Hochstabile Rasterkraftmikroskopie 0,1 Hz - 30 Hz AFM-Systeme für Materialbiologie und Elektronik-Bildgebung

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop ist ein hochmodernes wissenschaftliches Instrument, das hochauflösende Bilder und präzise Messungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Nanotechnologie, Materialwissenschaften,und biologische ForschungDieses fortschrittliche Mikroskop nutzt die XYZ-Drei-Achsen-Full-Sample-Scanning-Methode, die eine detaillierte Analyse von Proben mit außergewöhnlicher Genauigkeit ermöglicht.

Eine der wichtigsten Eigenschaften des Atomkraftmikroskops ist die Fähigkeit, Proben mit einer Größe von bis zu 25 mm aufzunehmen, was Flexibilität und Vielseitigkeit für verschiedene Forschungsbedürfnisse bietet.Ob Sie kleine Nanomaterialien oder größere biologische Proben untersuchen, kann dieses Mikroskop eine Vielzahl von Probengrößen problemlos behandeln.

Wenn es um Präzision geht, liefert das Atomic Force Microscope eine hervorragende Leistung mit einem geringen Geräuschpegel von 0,4 nm in der XY-Richtung.Dies stellt sicher, dass Ihre Messungen frei von Störungen sind, so daß Sie für Ihre Experimente genaue und zuverlässige Daten erhalten.

Darüber hinaus bietet das Atomkraftmikroskop eine ausgezeichnete Linearität mit nur 0,02% Nichtlinearität in der XY-Richtung und 0,08% in der Z-Richtung.Dieses hohe Maß an Linearität stellt sicher, dass Ihre Messungen sehr genau und konsistent sind, so dass Sie die feinsten Details Ihrer Proben genau erfassen können.

In Bezug auf die Scanning-Fähigkeiten bietet das Atomic Force Microscope eine Scanning-Rate zwischen 0,1 und 30 Hz, so dass Sie die Scanning-Geschwindigkeit an Ihre spezifischen Anforderungen anpassen können.Ob Sie eine große Fläche schnell scannen oder detaillierte Scans langsamer durchführen müssen, bietet dieses Mikroskop die Flexibilität, Ihren Forschungsbedürfnissen gerecht zu werden.

Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten eignet sich das Atomkraftmikroskop für eine Vielzahl von Bildmodus, einschließlich Kontaktmodus, Kontaktlosmodus und Mehrfachmodus.Diese Vielseitigkeit ermöglicht es Ihnen, den für Ihre spezifische Anwendung am besten geeigneten Modus zu wählen, ob Sie hochauflösende Bilder, präzise Messungen oder eine sanfte Aufnahme empfindlicher Proben benötigen.

Insgesamt ist das Atomkraftmikroskop ein leistungsfähiges und vielseitiges Instrument, das eine außergewöhnliche Leistung für wissenschaftliche Forschung und Analyse bietet.Mit seiner XYZ-Drei-Achsen-Full Sample Scanning-Methode, große Probengrößenkapazität, geringe Geräuschbelastung, hohe Linearität und einstellbare Scanrate,Dieses Mikroskop bietet Forschern die Werkzeuge, die sie benötigen, um die Welt im Nanobereich mit Präzision und Genauigkeit zu erforschen..

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Nichtlinearität: 0,02% in der Richtung XY und 0,08% in der Richtung Z
• Messbereich: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Scanning-Methode: XYZ Dreiachsige Vollprobenscanning
• Geräuschpegel in der Z-Richtung: 0,04 Nm
• Scanning Rate: 0,1 bis 30 Hz
• Eigenschaften:
  • Mehrfachmodus
  • Atomlösung
  • Multimode-Messung

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Atom Force Microscope von Truth Instruments, das AtomEdge Pro, ist ein hochmodernes Instrument, das für die Analyse im Nanobereich, nanomechanische Tests und die Kartierung von Oberflächenverhältnissen entwickelt wurde.Mit seinen außergewöhnlichen Leistungsmerkmalen und präzisen Fähigkeiten, ist dieses Gerät ideal für eine Vielzahl von Anwendungsfällen und Szenarien.

Der AtomEdge Pro, hergestellt in CHINA, bietet eine Scannrate von 0,1 bis 30 Hz, die eine schnelle und genaue Scan von Proben ermöglicht.4 Nm sorgen für qualitativ hochwertige Bildgebungs- und Messwerte, so dass es für Anwendungen geeignet ist, die eine detaillierte Oberflächenanalyse erfordern.

Der Scanningbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm bietet eine Vielseitigkeit der Probengrößen und bietet Platz für verschiedene Materialien und Strukturen für umfassende Tests.Die dreiachsige Vollprobenscanning-Methode XYZ ermöglicht eine präzise Positionierung und Scanning von Proben, die für detaillierte nanomechanische Prüfungen und die Kartierung der Oberflächenverhältnisse unerlässlich sind.

Darüber hinaus bietet der AtomEdge Pro eine ausgezeichnete Linearität mit nur 0,02% in der XY-Richtung und 0,08% in der Z-Richtung.Gewährleistung genauer und zuverlässiger Messungen für fortgeschrittene Forschungs- und Entwicklungszwecke.

Zu den Anwendungsbereichen für das AtomEdge Pro gehören akademische Forschungseinrichtungen, Materialwissenschaftslabore, Halbleiterindustrie, Biotechnologieunternehmen und mehr.Forscher und Wissenschaftler können mit diesem fortschrittlichen Atomkraftmikroskop Oberflächenmerkmale untersuchen, mechanische Eigenschaften und nanoskalige Strukturen verschiedener Materialien.

Zu den Szenarien, in denen AtomEdge Pro hervorragend ist, gehören die topographische Bildgebung von Nanomaterialien, die Kraftspektroskopie zur Analyse mechanischer Eigenschaften, die Messung der Oberflächenrauheit und die Kartierung der Haftkraft.Seine hohe Präzision und Leistung machen ihn zu einem unverzichtbaren Instrument für die Durchführung eingehender Analysen und Forschung auf dem Gebiet der Nanotechnologie.