Mikroskop AFM Stabilitas Tinggi 0.1 Hz - 30 Hz Sistem AFM Untuk Biologi Bahan Dan Pencitraan Elektronik

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom adalah instrumen ilmiah mutakhir yang menawarkan pencitraan resolusi tinggi dan pengukuran yang tepat untuk berbagai aplikasi dalam nanoteknologi, ilmu material,dan penelitian biologiMikroskop canggih ini menggunakan metode XYZ Three-axis Full Sample Scanning, yang memungkinkan analisis rinci sampel dengan akurasi yang luar biasa.

Salah satu fitur utama dari Mikroskop Kekuatan Atom adalah kemampuannya untuk mengakomodasi sampel hingga ukuran 25 mm, memberikan fleksibilitas dan fleksibilitas untuk berbagai kebutuhan penelitian.Apakah Anda memeriksa nanomaterial kecil atau sampel biologis yang lebih besar, mikroskop ini dapat menangani berbagai ukuran sampel dengan mudah.

Ketika datang ke presisi, Mikroskop Kekuatan Atom memberikan kinerja yang luar biasa dengan tingkat kebisingan rendah 0,4 nm di arah XY.Ini memastikan bahwa pengukuran Anda bebas dari gangguan, memungkinkan Anda untuk mendapatkan data yang akurat dan dapat diandalkan untuk percobaan Anda.

Selanjutnya, Mikroskop Kekuatan Atom menawarkan linearitas yang sangat baik dengan hanya 0,02% nonlinearitas di arah XY dan 0,08% di arah Z.Tingkat linearitas yang tinggi ini memastikan bahwa pengukuran Anda sangat akurat dan konsisten, memungkinkan Anda untuk menangkap detail halus dari sampel Anda dengan presisi.

Dalam hal kemampuan pemindaian, Atomic Force Microscope menyediakan kecepatan pemindaian mulai dari 0,1 hingga 30 Hz, yang memungkinkan Anda menyesuaikan kecepatan pemindaian sesuai dengan kebutuhan spesifik Anda.Apakah Anda perlu dengan cepat memindai area yang besar atau melakukan pemindaian rinci pada kecepatan yang lebih lambat, mikroskop ini menawarkan fleksibilitas untuk memenuhi kebutuhan penelitian Anda.

Dengan fitur dan kemampuannya yang canggih, Mikroskop Kekuatan Atom cocok untuk berbagai mode pencitraan, termasuk Mode Kontak, Mode Tanpa Kontak, dan Multiple Mode.Fleksibilitas ini memungkinkan Anda untuk memilih mode yang paling sesuai untuk aplikasi tertentu Anda, apakah Anda membutuhkan gambar resolusi tinggi, pengukuran yang tepat, atau pencitraan halus dari sampel halus.

Secara keseluruhan, Mikroskop Kekuatan Atom adalah instrumen yang kuat dan serbaguna yang menawarkan kinerja yang luar biasa untuk penelitian dan analisis ilmiah.Dengan metode XYZ Tri-axis Full Sample Scanning, kapasitas ukuran sampel yang besar, tingkat kebisingan rendah, linearitas tinggi, dan kecepatan pemindaian yang dapat disesuaikan,mikroskop ini memberikan para peneliti dengan alat yang mereka butuhkan untuk mengeksplorasi dunia nanoscale dengan presisi dan akurasi.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Nonlinearitas: 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z
• Jangkauan pemindaian: 100 μm X100 μmx 10 μm
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Penuh Tiga sumbu
• Tingkat kebisingan di arah Z: 0,04 Nm
• Tingkat pemindaian: 0,1-30 Hz
• Fitur:
  • Multiple Mode
  • Resolusi Atom
  • Pengukuran multi-mode

Parameter teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Kekuatan Atom dari Truth Instruments, AtomEdge Pro, adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk analisis skala nano, pengujian nanomekanik, dan pemetaan sifat permukaan.Dengan atribut kinerja yang luar biasa dan kemampuan yang tepat, perangkat ini sangat ideal untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk.

Dibuat di Cina, AtomEdge Pro menawarkan kecepatan pemindaian mulai dari 0,1 hingga 30 Hz, memungkinkan pemindaian sampel yang cepat dan akurat.4 Nm memastikan hasil pencitraan dan pengukuran berkualitas tinggi, sehingga cocok untuk aplikasi yang membutuhkan analisis permukaan yang rinci.

Jangkauan pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm memberikan fleksibilitas dalam ukuran sampel, mengakomodasi berbagai bahan dan struktur untuk pengujian komprehensif.Metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ memungkinkan penentuan posisi dan pemindaian sampel yang tepat, sangat penting untuk pengujian nanomekanis yang rinci dan pemetaan sifat permukaan.

Selain itu, AtomEdge Pro menawarkan linearitas yang sangat baik dengan hanya 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z,memastikan pengukuran yang akurat dan dapat diandalkan untuk tujuan penelitian dan pengembangan lanjutan.

Kasus aplikasi produk untuk AtomEdge Pro termasuk lembaga penelitian akademik, laboratorium ilmu material, industri semikonduktor, perusahaan bioteknologi, dan banyak lagi.Peneliti dan ilmuwan dapat menggunakan mikroskop kekuatan atom canggih ini untuk mempelajari karakteristik permukaan, sifat mekanik, dan struktur nanoskala dari berbagai bahan.

Skenario di mana AtomEdge Pro unggul termasuk pencitraan topografi nanomaterial, spektroskopi gaya untuk analisis sifat mekanik, pengukuran kekasaran permukaan dan pemetaan gaya adhesi.Keakuratan dan kinerjanya yang tinggi membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan untuk melakukan analisis dan penelitian mendalam di bidang nanoteknologi.