Microscopio AFM ad alta stabilità 0,1 Hz - 30 Hz Sistemi AFM per materiali Biologia e Imaging elettronico

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica è uno strumento scientifico all'avanguardia che offre immagini ad alta risoluzione e misurazioni precise per una vasta gamma di applicazioni in nanotecnologia, scienza dei materiali,e ricerca biologicaQuesto microscopio avanzato utilizza il metodo di scansione completa di campioni a tre assi XYZ, consentendo un'analisi dettagliata dei campioni con una precisione eccezionale.

Una delle caratteristiche chiave del microscopio della forza atomica è la sua capacità di ospitare campioni fino a 25 mm di dimensioni, fornendo flessibilità e versatilità per varie esigenze di ricerca.Se si esaminano piccoli nanomateriali o campioni biologici più grandi, questo microscopio può gestire una vasta gamma di dimensioni di campione con facilità.

Quando si tratta di precisione, il microscopio Atomic Force offre prestazioni eccezionali con un basso livello di rumore di 0,4 nm nella direzione XY.Questo garantisce che le misurazioni siano libere da interferenze, che consente di ottenere dati precisi e affidabili per i propri esperimenti.

Inoltre, il microscopio della forza atomica offre un'eccellente linearità con solo 0,02% di non linearità nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z.Questo elevato livello di linearità garantisce che le misurazioni siano molto accurate e coerenti, che consente di catturare con precisione i dettagli sottili dei campioni.

In termini di capacità di scansione, il microscopio Atomic Force offre una frequenza di scansione compresa tra 0,1 e 30 Hz, consentendo di regolare la velocità di scansione in base alle proprie esigenze specifiche.Se è necessario scansionare rapidamente una grande area o eseguire scansioni dettagliate a un ritmo più lento, questo microscopio offre la flessibilità di soddisfare le vostre esigenze di ricerca.

Con le sue caratteristiche e capacità avanzate, il microscopio di forza atomica è adatto a una vasta gamma di modalità di imaging, tra cui modalità di contatto, modalità senza contatto e modalità multiple.Questa versatilità consente di scegliere la modalità più appropriata per la propria applicazione specifica, sia che si abbiano bisogno di immagini ad alta risoluzione, misure precise o di immagini delicate di campioni delicati.

Nel complesso, il microscopio della forza atomica è uno strumento potente e versatile che offre prestazioni eccezionali per la ricerca e l'analisi scientifica.Con il suo metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ, grande capacità di campionamento, bassi livelli di rumore, elevata linearità e velocità di scansione regolabile,Questo microscopio fornisce ai ricercatori gli strumenti di cui hanno bisogno per esplorare il mondo a nanoscala con precisione e precisione.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Non linearità: 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z
• Distanza di scansione: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Metodo di scansione: XYZ Scansione completa del campione a tre assi
• Livello di rumore nella direzione Z: 0,04 Nm
• Velocità di scansione: 0,1-30 Hz
• Caratteristiche:
  • Modalità multiple
  • Risoluzione atomica
  • Misurazione multi-modalità

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio della forza atomica di Truth Instruments, l'AtomEdge Pro, è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi su scala nanometrica, i test nanomeccanici e la mappatura delle proprietà superficiali.Con le sue eccezionali prestazioni e capacità di precisione, questo dispositivo è ideale per una vasta gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto.

Prodotto in Cina, l'AtomEdge Pro offre una velocità di scansione che va da 0,1 a 30 Hz, consentendo scansioni rapide e accurate di campioni.4 Nm garantisce risultati di imaging e misura di alta qualità, che lo rende adatto ad applicazioni che richiedono analisi dettagliate della superficie.

La gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm fornisce versatilità nelle dimensioni dei campioni, accogliendo vari materiali e strutture per test completi.Il metodo di scansione a campione completo a tre assi XYZ consente un posizionamento e una scansione precisi dei campioni, essenziali per le prove nanomeccaniche dettagliate e la mappatura delle proprietà superficiali.

Inoltre, l'AtomEdge Pro vanta un'eccellente linearità con solo lo 0,02% nella direzione XY e lo 0,08% nella direzione Z,garantire misure accurate e affidabili per scopi di ricerca e sviluppo avanzati.

Le occasioni di applicazione del prodotto per l'AtomEdge Pro includono istituti di ricerca accademici, laboratori di scienze dei materiali, industria dei semiconduttori, aziende di biotecnologia e altro ancora.Ricercatori e scienziati possono usare questo microscopio di forza atomica avanzato per studiare le caratteristiche della superficie, proprietà meccaniche e strutture su nanoscala di vari materiali.

Gli scenari in cui l'AtomEdge Pro eccelle includono l'imaging topografico dei nanomateriali, la spettroscopia di forza per l'analisi delle proprietà meccaniche, le misurazioni della rugosità superficiale e la mappatura della forza di adesione.La sua elevata precisione e le sue prestazioni ne fanno uno strumento indispensabile per condurre analisi e ricerche approfondite nel campo della nanotecnologia.