Высокоустойчивый микроскоп AFM 0,1 - 30 Гц Системы AFM для биологии материалов и электронной визуализации

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы - это передовой научный инструмент, который предлагает изображения высокого разрешения и точные измерения для широкого спектра применений в нанотехнологии, материаловедении,и биологические исследованияЭтот современный микроскоп использует метод XYZ Three-Axis Full Sample Scanning, позволяющий проводить детальный анализ образцов с исключительной точностью.

Одной из ключевых особенностей микроскопа атомной силы является его способность вмещать образцы размером до 25 мм, обеспечивая гибкость и универсальность для различных исследовательских нужд.Исследуете ли вы небольшие наноматериалы или более крупные биологические образцы, этот микроскоп может легко обрабатывать широкий диапазон размеров образцов.

Когда дело доходит до точности, микроскоп атомной силы обеспечивает выдающуюся производительность с низким уровнем шума 0,4 нм в направлении XY.Это гарантирует, что ваши измерения свободны от помех, что позволяет получить точные и надежные данные для ваших экспериментов.

Кроме того, микроскоп атомной силы предлагает отличную линейность с нелинейностью только 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z.Этот высокий уровень линейности гарантирует высокую точность и последовательность измерений, что позволяет с точностью фиксировать тонкие детали образцов.

С точки зрения сканирования, микроскоп атомной силы обеспечивает частоту сканирования от 0,1 до 30 Гц, что позволяет регулировать скорость сканирования в соответствии с вашими конкретными требованиями.Необходимо ли быстро сканировать большую площадь или выполнять детальные сканирования более медленным темпом, этот микроскоп предлагает гибкость для удовлетворения ваших исследовательских потребностей.

Благодаря своим передовым функциям и возможностям, микроскоп атомной силы подходит для широкого спектра режимов изображения, включая контактный режим, бесконтактный режим и многократный режим.Эта универсальность позволяет вам выбрать наиболее подходящий режим для вашего конкретного применения, независимо от того, нужны ли вам изображения с высоким разрешением, точные измерения или нежная визуализация деликатных образцов.

В целом, микроскоп атомной силы является мощным и универсальным инструментом, который предлагает исключительную производительность для научных исследований и анализа.С его XYZ трехосной методом полного сканирования образцов, большая емкость образца, низкий уровень шума, высокая линейность и регулируемая скорость сканирования,Этот микроскоп предоставляет исследователям инструменты, необходимые для изучения наномасштабного мира с точностью и точностью.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
• Диапазон сканирования: 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм
• Способ сканирования: XYZ Трехосная полная сканировка образца
• Уровень шума в направлении Z: 0,04 Нм
• Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
• Особенности:
  • Некоторые режимы
  • Атомное разрешение
  • Многорежимные измерения

Технические параметры:

Применение:

Микроскоп атомной силы Truth Instruments, AtomEdge Pro, является передовым инструментом, предназначенным для анализа наномасштаба, наномеханических испытаний и картографирования свойств поверхности.С его исключительными характеристиками и точными возможностями, это устройство идеально подходит для широкого спектра случаев и сценариев применения продукта.

Произведенный в Китае, AtomEdge Pro предлагает частоту сканирования от 0,1 до 30 Гц, что позволяет быстро и точно сканировать образцы.4 Нм гарантируют высокое качество результатов визуализации и измерений, что делает его подходящим для применений, требующих детального анализа поверхности.

Диапазон сканирования 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм обеспечивает универсальность в размерах образцов, вмещающих различные материалы и структуры для комплексного тестирования.Трехосный метод сканирования полного образца XYZ позволяет точно позиционировать и сканировать образцы, необходимые для детальных наномеханических испытаний и картографирования свойств поверхности.

Кроме того, AtomEdge Pro может похвастаться превосходной линейностью с только 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z,обеспечение точных и надежных измерений в целях передовых исследований и разработок.

Применение продуктов для AtomEdge Pro включает в себя академические научно-исследовательские учреждения, лаборатории материаловедения, полупроводниковую промышленность, биотехнологические компании и многое другое.Исследователи и ученые могут использовать этот современный микроскоп атомной силы для изучения характеристик поверхности, механические свойства и наноразмерные структуры различных материалов.

Сценарии, в которых AtomEdge Pro превосходит другие, включают топографическое изображение наноматериалов, силовую спектроскопию для анализа механических свойств, измерения шероховатости поверхности и картографирование силы адгезии..Его высокая точность и производительность делают его незаменимым инструментом для проведения углубленных анализов и исследований в области нанотехнологий.