Microscopio a forza atomica da 0,04 nm per l'analisi precisa della superficie su scala nanometrica

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo per l'analisi superficiale a livello di risoluzione atomica.Questo microscopio avanzato consente di esaminare dettagliatamente campioni fino a 25 mm, fornendo ai ricercatori informazioni inestimabili su vari materiali e strutture.

Una delle caratteristiche chiave del microscopio della forza atomica è la sua versatilità nelle modalità di imaging, che includono topografia, fase, attrito, forza laterale, forza magnetica e immagini di forza elettrostatica.Questa ampia gamma di modalità di imaging consente agli utenti di raccogliere dati completi sulle proprietà fisiche e chimiche dei campioni in esame, che lo rende uno strumento indispensabile per i ricercatori di diversi campi.

Con una notevole risoluzione di 0,04 nm, il microscopio Atomic Force consente agli utenti di ottenere immagini e analisi di alta precisione, catturando anche i più piccoli dettagli sulla superficie del campione.Questo livello di risoluzione è cruciale per studiare le caratteristiche e le strutture su scala nanometrica, fornendo ai ricercatori informazioni cruciali per le loro indagini.

Il microscopio della forza atomica offre una gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo una scansione dettagliata e accurata dei campioni su una vasta area.Questa ampia gamma di scansione lo rende adatto a una varietà di applicazioni, dalla ricerca sulla nanotecnologia alla scienza dei materiali e oltre.

Inoltre, il microscopio della forza atomica vanta un intervallo di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, offrendo agli utenti la flessibilità di regolare la velocità di scansione in base alle loro esigenze specifiche.Questa funzione consente un'acquisizione e un'analisi efficienti dei dati, risparmio di tempo e miglioramento della produttività nei processi di ricerca e sviluppo.

In conclusione, il Microscopio della Forza Atomica è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modo, analisi superficiale a livello di risoluzione atomica,e immagini ad alta precisioneCon le sue caratteristiche avanzate e le sue modalità di imaging versatili,Questo microscopio è uno strumento indispensabile per i ricercatori che cercano di esplorare e comprendere il complesso mondo delle strutture e dei materiali su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Fase di campionamento: fase XYZ piezo-driven
• Dimensione del campione: fino a 25 mm
• Risoluzione: 0,04 nm (risoluzione nanometrica)
• Velocità di scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Moduli di imaging: topografia, fase, attrito, forza laterale, forza magnetica, forza elettrostatica

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio di forza atomica AtomEdge Pro, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per la caratterizzazione su nanoscala in una varietà di applicazioni e scenari.Con le sue caratteristiche e le sue capacità avanzate, questo microscopio a forza di scansione è adatto a una vasta gamma di ambienti di ricerca e industriali.

L'AtomEdge Pro è dotato di uno stadio XYZ piezo-driven, che consente una manipolazione e un posizionamento precisi dei campioni.Questa caratteristica è essenziale per effettuare misurazioni dettagliate e imaging a livello nanoscaleIl microscopio vanta un'impressionante risoluzione di 0,04 nm, che consente agli utenti di catturare immagini ad alta definizione con una chiarezza eccezionale.

Uno dei punti di forza principali dell'AtomEdge Pro è la sua versatilità nelle modalità di imaging.e forza elettrostaticaQuesta capacità di misurazione multi-modo consente ai ricercatori di raccogliere dati completi sulle varie proprietà e le interazioni della superficie.

Inoltre, l'AtomEdge Pro offre un'ampia gamma di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm, consentendo agli utenti di esplorare aree di campionamento più ampie mantenendo alta precisione e precisione.Questa gamma estesa rende il microscopio ideale per analizzare vari tipi e dimensioni di campioni.

Che si tratti di laboratori di ricerca accademici, di strutture di ricerca e sviluppo industriali o di applicazioni di controllo qualità,il Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope eccelle nel fornire informazioni dettagliate sulle strutture e proprietà su scala nanometricaL'elevata gamma di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz garantisce un'acquisizione di dati efficiente, rendendolo adatto a esperimenti e processi produttivi che richiedono tempo.

In conclusione, l'AtomEdge Pro è uno strumento potente per la caratterizzazione a nanoscala, offrendo capacità senza pari nella microscopia di scansione e nella misurazione multi-modo.Le sue caratteristiche avanzate e le sue prestazioni affidabili lo rendono una risorsa preziosa per gli scienziati, ingegneri e ricercatori che lavorano in vari campi.