Hochstabile AFM für Materialbiologie und Elektronikbildgebung Beschreibung des Produkts: Das AtomKraftmikroskop ist ein hochmodernes wissenschaftliches Instrument, das hochauflösende Bilder und präzise Messungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Nanotechnologie, Materialwissenschaften,und ...

Rasterkraftmikroskop für präzise Oberflächenanalyse im Nanobereich Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das Multi-Mode-Messfunktionen für die Oberflächenanalyse auf atomarer Auflösungsebene bietet. Dieses fortschrittliche Mikroskop ermöglicht eine ...

Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop für Wafer Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument zur hochauflösenden Bildgebung und Oberflächenanalyse in verschiedenen Bereichen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaften und Biologie. Mit seinen fortschrittlichen F...

Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument zur hochpräzisen Oberflächenanalyse und elektrischen Messung im Nanobereich. Bekannt für seine Vielseitigkeit und fortschrittliche Funktionalität, bietet dieses AFM eine umfassende Reihe von Funktionen, die es zu ...

Beschreibung des Produkts:Das AtomKraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das zur hochpräzisen Oberflächenanalyse und -charakterisierung im Nanometermaßstab entwickelt wurde.Dieses multifunktionale Messgerät integriert mehrere fortgeschrittene Mikroskopieverfahren, einschließlich ...

All-in-One-Rasterkraftmikroskop für flexible, präzise Bedienung Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Werkzeug für elektrische Messungen und Analysen im Nanobereich. Dieses fortschrittliche Instrument bietet beispiellose Fähigkeiten beim Scannen und Abbilden auf ...

Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop für die Nanobereichsanalyse Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein vielseitiges Werkzeug für die Oberflächenanalyse, das häufig in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Dieses hochmoderne Gerät bietet ...

Advanced Scanning Probe Microscope für Nanomessungen Beschreibung des Produkts: Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Werkzeug, das mehrmodische Messfunktionen mit Nanometer-Auflösung bietet.Es ist ein wichtiges Instrument für verschiedene Forschungs- und industrielle Anwendungen.. Mit ...

Multifunktionales Rasterkraftmikroskop mit MFM-, EFM- und PFM-Modi Produktbeschreibung: Eines der Hauptmerkmale des AFM sind seine geringen Rauschpegel sowohl in Z- als auch in XY-Richtung, die genaue und zuverlässige Messungen gewährleisten. Der Rauschpegel in Z-Richtung beträgt beeindruckende 0,04 ...