میکروسکوپ AFM با ثبات بالا 0.1 هرتز - 30 هرتز سیستم های AFM برای مواد زیست شناسی و تصویربرداری الکترونیک

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار علمی پیشرفته است که تصویربرداری با وضوح بالا و اندازه گیری های دقیق را برای طیف گسترده ای از کاربردهای نانوتکنولوژی، علوم مواد،و تحقیقات بیولوژیکیاین میکروسکوپ پیشرفته از روش اسکن نمونه کامل سه محور XYZ استفاده می کند که به تجزیه و تحلیل دقیق نمونه ها با دقت استثنایی کمک می کند.

یکی از ویژگی های اصلی میکروسکوپ نیروی اتمی توانایی آن برای پذیرش نمونه های تا 25 میلی متر است که انعطاف پذیری و انعطاف پذیری را برای نیازهای مختلف تحقیقاتی فراهم می کند.آیا شما نانومواد کوچک یا نمونه های بیولوژیکی بزرگتر را بررسی می کنید، این میکروسکوپ می تواند طیف گسترده ای از اندازه نمونه را به راحتی مدیریت کند.

وقتی صحبت از دقت می شود، میکروسکوپ نیروی اتمی با سطح کم سر و صدا 0.4 نانومتر در جهت XY عملکرد برجسته ای را ارائه می دهد.این تضمین می کند که اندازه گیری های شما از مداخله آزاد است، به شما اجازه می دهد تا داده های دقیق و قابل اعتماد را برای آزمایشات خود بدست آورید.

علاوه بر این، میکروسکوپ نیروی اتمی خطی بودن عالی را با تنها 0.02٪ غیر خطی بودن در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z ارائه می دهد.این سطح بالا خطی بودن تضمین می کند که اندازه گیری های شما بسیار دقیق و سازگار است، به شما امکان می دهد تا جزئیات ظریف نمونه های خود را با دقت ضبط کنید.

از نظر قابلیت های اسکن، میکروسکوپ نیروی اتمی نرخ اسکن را از 0.1 تا 30 هرتز فراهم می کند، به شما امکان می دهد سرعت اسکن را با توجه به نیازهای خاص خود تنظیم کنید.آیا شما نیاز به اسکن سریع یک منطقه بزرگ و یا انجام اسکن های دقیق در سرعت آهسته تر، این میکروسکوپ انعطاف پذیری را برای پاسخگویی به نیازهای تحقیقاتی شما ارائه می دهد.

میکروسکوپ نیروی اتمی با ویژگی ها و قابلیت های پیشرفته خود برای طیف گسترده ای از حالت های تصویربرداری از جمله حالت تماس، حالت بدون تماس و حالت های چندگانه مناسب است.این تنوع به شما اجازه می دهد تا مناسب ترین حالت را برای برنامه خاص خود انتخاب کنید، چه شما نیاز به تصاویر با وضوح بالا، اندازه گیری دقیق، یا تصویربرداری ظریف از نمونه های حساس.

به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار قدرتمند و متنوع است که عملکرد استثنایی را برای تحقیقات و تجزیه و تحلیل علمی ارائه می دهد.با روش اسکن نمونه کامل سه محور XYZ، ظرفیت اندازه نمونه بزرگ، سطح کم سر و صدا، خطی بودن بالا و سرعت اسکن قابل تنظیم،این میکروسکوپ به محققان ابزارهایی را می دهد که نیاز دارند تا جهان نانوسکیل را با دقت و دقت کشف کنند.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• عدم خطی بودن: 0.02 در جهت XY و 0.08 در جهت Z
• محدوده اسکن: 100 μm X100 μmx 10 μm
• روش اسکن: XYZ اسکن سه محور نمونه کامل
• سطح سر و صدا در جهت Z: 0.04 Nm
• نرخ اسکن: 0.1-30 هرتز
• ویژگی ها:
  • چند حالت
  • حل مسئله اتمی
  • اندازه گیری چند حالت

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزار حقیقت، AtomEdge Pro، یک ابزار پیشرفته طراحی شده برای تجزیه و تحلیل نانومکانکی، آزمایش نانومکانکی و نقشه برداری خواص سطح است.با ویژگی های عملکرد استثنایی و قابلیت های دقیق، این دستگاه برای طیف گسترده ای از موارد و سناریوهای کاربرد محصول ایده آل است.

AtomEdge Pro که در چین ساخته شده است، نرخ اسکن از 0.1 تا 30 هرتز را ارائه می دهد که امکان اسکن سریع و دقیق نمونه ها را فراهم می کند. سطح کم سر و صدا در جهت XY در 0.4 Nm نتایج تصویربرداری و اندازه گیری با کیفیت بالا را تضمین می کند، که آن را برای کاربردهایی که نیاز به تجزیه و تحلیل سطحی دقیق دارند مناسب می کند.

محدوده اسکن 100 μm x 100 μm x 10 μm تنوع در اندازه نمونه را فراهم می کند و مواد و سازه های مختلفی را برای آزمایش جامع فراهم می کند.روش اسکن نمونه کامل سه محور XYZ امکان موقعیت دقیق و اسکن نمونه ها را فراهم می کند، ضروری برای آزمایش های دقیق نانومکانکی و نقشه برداری خواص سطح است.

علاوه بر این، AtomEdge Pro دارای خطیتی عالی با تنها 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z است،تضمین اندازه گیری دقیق و قابل اعتماد برای اهداف تحقیق و توسعه پیشرفته.

موارد کاربرد محصول برای AtomEdge Pro شامل موسسات تحقیقاتی دانشگاهی، آزمایشگاه های علوم مواد، صنعت نیمه هادی، شرکت های بیوتکنولوژی و موارد دیگر است.محققان و دانشمندان می توانند از این میکروسکوپ پیشرفته نیروی اتمی برای مطالعه ویژگی های سطح استفاده کنند، خواص مکانیکی، و ساختارهای نانوسکیلی مواد مختلف.

سناریوهایی که AtomEdge Pro در آن برجسته است شامل تصویربرداری توپوگرافیک نانوموادها، طیف سنجی نیروی برای تجزیه و تحلیل خواص مکانیکی، اندازه گیری خشکی سطح و نقشه برداری نیروی چسبندگی است..دقت بالا و عملکرد آن آن را به یک ابزار ضروری برای انجام تجزیه و تحلیل عمیق و تحقیقات در زمینه فناوری نانو تبدیل می کند.