Mikroskop AFM o wysokiej stabilności 0,1 Hz - 30 Hz Systemy AFM do obrazowania materiałów, biologii i elektroniki

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych to najnowocześniejsze urządzenie naukowe, które oferuje obrazowanie o wysokiej rozdzielczości i precyzyjne pomiary dla szerokiego zakresu zastosowań w nanotechnologii, nauce o materiałach i badaniach biologicznych. Ten zaawansowany mikroskop wykorzystuje metodę skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ, umożliwiając szczegółową analizę próbek z wyjątkową dokładnością.

Jedną z kluczowych cech mikroskopu sił atomowych jest jego zdolność do pomieszczania próbek o wielkości do 25 mm, co zapewnia elastyczność i wszechstronność dla różnych potrzeb badawczych. Niezależnie od tego, czy badasz małe nanomateriały, czy większe próbki biologiczne, ten mikroskop może z łatwością obsłużyć szeroki zakres rozmiarów próbek.

Jeśli chodzi o precyzję, mikroskop sił atomowych zapewnia wyjątkową wydajność z niskim poziomem szumów 0,4 nm w kierunku XY. Zapewnia to, że pomiary są wolne od zakłóceń, co pozwala na uzyskanie dokładnych i wiarygodnych danych dla eksperymentów.

Ponadto mikroskop sił atomowych oferuje doskonałą liniowość z nieliniowością wynoszącą zaledwie 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z. Ten wysoki poziom liniowości zapewnia, że pomiary są bardzo dokładne i spójne, co pozwala na uchwycenie subtelnych szczegółów próbek z precyzją.

Jeśli chodzi o możliwości skanowania, mikroskop sił atomowych zapewnia prędkość skanowania w zakresie od 0,1 do 30 Hz, co pozwala na dostosowanie prędkości skanowania do konkretnych wymagań. Niezależnie od tego, czy chcesz szybko zeskanować duży obszar, czy wykonać szczegółowe skanowanie w wolniejszym tempie, ten mikroskop oferuje elastyczność, aby sprostać potrzebom badawczym.

Dzięki zaawansowanym funkcjom i możliwościom mikroskop sił atomowych nadaje się do szerokiego zakresu trybów obrazowania, w tym trybu kontaktowego, trybu bezkontaktowego i wielu trybów. Ta wszechstronność pozwala na wybór najbardziej odpowiedniego trybu dla konkretnego zastosowania, niezależnie od tego, czy potrzebujesz obrazów o wysokiej rozdzielczości, precyzyjnych pomiarów, czy delikatnego obrazowania delikatnych próbek.

Ogólnie rzecz biorąc, mikroskop sił atomowych to potężne i wszechstronne urządzenie, które oferuje wyjątkową wydajność w badaniach i analizach naukowych. Dzięki metodzie skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ, dużej pojemności próbek, niskim poziomom szumów, wysokiej liniowości i regulowanej prędkości skanowania, ten mikroskop zapewnia naukowcom narzędzia potrzebne do eksploracji świata w nanoskali z precyzją i dokładnością.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych
• Nieliniowość: 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z
• Zakres skanowania: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Metoda skanowania: skanowanie pełnej próbki w trzech osiach XYZ
• Poziom szumów w kierunku Z: 0,04 Nm
• Prędkość skanowania: 0,1-30 Hz
• Cechy:
  • Wiele trybów
  • Rozdzielczość atomowa
  • Pomiary w wielu trybach

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Mikroskop sił atomowych Truth Instruments, AtomEdge Pro, to najnowocześniejsze urządzenie przeznaczone do analizy w nanoskali, testów nanomechanicznych i mapowania właściwości powierzchni. Dzięki wyjątkowym atrybutom wydajności i precyzyjnym możliwościom, urządzenie to jest idealne do szerokiego zakresu zastosowań i scenariuszy.

Wyprodukowany w CHINACH, AtomEdge Pro oferuje prędkość skanowania w zakresie od 0,1 do 30 Hz, co pozwala na szybkie i dokładne skanowanie próbek. Niski poziom szumów w kierunku XY na poziomie 0,4 Nm zapewnia wysokiej jakości obrazowanie i wyniki pomiarów, dzięki czemu nadaje się do zastosowań wymagających szczegółowej analizy powierzchni.

Zakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm zapewnia wszechstronność w zakresie rozmiarów próbek, dostosowując się do różnych materiałów i struktur w celu kompleksowych testów. Metoda skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ umożliwia precyzyjne pozycjonowanie i skanowanie próbek, co jest niezbędne do szczegółowych testów nanomechanicznych i mapowania właściwości powierzchni.

Ponadto AtomEdge Pro charakteryzuje się doskonałą liniowością wynoszącą zaledwie 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z, co zapewnia dokładne i wiarygodne pomiary do zaawansowanych badań i rozwoju.

Okazje zastosowania produktu dla AtomEdge Pro obejmują akademickie instytucje badawcze, laboratoria nauk o materiałach, przemysł półprzewodników, firmy biotechnologiczne i inne. Naukowcy i badacze mogą wykorzystać ten zaawansowany mikroskop sił atomowych do badania charakterystyki powierzchni, właściwości mechanicznych i struktur w nanoskali różnych materiałów.

Scenariusze, w których AtomEdge Pro przoduje, obejmują obrazowanie topograficzne nanomateriałów, spektroskopię sił do analizy właściwości mechanicznych, pomiary chropowatości powierzchni i mapowanie sił adhezji. Jego wysoka precyzja i wydajność sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie do przeprowadzania dogłębnych analiz i badań w dziedzinie nanotechnologii.