
高安定性AFM顕微鏡 0.1 Hz - 30 Hz AFMシステム 材料生物学および電子イメージング用
高安定性AFM顕微鏡
,AFM顕微鏡 0.1 Hz
,30 Hz AFMシステム
基本的な特性
取引物件
高安定性AFM 材料生物学と電子画像
製品説明:
原子力顕微鏡は 最先端の科学機器で 高解像度画像と正確な測定を ナノテクノロジー 材料科学生物研究この先進的な顕微鏡は XYZ 三軸フルサンプルのスキャン方法を利用し,例外的な精度でサンプルを詳細に分析することができます.
原子力顕微鏡の重要な特徴の1つは,最大25mmのサンプルを収納できる能力であり,様々な研究ニーズに柔軟性と多用途性を提供します.小さいナノ材料や大きな生物学的サンプルを 調べているかどうかこの顕微鏡は 幅広いサンプルサイズを 簡単に処理できます
精度に関しては,原子力顕微鏡はXY方向で0.4nmの低騒音レベルで優れた性能を提供します.これは,あなたの測定が干渉から自由であることを保証します実験用の正確で信頼性の高いデータを得ることができます.
さらに,原子力顕微鏡は XY方向では 0.02% の非線形性,Z方向では 0.08% の非線形性で優れた線形性を提供しています.この高水準の線形性は,測定が非常に正確で一貫していることを保証します精度で細かい詳細を捉えることができます
スキャニング能力に関しては,原子力顕微鏡は 0.1 から 30 Hz のスキャニング速度を供給し,特定の要求に応じてスキャニング速度を調整することができます.広い領域を素早くスキャンするか,よりゆっくりとしたペースで詳細なスキャンを行うかこの顕微鏡は,あなたの研究ニーズを満たすための柔軟性を提供します.
アトミックフォース顕微鏡は,高度な機能と機能により,コンタクトモード,非コンタクトモード,マルチモードを含む幅広いイメージングモードに適しています.この多様性は,あなたの特定のアプリケーションに最も適切なモードを選択することができます高解像度画像や精密な測定や 繊細なサンプルを 優雅に撮影する必要があります
全体として,原子力顕微鏡は 科学研究と分析のために例外的な性能を提供する強力で汎用的な機器ですXYZ 三軸全サンプルスキャン方法大きいサンプルサイズ容量,低騒音レベル,高線性,調整可能なスキャン速度この顕微鏡は 研究者たちに ナノスケールの世界を 精度と精度で 探求するのに必要な ツールを提供します.
特徴:
- 製品名:原子力顕微鏡
- 非線形性: XY方向では0.02%,Z方向では0.08%.
- スキャン範囲: 100 μm X100 μm x 10 μm
- スキャニング方法:XYZ 三軸全サンプルスキャン
- Z方向の騒音レベル: 0.04 Nm
- スキャンレート: 0.1-30 Hz
- 特徴:
- 複数のモード
- 原子解析
- 多モード測定
技術パラメータ:
スキャン範囲 | 100 μm × 100 μm × 10 μm |
非線形性 | 00.02% XY方向 0.08% Z方向 |
Z方向の騒音レベル | 0.04 Nm |
スキャン方法 | XYZ 三軸全サンプルスキャン |
スキャン速度 | 0.1〜30 Hz |
XY方向の騒音レベル | 0.4 Nm |
サンプルサイズ | 25mm |
応用:
Truth Instruments の原子力顕微鏡 AtomEdge Pro は,ナノスケール分析,ナノメカニカルテスト,表面特性のマッピングのために設計された最先端の機器です.卓越した性能と精密な能力でこの装置は,幅広い製品アプリケーションの機会とシナリオに最適です.
中国で製造されたAtomEdge Proは,0.1〜30Hzのスキャン速度を提供し,サンプルを迅速かつ正確にスキャンすることができます.XY方向の低騒音レベルは0です.4 Nm は 高品質の画像と測定結果を保証します詳細な表面分析を必要とするアプリケーションに適しています.
100μm×100μm×10μmのスキャニング範囲は,包括的な試験のための様々な材料と構造に対応するサンプルサイズに多用性を提供します.XYZ3軸全サンプルスキャン方法は,正確な位置付けとサンプルスキャンを可能にします.詳細なナノメカニカル試験と表面特性のマッピングには不可欠です.
XY方向で0.02%とZ方向で0.08%で優れた線形性を誇っています先進的研究開発目的の正確かつ信頼性の高い測定を保証する.
AtomEdge Proの製品アプリケーションには,学術研究機関,材料科学研究室,半導体産業,バイオテクノロジー企業などがあります.研究 者 や 科学 者 たち は,この 進歩 し た 原子 力 顕微鏡 を 用い て 表面 の 特質 を 研究 できる様々な材料のナノスケール構造.
AtomEdge Pro が優れているシナリオには,ナノ材料の地形画像,機械特性分析のための力スペクトロスコピー,表面粗さ測定,粘着力マッピングが含まれます.その高精度と性能により ナノテクノロジーの分野での深層分析と研究を行うのに不可欠なツールとなっています