Microscopio AFM de alta estabilidad Sistemas AFM de 0,1 Hz a 30 Hz para imágenes de biología de materiales y electrónica

Descripción del producto:

El microscopio de la fuerza atómica es un instrumento científico de vanguardia que ofrece imágenes de alta resolución y mediciones precisas para una amplia gama de aplicaciones en nanotecnología, ciencia de materiales,y la investigación biológicaEste microscopio avanzado utiliza el método de escaneo de muestras completas de tres ejes XYZ, lo que permite un análisis detallado de las muestras con una precisión excepcional.

Una de las características clave del microscopio de fuerza atómica es su capacidad para acomodar muestras de hasta 25 mm de tamaño, proporcionando flexibilidad y versatilidad para diversas necesidades de investigación.Si está examinando pequeños nanomateriales o muestras biológicas más grandes, este microscopio puede manejar una amplia gama de tamaños de muestra con facilidad.

Cuando se trata de precisión, el microscopio de la fuerza atómica ofrece un rendimiento excepcional con un bajo nivel de ruido de 0,4 nm en la dirección XY.Esto asegura que sus mediciones están libres de interferencias, lo que le permite obtener datos precisos y fiables para sus experimentos.

Además, el microscopio de la fuerza atómica ofrece una excelente linealidad con solo un 0,02% de no linealidad en la dirección XY y un 0,08% en la dirección Z.Este alto nivel de linealidad asegura que sus mediciones sean muy precisas y consistentes, lo que le permite capturar los detalles sutiles de sus muestras con precisión.

En términos de capacidades de escaneo, el microscopio de fuerza atómica proporciona una velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 y 30 Hz, lo que le permite ajustar la velocidad de escaneo de acuerdo con sus necesidades específicas.Si necesita escanear rápidamente un área grande o realizar escaneos detallados a un ritmo más lento, este microscopio ofrece la flexibilidad para satisfacer sus necesidades de investigación.

Con sus características y capacidades avanzadas, el microscopio de fuerza atómica es adecuado para una amplia gama de modos de imagen, incluidos el modo de contacto, el modo sin contacto y los modos múltiples.Esta versatilidad le permite elegir el modo más adecuado para su aplicación específica, ya sea que necesite imágenes de alta resolución, mediciones precisas o imágenes suaves de muestras delicadas.

En general, el microscopio de la fuerza atómica es un instrumento potente y versátil que ofrece un rendimiento excepcional para la investigación y el análisis científicos.Con su método de escaneo de muestras completas de tres ejes XYZ, gran capacidad de tamaño de muestra, bajos niveles de ruido, alta linealidad y velocidad de escaneo ajustable,Este microscopio proporciona a los investigadores las herramientas que necesitan para explorar el mundo a nanoescala con precisión y precisión.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• No linealidad: 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z
• Rango de exploración: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Método de escaneo: XYZ Escaneo de muestra completa en tres ejes
• Nivel de ruido en la dirección Z: 0,04 Nm
• Tasa de escaneo: 0,1-30 Hz
• Características:
  • Múltiples modos
  • Resolución atómica
  • Medición en varios modos

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El microscopio de fuerza atómica de Truth Instruments, el AtomEdge Pro, es un instrumento de vanguardia diseñado para análisis a nanoescala, pruebas nanomecánicas y mapeo de propiedades superficiales.Con sus atributos de rendimiento excepcionales y capacidades precisas, este dispositivo es ideal para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos.

Fabricado en China, el AtomEdge Pro ofrece una velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 y 30 Hz, lo que permite escaneos rápidos y precisos de muestras.4 Nm garantiza resultados de medición y imágenes de alta calidad, por lo que es adecuado para aplicaciones que requieren un análisis de superficie detallado.

El rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm proporciona versatilidad en tamaños de muestra, alojando varios materiales y estructuras para pruebas integrales.El método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ permite el posicionamiento y escaneo precisos de las muestras, esencial para ensayos nanomecánicos detallados y el mapeo de las propiedades de la superficie.

Además, el AtomEdge Pro cuenta con una excelente linealidad con sólo 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z,garantizar mediciones precisas y fiables para fines de investigación y desarrollo avanzados.

Las ocasiones de aplicación de productos para el AtomEdge Pro incluyen instituciones académicas de investigación, laboratorios de ciencias de materiales, industria de semiconductores, empresas de biotecnología, y más.Investigadores y científicos pueden utilizar este avanzado microscopio de fuerza atómica para estudiar las características de la superficie, propiedades mecánicas y estructuras a nanoescala de diversos materiales.

Los escenarios en los que AtomEdge Pro sobresale incluyen imágenes topográficas de nanomateriales, espectroscopia de fuerza para análisis de propiedades mecánicas, mediciones de rugosidad superficial y mapeo de fuerzas de adhesión.Su alta precisión y rendimiento la convierten en una herramienta indispensable para llevar a cabo análisis e investigaciones en profundidad en el campo de la nanotecnología.