächenanalyse, das häufig in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Dieses hochmoderne Gerät bietet außergewöhnliche Scanfunktionen und präzise Bildgebung für detaillierte Analysen von Proben.

Eines der Hauptmerkmale des AFM ist sein beeindruckender Scan-Geschwindigkeitsbereich, der präzises Scannen mit Geschwindigkeiten von 0,1 Hz bis 30 Hz ermöglicht. Diese Flexibilität bei der Scangeschwindigkeit ermöglicht es Benutzern, die Einstellungen basierend auf den spezifischen Anforderungen ihrer Experimente anzupassen und so genaue und effiziente Ergebnisse zu gewährleisten.

Mit einem Scanbereich von 100 μm X 100 μm X 10μm bietet das AFM eine umfassende Ansicht der Probenoberfläche mit hoher Auflösung. Dieser breite Scanbereich ermöglicht eine detaillierte Bildgebung und Analyse verschiedener Probentypen und macht es zu einem idealen Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler in einer Vielzahl von Bereichen.

Das AFM ist für Probengrößen von bis zu 25 mm ausgelegt und bietet Vielseitigkeit bei der Probenhandhabung und -analyse. Diese großzügige Probengrößenkapazität macht das AFM für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Nanotechnologieforschung bis zur Materialwissenschaft und darüber hinaus.

Ausgestattet mit einem motorisierten XY-Tisch mit 100 μm Auflösung gewährleistet das AFM eine präzise und kontrollierte Bewegung des Probentisches während des Scannens. Diese fortschrittliche Tischsteuerungsfunktion ermöglicht eine genaue Positionierung der Probe und ermöglicht eine hochwertige Bildgebung und Analyse mit minimalem Fehler.

Das AFM bietet eine Vielzahl von Scanmodi, darunter Kontakt-, Tapping-, Non-Contact-, Lateral Force- und Force Modulation-Modi. Diese verschiedenen Scanmodi bieten Benutzern Flexibilität bei Bildgebungs- und Analysetechniken und ermöglichen eine umfassende Untersuchung von Probenoberflächen und -eigenschaften.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für die Oberflächenanalyse ist, das häufig in der wissenschaftlichen Forschung, der Materialcharakterisierung und industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Mit seinen fortschrittlichen Scanfunktionen, der präzisen Bildgebung und den vielseitigen Scanmodi ist das AFM ein unverzichtbares Instrument für Forscher und Wissenschaftler, die detaillierte Einblicke in die Eigenschaften verschiedener Proben suchen.

Eigenschaften:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Scangeschwindigkeit: 0,1 Hz - 30 Hz
• Scanbereich: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Probentisch: Motorisierter XY-Tisch mit 100 μm Auflösung
• Scanmodi: Kontakt, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation
• Auflösung: 0,04 Nm

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop von Truth Instruments, das aus China stammt, ist ein hochmodernes Werkzeug für die Charakterisierung im Nanobereich und die Bildgebung mit atomarer Auflösung. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten eignet sich dieses Produkt für eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten und -szenarien.

Ein wichtiges Anwendungsszenario für das AtomEdge Pro ist die Materialforschung. Forscher können dieses Rasterkraftmikroskop verwenden, um die Oberflächenmorphologie und die mechanischen Eigenschaften verschiedener Materialien auf der Nanoskala zu untersuchen. Die hohe Auflösung von 0,04 nm ermöglicht eine detaillierte Bildgebung von Atomstrukturen und macht es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Untersuchung von Materialeigenschaften.

Ein weiterer wichtiger Anwendungsbereich für das AtomEdge Pro ist der Bereich der Biowissenschaften. Biologen können dieses Instrument verwenden, um biologische Proben wie Zellen und Gewebe mit hoher Präzision und Auflösung zu untersuchen. Der motorisierte XY-Tisch mit 100 μm Auflösung ermöglicht eine präzise Positionierung der Proben und ist somit ideal für die Bildgebung biologischer Proben mit komplexen Strukturen.

Im Bereich der Halbleiterforschung und -entwicklung kann das AtomEdge Pro zur Analyse von Halbleitermaterialien und -bauelementen auf atomarer Ebene eingesetzt werden. Der Scan-Geschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz ermöglicht eine schnelle Datenerfassung und macht es zu einem wertvollen Werkzeug zur Charakterisierung von Halbleiterstrukturen und zur Erkennung von Defekten.

Darüber hinaus eignet sich das AtomEdge Pro auch für Anwendungen in der Oberflächenwissenschaft und Dünnschichtanalyse. Forscher können dieses Rasterkraftmikroskop verwenden, um Dünnschichteigenschaften, Oberflächenrauheit und topografische Merkmale mit hoher Genauigkeit zu untersuchen. Der Scanbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm bietet eine vielseitige Plattform für die Untersuchung einer Vielzahl von Oberflächeneigenschaften.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop ein vielseitiges Werkzeug ist, das in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaft, Biologie, Halbleiterforschung und Oberflächenwissenschaft Anwendung findet. Seine hohe Auflösung, Scangeschwindigkeit und der motorisierte XY-Tisch machen es zu einer idealen Wahl für Forscher und Wissenschaftler, die fortschrittliche Charakterisierung im Nanobereich und Bildgebungsfähigkeiten mit atomarer Auflösung suchen.