Hoge stabiliteit AFM-microscoop 0,1 Hz - 30 Hz AFM-systemen voor materialen, biologie en elektronica-beeldvorming

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope is een geavanceerd wetenschappelijk instrument dat beeldvorming met hoge resolutie en precieze metingen biedt voor een breed scala aan toepassingen in nanotechnologie, materiaalwetenschappen,en biologisch onderzoekDeze geavanceerde microscoop maakt gebruik van de XYZ-drie-assige full sample scanning methode, waardoor met uitzonderlijke nauwkeurigheid gedetailleerde analyses van monsters mogelijk zijn.

Eén van de belangrijkste kenmerken van de Atomic Force Microscope is het vermogen om monsters tot 25 mm groot te kunnen bevatten, wat flexibiliteit en veelzijdigheid biedt voor verschillende onderzoeksbehoeften.Of u nu kleine nanomaterialen of grotere biologische monsters onderzoekt, kan deze microscoop gemakkelijk een breed scala aan monstergroottes verwerken.

Als het gaat om precisie, levert de Atomic Force Microscope uitstekende prestaties met een laag geluidsniveau van 0,4 nm in de XY-richting.Dit zorgt ervoor dat uw metingen vrij zijn van interferentie, zodat u accurate en betrouwbare gegevens voor uw experimenten kunt verkrijgen.

Bovendien biedt de Atomic Force Microscope uitstekende lineariteit met slechts 0,02% niet-lineariteit in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting.Dit hoge niveau van lineariteit zorgt ervoor dat uw metingen zeer nauwkeurig en consistent zijn, zodat u de subtiele details van uw monsters nauwkeurig kunt vastleggen.

Wat het scannen betreft, biedt de Atomic Force Microscope een scansnelheid van 0,1 tot 30 Hz, zodat u de scansnelheid kunt aanpassen aan uw specifieke behoeften.Of u snel een groot gebied moet scannen of gedetailleerde scans in een langzamer tempo moet uitvoeren, biedt deze microscoop de flexibiliteit om aan uw onderzoeksbehoeften te voldoen.

Met zijn geavanceerde functies en mogelijkheden is de Atomic Force Microscope geschikt voor een breed scala aan beeldvormende modi, waaronder contactmodus, niet-contactmodus en meerdere modi.Deze veelzijdigheid stelt u in staat om de meest geschikte modus voor uw specifieke toepassing te kiezen, of u nu beelden met een hoge resolutie, nauwkeurige metingen of een zachte afbeelding van delicate monsters nodig heeft.

Over het algemeen is de atoomkrachtmicroscoop een krachtig en veelzijdig instrument dat uitzonderlijke prestaties biedt voor wetenschappelijk onderzoek en analyse.Met de XYZ-drieassige volmonsterscansmethode, grote steekproefcapaciteit, lage geluidsniveaus, hoge lineariteit en instelbare scansnelheid,Deze microscoop biedt onderzoekers de tools die ze nodig hebben om de nanoschaalwereld met precisie en nauwkeurigheid te verkennen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Niet-lineariteit: 0,02% in de XY richting en 0,08% in de Z richting
• Scanderafstand: 100 μm X100 μmx 10 μm
• Scanmethode: XYZ-drieassige volledige monsterscanning
• Ruisniveau in de Z-richting: 0,04 Nm
• Scansnelheid: 0,1-30 Hz
• Kenmerken:
  • Meerdere modus
  • Atoomresolutie
  • Multi-modusmeting

Technische parameters:

Toepassingen:

De AtomEdge Pro, de Atomic Force Microscope van Truth Instruments, is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor nanoschaalanalyse, nanomechanische testen en het in kaart brengen van oppervlakte-eigenschappen.Met zijn uitzonderlijke prestaties en precieze mogelijkheden, is dit apparaat ideaal voor een breed scala aan producttoepassingen en scenario's.

De AtomEdge Pro, vervaardigd in China, biedt een scansnelheid van 0,1 tot 30 Hz, waardoor snelle en nauwkeurige scans van monsters mogelijk zijn.4 Nm zorgt voor beeld- en meetresultaten van hoge kwaliteit, waardoor het geschikt is voor toepassingen die een gedetailleerde oppervlaktanalyse vereisen.

Het scanningbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm biedt veelzijdigheid in steekproefgroottes, waarbij verschillende materialen en structuren voor uitgebreide testen kunnen worden gebruikt.De XYZ-methode voor het scannen van volledige monsters met drie assen maakt een nauwkeurige positionering en scanning van monsters mogelijk., essentieel voor gedetailleerde nano­mechanische tests en het in kaart brengen van oppervlakte-eigenschappen.

Bovendien heeft de AtomEdge Pro een uitstekende lineariteit met slechts 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting,het waarborgen van nauwkeurige en betrouwbare metingen voor geavanceerde onderzoeks- en ontwikkelingsdoeleinden.

De producttoepassingsgelegenheden voor de AtomEdge Pro omvatten academische onderzoeksinstellingen, laboratorium voor materiaalwetenschappen, de halfgeleiderindustrie, biotechnologiebedrijven en meer.Onderzoekers en wetenschappers kunnen deze geavanceerde atoomkrachtmicroscoop gebruiken om de kenmerken van het oppervlak te bestuderen, mechanische eigenschappen en nanoschaalstructuren van verschillende materialen.

Scenario's waarin de AtomEdge Pro uitblinkt, zijn onder meer topografische afbeeldingen van nanomaterialen, krachtspectroscopie voor mechanische eigenschappenanalyse, oppervlakkrapte metingen en aanhechtingskrachtkaarten..De hoge nauwkeurigheid en prestaties maken het een onmisbaar hulpmiddel voor diepgaande analyses en onderzoek op het gebied van nanotechnologie.