0Microscope de force atomique de 0,04 nm pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure en plusieurs modes pour l'analyse de surface au niveau de la résolution atomique.Ce microscope de pointe permet d'examiner en détail des échantillons de taille allant jusqu'à 25 mm, fournissant aux chercheurs des informations précieuses sur divers matériaux et structures.

L'une des principales caractéristiques du microscope de la force atomique est ses modes d'imagerie polyvalents, qui comprennent la topographie, la phase, le frottement, la force latérale, la force magnétique et l'imagerie par force électrostatique.Cette large gamme de modes d'imagerie permet aux utilisateurs de recueillir des données complètes sur les propriétés physiques et chimiques des échantillons à l'étude, ce qui en fait un outil indispensable pour les chercheurs de différents domaines.

Avec une résolution remarquable de 0,04 nm, le microscope de la force atomique permet aux utilisateurs d'obtenir des images et des analyses de haute précision, capturant même les plus petits détails sur la surface de l'échantillon.Ce niveau de résolution est crucial pour l'étude des caractéristiques et des structures à l'échelle nanométrique, fournissant aux chercheurs des informations cruciales pour leurs recherches.

Le microscope de la force atomique offre une plage de balayage de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permettant un balayage détaillé et précis des échantillons sur une large zone.Cette large plage de balayage le rend adapté à une variété d'applications, de la recherche en nanotechnologie à la science des matériaux et au-delà.

En outre, le microscope Atomic Force dispose d'une plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz, offrant aux utilisateurs la flexibilité d'ajuster la vitesse de balayage en fonction de leurs besoins spécifiques.Cette fonctionnalité permet une acquisition et une analyse efficaces des données, en économisant du temps et en améliorant la productivité des processus de recherche et de développement.

En conclusion, le microscope de la force atomique est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure multi-mode, analyse de surface au niveau de la résolution atomique,et l'imagerie de haute précisionAvec ses fonctionnalités avancées et ses modes d'imagerie polyvalents,Ce microscope est un outil indispensable pour les chercheurs qui cherchent à explorer et à comprendre le monde complexe des structures et des matériaux à l'échelle nanométrique..

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Étape d'échantillonnage: étape XYZ piézo-conduite
• Taille de l'échantillon: jusqu'à 25 mm
• Résolution: 0,04 nm (résolution nanométrique)
• Vitesse de balayage: 0,1 Hz à 30 Hz
• Mode d'imagerie: topographie, phase, frottement, force latérale, force magnétique, force électrostatique

Paramètres techniques:

Applications:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, originaire de Chine, est un outil de pointe conçu pour la caractérisation à l'échelle nanométrique dans une variété d'applications et de scénarios.Avec ses caractéristiques et ses capacités avancées, ce microscope à force de balayage est adapté à un large éventail d'environnements de recherche et industriels.

L'AtomEdge Pro est équipé d'une étape XYZ piézo-conduite, permettant une manipulation et un positionnement précis des échantillons.Cette caractéristique est essentielle pour effectuer des mesures détaillées et des images au niveau nanométriqueLe microscope possède une résolution impressionnante de 0,04 nm, permettant aux utilisateurs de capturer des images haute définition avec une clarté exceptionnelle.

L'une des principales forces de l'AtomEdge Pro est sa polyvalence dans les modes d'imagerie.et force électrostatiqueCette capacité de mesure en plusieurs modes permet aux chercheurs de recueillir des données complètes sur diverses propriétés et interactions de surface.

En outre, l'AtomEdge Pro offre une large plage de balayage de 100 μm X 100 μm X 10 μm, permettant aux utilisateurs d'explorer de plus grandes zones d'échantillonnage tout en maintenant une grande précision et précision.Cette étendue rend le microscope idéal pour analyser divers types et tailles d'échantillons.

Que ce soit dans les laboratoires de recherche universitaire, les installations industrielles de R&D ou les applications de contrôle de qualité,le Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope excelle dans la fourniture d'informations détaillées sur les structures et les propriétés à l'échelle nanométriqueSa large plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz assure une acquisition de données efficace, ce qui la rend adaptée aux expériences et aux processus de production sensibles au temps.

En conclusion, l'AtomEdge Pro est un outil puissant pour la caractérisation à l'échelle nanométrique, offrant des capacités inégalées en microscopie de force de balayage et en mesure multi-mode.Ses caractéristiques avancées et ses performances fiables en font un atout précieux pour les scientifiques., ingénieurs et chercheurs travaillant dans divers domaines.