0.04 nm Mikroskop siły atomowej do precyzyjnej analizy powierzchni w nanoskali

Opis produktu:

Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane urządzenie oferujące wielomodowe możliwości pomiarowe do analizy powierzchni na poziomie rozdzielczości atomowej. Ten zaawansowany mikroskop umożliwia szczegółowe badanie próbek o wielkości do 25 mm, zapewniając naukowcom bezcenne wglądy w różne materiały i struktury.

Jedną z kluczowych cech Mikroskopu Sił Atomowych są jego wszechstronne tryby obrazowania, które obejmują topografię, fazę, tarcie, siłę boczną, siłę magnetyczną i obrazowanie siły elektrostatycznej. Ta szeroka gama trybów obrazowania pozwala użytkownikom na gromadzenie kompleksowych danych na temat właściwości fizycznych i chemicznych badanych próbek, co czyni go niezbędnym narzędziem dla naukowców z różnych dziedzin.

Dzięki niezwykłej rozdzielczości 0,04 nm, Mikroskop Sił Atomowych umożliwia użytkownikom uzyskanie precyzyjnego obrazowania i analizy, rejestrując nawet najmniejsze szczegóły na powierzchni próbki. Ten poziom rozdzielczości jest kluczowy dla badania cech i struktur w skali nano, dostarczając naukowcom kluczowych informacji do ich badań.

Mikroskop Sił Atomowych oferuje zakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm, umożliwiając szczegółowe i dokładne skanowanie próbek na dużym obszarze. Ten szeroki zakres skanowania sprawia, że nadaje się do różnych zastosowań, od badań nanotechnologicznych po naukę o materiałach i inne.

Ponadto, Mikroskop Sił Atomowych może pochwalić się zakresem prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, zapewniając użytkownikom elastyczność w dostosowywaniu prędkości skanowania do ich specyficznych wymagań. Ta funkcja umożliwia efektywne pozyskiwanie i analizę danych, oszczędzając czas i zwiększając produktywność w procesach badawczo-rozwojowych.

Podsumowując, Mikroskop Sił Atomowych to najnowocześniejsze urządzenie, które oferuje wielomodowe możliwości pomiarowe, analizę powierzchni na poziomie rozdzielczości atomowej i precyzyjne obrazowanie. Dzięki zaawansowanym funkcjom i wszechstronnym trybom obrazowania, ten mikroskop jest niezbędnym narzędziem dla naukowców, którzy chcą badać i zrozumieć zawiły świat struktur i materiałów w skali nano.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop Sił Atomowych
• Stolik próbki: Stolik XYZ napędzany piezoelektrycznie
• Rozmiar próbki: Do 25 mm
• Rozdzielczość: 0,04 nm (rozdzielczość nanometrowa)
• Prędkość skanowania: 0,1 Hz-30 Hz
• Tryby obrazowania: Topografia, Faza, Tarcie, Siła boczna, Siła magnetyczna, Siła elektrostatyczna

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro, pochodzący z Chin, to najnowocześniejsze narzędzie przeznaczone do charakteryzacji w skali nano w różnych zastosowaniach i scenariuszach. Dzięki zaawansowanym funkcjom i możliwościom, ten mikroskop sił skaningowych nadaje się do szerokiego zakresu badań i środowisk przemysłowych.

AtomEdge Pro jest wyposażony w stolik XYZ napędzany piezoelektrycznie, umożliwiający precyzyjną manipulację i pozycjonowanie próbki. Ta funkcja jest niezbędna do przeprowadzania szczegółowych pomiarów i obrazowania na poziomie nanometrycznym. Mikroskop charakteryzuje się imponującą rozdzielczością 0,04 nm, umożliwiając użytkownikom rejestrowanie obrazów o wysokiej rozdzielczości z wyjątkową przejrzystością.

Jedną z kluczowych zalet AtomEdge Pro jest jego wszechstronność w trybach obrazowania. Obsługuje wiele trybów, w tym topografię, fazę, tarcie, siłę boczną, siłę magnetyczną i siłę elektrostatyczną. Ta wielomodowa zdolność pomiarowa pozwala naukowcom na gromadzenie kompleksowych danych na temat różnych właściwości powierzchni i interakcji.

Ponadto, AtomEdge Pro oferuje szeroki zakres skanowania 100 μm X 100 μm X 10 μm, umożliwiając użytkownikom eksplorację większych obszarów próbki przy jednoczesnym zachowaniu wysokiej precyzji i dokładności. Ten rozszerzony zakres sprawia, że mikroskop jest idealny do analizy różnych typów i rozmiarów próbek.

Niezależnie od tego, czy w laboratoriach badawczych, zakładach badawczo-rozwojowych, czy w zastosowaniach kontroli jakości, Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro doskonale sprawdza się w dostarczaniu szczegółowych informacji na temat struktur i właściwości w skali nano. Jego wysoki zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz zapewnia efektywne pozyskiwanie danych, co czyni go odpowiednim do eksperymentów wrażliwych na czas i procesów produkcyjnych.

Podsumowując, AtomEdge Pro to potężne narzędzie do charakteryzacji w skali nano, oferujące niezrównane możliwości w mikroskopii sił skaningowych i pomiarach wielomodowych. Jego zaawansowane funkcje i niezawodne działanie sprawiają, że jest cennym atutem dla naukowców, inżynierów i badaczy pracujących w różnych dziedzinach.