Microscope AFM à haute stabilité 0,1 Hz - 30 Hz Systèmes AFM pour les matériaux Biologie et électronique d'imagerie

Description du produit :

Le microscope à force atomique est un instrument scientifique de pointe qui offre une imagerie haute résolution et des mesures précises pour un large éventail d'applications en nanotechnologie, en science des matériaux et en recherche biologique. Ce microscope avancé utilise la méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ, permettant une analyse détaillée des échantillons avec une précision exceptionnelle.

L'une des principales caractéristiques du microscope à force atomique est sa capacité à accueillir des échantillons jusqu'à 25 mm de taille, offrant flexibilité et polyvalence pour divers besoins de recherche. Que vous examiniez de petits nanomatériaux ou de plus grands échantillons biologiques, ce microscope peut gérer facilement une large gamme de tailles d'échantillons.

En matière de précision, le microscope à force atomique offre des performances exceptionnelles avec un faible niveau de bruit de 0,4 nm dans la direction XY. Cela garantit que vos mesures sont exemptes d'interférences, ce qui vous permet d'obtenir des données précises et fiables pour vos expériences.

De plus, le microscope à force atomique offre une excellente linéarité avec seulement 0,02 % de non-linéarité dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z. Ce niveau élevé de linéarité garantit que vos mesures sont très précises et cohérentes, ce qui vous permet de capturer les détails subtils de vos échantillons avec précision.

En termes de capacités de balayage, le microscope à force atomique offre une vitesse de balayage allant de 0,1 à 30 Hz, ce qui vous permet d'ajuster la vitesse de balayage en fonction de vos exigences spécifiques. Que vous ayez besoin de balayer rapidement une grande surface ou d'effectuer des balayages détaillés à un rythme plus lent, ce microscope offre la flexibilité nécessaire pour répondre à vos besoins de recherche.

Grâce à ses fonctionnalités et capacités avancées, le microscope à force atomique convient à un large éventail de modes d'imagerie, notamment le mode contact, le mode sans contact et les modes multiples. Cette polyvalence vous permet de choisir le mode le plus approprié pour votre application spécifique, que vous ayez besoin d'images haute résolution, de mesures précises ou d'une imagerie douce d'échantillons délicats.

Dans l'ensemble, le microscope à force atomique est un instrument puissant et polyvalent qui offre des performances exceptionnelles pour la recherche et l'analyse scientifiques. Avec sa méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ, sa capacité de grande taille d'échantillon, ses faibles niveaux de bruit, sa haute linéarité et sa vitesse de balayage réglable, ce microscope fournit aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour explorer le monde à l'échelle nanométrique avec précision et exactitude.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Non-linéarité : 0,02 % dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z
• Plage de balayage : 100 µm X100 µm x 10 µm
• Méthode de balayage : balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ
• Niveau de bruit dans la direction Z : 0,04 nm
• Vitesse de balayage : 0,1-30 Hz
• Caractéristiques :
  • Modes multiples
  • Résolution atomique
  • Mesure multi-mode

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique de Truth Instruments, l'AtomEdge Pro, est un instrument de pointe conçu pour l'analyse à l'échelle nanométrique, les tests nanomécaniques et la cartographie des propriétés de surface. Avec ses attributs de performance exceptionnels et ses capacités précises, cet appareil est idéal pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits.

Fabriqué en CHINE, l'AtomEdge Pro offre une vitesse de balayage allant de 0,1 à 30 Hz, permettant des balayages rapides et précis des échantillons. Le faible niveau de bruit dans la direction XY à 0,4 nm garantit des résultats d'imagerie et de mesure de haute qualité, ce qui le rend adapté aux applications nécessitant une analyse de surface détaillée.

La plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm offre une polyvalence dans les tailles d'échantillons, s'adaptant à divers matériaux et structures pour des tests complets. La méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ permet un positionnement et un balayage précis des échantillons, essentiels pour les tests nanomécaniques détaillés et la cartographie des propriétés de surface.

De plus, l'AtomEdge Pro offre une excellente linéarité avec seulement 0,02 % dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z, garantissant des mesures précises et fiables à des fins de recherche et de développement avancés.

Les occasions d'application du produit pour l'AtomEdge Pro incluent les établissements de recherche universitaires, les laboratoires de science des matériaux, l'industrie des semi-conducteurs, les sociétés de biotechnologie, et plus encore. Les chercheurs et les scientifiques peuvent utiliser ce microscope à force atomique avancé pour étudier les caractéristiques de surface, les propriétés mécaniques et les structures à l'échelle nanométrique de divers matériaux.

Les scénarios où l'AtomEdge Pro excelle incluent l'imagerie topographique des nanomatériaux, la spectroscopie de force pour l'analyse des propriétés mécaniques, les mesures de rugosité de surface et la cartographie de la force d'adhésion. Sa haute précision et ses performances en font un outil indispensable pour mener des analyses et des recherches approfondies dans le domaine de la nanotechnologie.