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0.04 nm Microscópio de Força Atômica para Análise de Superfície em Nanoscala Precisa

Microscópio de Força Atômica para Análise Precisa de Superfícies em Nanoescala Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades de medição multi-modo para análise de superfície em nível de resolução atômica. Este microscópio avançado ...
Detalhes do produto
Destacar:

0.04nm Microscópio de Força Atómica

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Microscópio de Força Atómica 0.1Hz

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Microscópio AFM de 30 Hz

Name: Microscópio de força atômica
Sample Size: até 25 mm
Resolution: 0,04 nm
Sample Stage: Estágio XYZ acionado por piezo
Imaging Modes: Topografia, fase, atrito, força lateral, força magnética, força eletrostática
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10 μm
Scan Speed: 0,1 Hz-30 Hz

Propriedades básicas

Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: Atomedge Pro

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto

Microscópio de Força Atômica para Análise Precisa de Superfícies em Nanoescala

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta que oferece capacidades de medição multi-modo para análise de superfície em nível de resolução atômica. Este microscópio avançado permite a análise detalhada de amostras com tamanho de até 25 mm, fornecendo aos pesquisadores informações valiosas sobre vários materiais e estruturas.

Uma das principais características do Microscópio de Força Atômica são seus modos de imagem versáteis, que incluem topografia, fase, fricção, força lateral, força magnética e imagem de força eletrostática. Essa ampla gama de modos de imagem permite que os usuários coletem dados abrangentes sobre as propriedades físicas e químicas das amostras em estudo, tornando-o uma ferramenta indispensável para pesquisadores em diferentes áreas.

Com uma resolução notável de 0,04 nm, o Microscópio de Força Atômica permite que os usuários obtenham imagens e análises de alta precisão, capturando até os menores detalhes na superfície da amostra. Esse nível de resolução é crucial para estudar características e estruturas em nanoescala, fornecendo aos pesquisadores informações cruciais para suas investigações.

O Microscópio de Força Atômica oferece uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a varredura detalhada e precisa de amostras em uma ampla área. Essa ampla faixa de varredura o torna adequado para uma variedade de aplicações, desde pesquisa em nanotecnologia até ciência dos materiais e muito mais.

Além disso, o Microscópio de Força Atômica possui uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, fornecendo aos usuários a flexibilidade de ajustar a velocidade de varredura de acordo com suas necessidades específicas. Esse recurso permite a aquisição e análise eficientes de dados, economizando tempo e aprimorando a produtividade nos processos de pesquisa e desenvolvimento.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é um instrumento de última geração que oferece capacidades de medição multi-modo, análise de superfície em nível de resolução atômica e imagem de alta precisão. Com seus recursos avançados e modos de imagem versáteis, este microscópio é uma ferramenta indispensável para pesquisadores que buscam explorar e entender o intrincado mundo das estruturas e materiais em nanoescala.

 

Características:

  • Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
  • Estágio da Amostra: Estágio XYZ acionado por piezo
  • Tamanho da Amostra: Até 25 mm
  • Resolução: 0,04 nm (Resolução em Nanômetros)
  • Velocidade de Varredura: 0,1 Hz-30 Hz
  • Modos de Imagem: Topografia, Fase, Fricção, Força Lateral, Força Magnética, Força Eletrostática
 

Parâmetros Técnicos:

Estágio da Amostra Estágio XYZ acionado por piezo
Faixa de Varredura 100 μm X 100 μm X 10 μm
Tamanho da Amostra Até 25 mm
Velocidade de Varredura 0,1 Hz-30 Hz
Resolução 0,04 nm
Modos de Imagem Topografia, Fase, Fricção, Força Lateral, Força Magnética, Força Eletrostática
 

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica Truth Instruments AtomEdge Pro, originário da China, é uma ferramenta de ponta projetada para caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações e cenários. Com seus recursos e capacidades avançadas, este microscópio de força de varredura é adequado para uma ampla gama de ambientes de pesquisa e industriais.

O AtomEdge Pro é equipado com um estágio XYZ acionado por piezo, permitindo a manipulação e posicionamento precisos da amostra. Esse recurso é essencial para conduzir medições e imagens detalhadas em nível de nanoescala. O microscópio possui uma resolução impressionante de 0,04 nm, permitindo que os usuários capturem imagens de alta definição com clareza excepcional.

Uma das principais vantagens do AtomEdge Pro é sua versatilidade nos modos de imagem. Ele suporta vários modos, incluindo topografia, fase, fricção, força lateral, força magnética e força eletrostática. Essa capacidade de medição multi-modo permite que os pesquisadores coletem dados abrangentes sobre várias propriedades e interações da superfície.

Além disso, o AtomEdge Pro oferece uma ampla faixa de varredura de 100 μm X 100 μm X 10 μm, permitindo que os usuários explorem áreas maiores da amostra, mantendo alta precisão e exatidão. Essa faixa estendida torna o microscópio ideal para analisar diversos tipos e tamanhos de amostras.

Seja em laboratórios de pesquisa acadêmica, instalações de P&D industrial ou aplicações de controle de qualidade, o Microscópio de Força Atômica Truth Instruments AtomEdge Pro se destaca em fornecer informações detalhadas sobre estruturas e propriedades em nanoescala. Sua alta faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz garante a aquisição eficiente de dados, tornando-o adequado para experimentos sensíveis ao tempo e processos de produção.

Em conclusão, o AtomEdge Pro é uma ferramenta poderosa para caracterização em nanoescala, oferecendo capacidades incomparáveis em microscopia de força de varredura e medição multi-modo. Seus recursos avançados e desempenho confiável o tornam um recurso valioso para cientistas, engenheiros e pesquisadores que trabalham em várias áreas.

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