0.04 nm Microscópio de Força Atômica para Análise de Superfície em Nanoscala Precisa
0.04nm Microscópio de Força Atómica
,Microscópio de Força Atómica 0.1Hz
,Microscópio AFM de 30 Hz
Propriedades básicas
Propriedades comerciais
Microscópio de Força Atômica para Análise Precisa de Superfícies em Nanoescala
Descrição do Produto:
O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades de medição multi-modo para análise de superfície em nível de resolução atômica. Este microscópio avançado permite a análise detalhada de amostras com tamanho de até 25 mm, fornecendo aos pesquisadores informações valiosas sobre vários materiais e estruturas.
Uma das principais características do Microscópio de Força Atômica são seus modos de imagem versáteis, que incluem topografia, fase, fricção, força lateral, força magnética e imagem de força eletrostática. Essa ampla gama de modos de imagem permite que os usuários coletem dados abrangentes sobre as propriedades físicas e químicas das amostras em estudo, tornando-o uma ferramenta indispensável para pesquisadores em diferentes áreas.
Com uma resolução notável de 0,04 nm, o Microscópio de Força Atômica permite que os usuários obtenham imagens e análises de alta precisão, capturando até os menores detalhes na superfície da amostra. Esse nível de resolução é crucial para estudar características e estruturas em nanoescala, fornecendo aos pesquisadores informações cruciais para suas investigações.
O Microscópio de Força Atômica oferece uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a varredura detalhada e precisa de amostras em uma ampla área. Essa ampla faixa de varredura o torna adequado para uma variedade de aplicações, desde pesquisa em nanotecnologia até ciência dos materiais e muito mais.
Além disso, o Microscópio de Força Atômica possui uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, fornecendo aos usuários a flexibilidade de ajustar a velocidade de varredura de acordo com suas necessidades específicas. Esse recurso permite a aquisição e análise eficientes de dados, economizando tempo e aprimorando a produtividade nos processos de pesquisa e desenvolvimento.
Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é um instrumento de última geração que oferece capacidades de medição multi-modo, análise de superfície em nível de resolução atômica e imagem de alta precisão. Com seus recursos avançados e modos de imagem versáteis, este microscópio é uma ferramenta indispensável para pesquisadores que buscam explorar e entender o intrincado mundo das estruturas e materiais em nanoescala.
Características:
- Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
- Estágio da Amostra: Estágio XYZ acionado por piezo
- Tamanho da Amostra: Até 25 mm
- Resolução: 0,04 nm (Resolução em Nanômetros)
- Velocidade de Varredura: 0,1 Hz-30 Hz
- Modos de Imagem: Topografia, Fase, Fricção, Força Lateral, Força Magnética, Força Eletrostática
Parâmetros Técnicos:
| Estágio da Amostra | Estágio XYZ acionado por piezo |
| Faixa de Varredura | 100 μm X 100 μm X 10 μm |
| Tamanho da Amostra | Até 25 mm |
| Velocidade de Varredura | 0,1 Hz-30 Hz |
| Resolução | 0,04 nm |
| Modos de Imagem | Topografia, Fase, Fricção, Força Lateral, Força Magnética, Força Eletrostática |
Aplicações:
O Microscópio de Força Atômica Truth Instruments AtomEdge Pro, originário da China, é uma ferramenta de ponta projetada para caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações e cenários. Com seus recursos e capacidades avançadas, este microscópio de força de varredura é adequado para uma ampla gama de ambientes de pesquisa e industriais.
O AtomEdge Pro é equipado com um estágio XYZ acionado por piezo, permitindo a manipulação e posicionamento precisos da amostra. Esse recurso é essencial para conduzir medições e imagens detalhadas em nível de nanoescala. O microscópio possui uma resolução impressionante de 0,04 nm, permitindo que os usuários capturem imagens de alta definição com clareza excepcional.
Uma das principais vantagens do AtomEdge Pro é sua versatilidade nos modos de imagem. Ele suporta vários modos, incluindo topografia, fase, fricção, força lateral, força magnética e força eletrostática. Essa capacidade de medição multi-modo permite que os pesquisadores coletem dados abrangentes sobre várias propriedades e interações da superfície.
Além disso, o AtomEdge Pro oferece uma ampla faixa de varredura de 100 μm X 100 μm X 10 μm, permitindo que os usuários explorem áreas maiores da amostra, mantendo alta precisão e exatidão. Essa faixa estendida torna o microscópio ideal para analisar diversos tipos e tamanhos de amostras.
Seja em laboratórios de pesquisa acadêmica, instalações de P&D industrial ou aplicações de controle de qualidade, o Microscópio de Força Atômica Truth Instruments AtomEdge Pro se destaca em fornecer informações detalhadas sobre estruturas e propriedades em nanoescala. Sua alta faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz garante a aquisição eficiente de dados, tornando-o adequado para experimentos sensíveis ao tempo e processos de produção.
Em conclusão, o AtomEdge Pro é uma ferramenta poderosa para caracterização em nanoescala, oferecendo capacidades incomparáveis em microscopia de força de varredura e medição multi-modo. Seus recursos avançados e desempenho confiável o tornam um recurso valioso para cientistas, engenheiros e pesquisadores que trabalham em várias áreas.