0.04 nm Atomkraftmikroskop für präzise Nanoskala-Oberflächenanalyse

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das Multi-Mode-Messfunktionen für die Oberflächenanalyse auf atomarer Auflösungsebene bietet. Dieses fortschrittliche Mikroskop ermöglicht eine detaillierte Untersuchung von Proben mit einer Größe von bis zu 25 mm und liefert Forschern unschätzbare Einblicke in verschiedene Materialien und Strukturen.

Eines der Hauptmerkmale des Rasterkraftmikroskops sind seine vielseitigen Abbildungsmodi, zu denen Topographie, Phase, Reibung, laterale Kraft, magnetische Kraft und elektrostatische Kraftabbildung gehören. Diese große Auswahl an Abbildungsmodi ermöglicht es den Benutzern, umfassende Daten über die physikalischen und chemischen Eigenschaften der untersuchten Proben zu sammeln, was es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher in verschiedenen Bereichen macht.

Mit einer bemerkenswerten Auflösung von 0,04 nm ermöglicht das Rasterkraftmikroskop den Benutzern hochpräzise Abbildungen und Analysen, wobei selbst kleinste Details auf der Probenoberfläche erfasst werden. Diese Auflösung ist entscheidend für die Untersuchung von Merkmalen und Strukturen im Nanobereich und liefert Forschern wichtige Informationen für ihre Untersuchungen.

Das Rasterkraftmikroskop bietet einen Scanbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm und ermöglicht so ein detailliertes und präzises Scannen von Proben über einen weiten Bereich. Dieser weite Scanbereich macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Nanotechnologieforschung bis zur Materialwissenschaft und darüber hinaus.

Darüber hinaus verfügt das Rasterkraftmikroskop über einen Scan-Geschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz, der den Benutzern die Flexibilität bietet, die Scan-Geschwindigkeit an ihre spezifischen Anforderungen anzupassen. Diese Funktion ermöglicht eine effiziente Datenerfassung und -analyse, spart Zeit und steigert die Produktivität in Forschungs- und Entwicklungsprozessen.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop ein hochmodernes Instrument ist, das Multi-Mode-Messfunktionen, Oberflächenanalyse auf atomarer Auflösungsebene und hochpräzise Abbildungen bietet. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und vielseitigen Abbildungsmodi ist dieses Mikroskop ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher, die die komplizierte Welt der Nanostrukturen und Materialien erforschen und verstehen wollen.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Probentisch: Piezo-angetriebener XYZ-Tisch
• Probengröße: Bis zu 25 mm
• Auflösung: 0,04 nm (Nanometer-Auflösung)
• Scangeschwindigkeit: 0,1 Hz-30 Hz
• Abbildungsmodi: Topographie, Phase, Reibung, laterale Kraft, magnetische Kraft, elektrostatische Kraft

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop, das aus China stammt, ist ein hochmodernes Werkzeug zur Charakterisierung im Nanobereich für eine Vielzahl von Anwendungen und Szenarien. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten eignet sich dieses Rasterkraftmikroskop für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieumgebungen.

Das AtomEdge Pro ist mit einem piezo-angetriebenen XYZ-Tisch ausgestattet, der eine präzise Probenmanipulation und -positionierung ermöglicht. Diese Funktion ist unerlässlich für die Durchführung detaillierter Messungen und Abbildungen auf Nanoebene. Das Mikroskop verfügt über eine beeindruckende Auflösung von 0,04 nm, die es den Benutzern ermöglicht, hochauflösende Bilder mit außergewöhnlicher Klarheit aufzunehmen.

Eine der wichtigsten Stärken des AtomEdge Pro ist seine Vielseitigkeit in den Abbildungsmodi. Es unterstützt mehrere Modi, darunter Topographie, Phase, Reibung, laterale Kraft, magnetische Kraft und elektrostatische Kraft. Diese Multi-Mode-Messfunktion ermöglicht es Forschern, umfassende Daten über verschiedene Oberflächeneigenschaften und -interaktionen zu sammeln.

Darüber hinaus bietet das AtomEdge Pro einen weiten Scanbereich von 100 μm X 100 μm X 10 μm, der es den Benutzern ermöglicht, größere Probenbereiche zu untersuchen und gleichzeitig hohe Präzision und Genauigkeit zu gewährleisten. Dieser erweiterte Bereich macht das Mikroskop ideal für die Analyse verschiedener Probentypen und -größen.

Ob in akademischen Forschungslabors, industriellen F&E-Einrichtungen oder Qualitätskontrollanwendungen, das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop zeichnet sich dadurch aus, dass es detaillierte Einblicke in Nanostrukturen und -eigenschaften liefert. Sein hoher Scan-Geschwindigkeitsbereich von 0,1 Hz bis 30 Hz gewährleistet eine effiziente Datenerfassung und macht es für zeitkritische Experimente und Produktionsprozesse geeignet.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das AtomEdge Pro ein leistungsstarkes Werkzeug zur Charakterisierung im Nanobereich ist, das beispiellose Fähigkeiten in der Rasterkraftmikroskopie und Multi-Mode-Messung bietet. Seine fortschrittlichen Funktionen und seine zuverlässige Leistung machen es zu einem wertvollen Vorteil für Wissenschaftler, Ingenieure und Forscher, die in verschiedenen Bereichen tätig sind.