0میکروسکوپ نیروی اتمی برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح در مقیاس نانو

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که قابلیت اندازه گیری چند حالت را برای تجزیه و تحلیل سطح در سطح وضوح اتمی ارائه می دهد.این میکروسکوپ پیشرفته اجازه می دهد تا نمونه هایی با اندازه تا 25 میلی متر را به طور دقیق بررسی کند، به محققان بینش ارزشمندی در مورد مواد و سازه های مختلف می دهد.

یکی از ویژگی های کلیدی میکروسکوپ نیروی اتمی حالت های تصویربرداری متنوع آن است که شامل توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی و تصویربرداری نیروی الکتروستاتیک است.این طیف گسترده ای از حالت های تصویربرداری به کاربران اجازه می دهد تا داده های جامع در مورد خواص فیزیکی و شیمیایی نمونه های مورد مطالعه را جمع آوری کنند.، باعث می شود آن را یک ابزار ضروری برای محققان در زمینه های مختلف.

میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح قابل توجه 0.04 نانومتر، کاربران را قادر می سازد تا به تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با دقت بالا دست یابند و حتی کوچکترین جزئیات را در سطح نمونه ثبت کنند.این سطح وضوح برای مطالعه ویژگی ها و ساختارهای نانو مقیاس بسیار مهم است.، که به محققان اطلاعات مهمی برای تحقیقات خود می دهد.

میکروسکوپ نیروی اتمی طیف اسکن 100 μm x 100 μm x 10 μm را ارائه می دهد که امکان اسکن دقیق و دقیق نمونه ها را در یک منطقه گسترده فراهم می کند.این دامنه اسکن گسترده باعث می شود آن را مناسب برای انواع برنامه های کاربردی، از تحقیقات نانوتکنولوژی تا علوم مواد و فراتر از آن.

علاوه بر این، میکروسکوپ نیروی اتمی دارای طیف سرعت اسکن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز است، که کاربران را با انعطاف پذیری برای تنظیم سرعت اسکن با توجه به نیازهای خاص خود فراهم می کند.این ویژگی امکان جمع آوری و تجزیه و تحلیل اطلاعات را فراهم می کند، صرفه جویی در زمان و افزایش بهره وری در فرآیندهای تحقیق و توسعه

در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیشرفته است که قابلیت اندازه گیری چند حالت، تجزیه و تحلیل سطح در سطح وضوح اتمی،و تصویربرداری دقیق بالابا ویژگی های پیشرفته و حالت های تصویربرداری متنوع،این میکروسکوپ یک ابزار ضروری برای محققان است که به دنبال کشف و درک دنیای پیچیده ساختارهای نانویی و مواد هستند.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• مرحله نمونه گیری: مرحله XYZ پیزو محرک
• اندازه نمونه: تا 25 میلی متر
• رزولوشن: 0.04 نانومتر
• سرعت اسکن: 0.1 هرتز-30 هرتز
• حالت تصویربرداری: توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی، نیروی الکترواستاتیک

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی پرو AtomEdge، که از چین سرچشمه می گیرد، یک ابزار پیشرفته است که برای مشخصه سازی نانو مقیاس در طیف وسیعی از برنامه ها و سناریوها طراحی شده است.با ویژگی ها و قابلیت های پیشرفته اش، این میکروسکوپ نیروی اسکن برای طیف گسترده ای از محیط های تحقیقاتی و صنعتی مناسب است.

AtomEdge Pro مجهز به یک مرحله XYZ پیزو محور است که امکان دستکاری و موقعیت دقیق نمونه را فراهم می کند.این ویژگی برای انجام اندازه گیری های دقیق و تصویربرداری در سطح نانو ضروری استاین میکروسکوپ دارای وضوح چشمگیر 0.04nm است که به کاربران امکان می دهد تصاویر با وضوح استثنایی را ضبط کنند.

یکی از نقاط قوت اصلی AtomEdge Pro، انعطاف پذیری در حالت های تصویربرداری است. از حالت های متعدد از جمله توپوگرافی، فاز، اصطکاک، نیروی جانبی، نیروی مغناطیسی،و نیروی الکترواستاتیکاین قابلیت اندازه گیری چند حالت به محققان اجازه می دهد تا داده های جامع در مورد خواص و تعاملات مختلف سطح را جمع آوری کنند.

علاوه بر این ، AtomEdge Pro طیف گسترده ای از اسکن 100 μm X 100 μm X 10 μm را ارائه می دهد ، که کاربران را قادر می سازد با حفظ دقت و دقت بالا ، مناطق نمونه بزرگتر را کشف کنند.این محدوده گسترده میکروسکوپ را برای تجزیه و تحلیل انواع و اندازه های نمونه های مختلف ایده آل می کند.

چه در آزمایشگاه های پژوهشی دانشگاهی، چه در تاسیسات صنعتی تحقیق و توسعه، و چه در برنامه های کنترل کیفیت،میکروسکوپ نیروی اتمی پرو AtomEdge در ارائه بینش دقیق در ساختارها و خواص نانو مقیاسمحدوده سرعت اسکن بالا از 0.1Hz تا 30Hz، جمع آوری داده های کارآمد را تضمین می کند و آن را برای آزمایشات حساس به زمان و فرآیندهای تولید مناسب می کند.

در نتیجه، AtomEdge Pro یک ابزار قدرتمند برای مشخصه سازی در مقیاس نانو است که قابلیت های بی نظیر در میکروسکوپی نیروی اسکن و اندازه گیری چند حالت را ارائه می دهد.ویژگی های پیشرفته و عملکرد قابل اطمینان آن را برای دانشمندان یک دارایی ارزشمند می سازد، مهندسان و محققان در زمینه های مختلف کار می کنند.