Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop 0,15 Nm für Wafer

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das für hochauflösende Bildgebung und Oberflächenanalysen in verschiedenen Bereichen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Biologie verwendet wird.Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und präzisen Messungen, ist das AFM ein wesentliches Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die detaillierte Einblicke in die Oberflächeigenschaften auf Nanoskala-Ebene suchen.

Eines der wichtigsten Merkmale des AFM sind seine vielseitigen Bildmodus, einschließlich Topographie, Phase, Reibung und Lateral Force-Bildgebung.Diese Modi ermöglichen es Benutzern, detaillierte Informationen über die Probenfläche zu erfassen.Durch die Nutzung dieser Bildmodus, können wir die unterschiedlichen Eigenschaften von Stoffen wie Höhenvariationen, Materialkontrast, Reibungseigenschaften und seitliche Kräfte untersuchen.Forscher können ein umfassendes Verständnis der Oberflächenmerkmale und des Verhaltens der Probe gewinnen.

Das AFM bietet eine beeindruckende Auflösung von 0,15 nm, so dass Benutzer Oberflächenmerkmale mit außergewöhnlicher Klarheit und Präzision visualisieren können.Diese hohe Auflösung ist entscheidend für detaillierte Oberflächenanalysen und genaue Messungen für verschiedene AnwendungenEgal, ob es sich um die Messung der Raubheit oder das Studium der Oberflächentopographie handelt, das AFM liefert eine unübertroffene Auflösung für präzise Bildgebung und Analyse.

Zusätzlich zu seinen Bildverarbeitungskapazitäten bietet der AFM eine außergewöhnliche Auflösung von 0,15 nN,die es Forschern ermöglicht, die mechanischen Eigenschaften von Proben mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit zu untersuchenDurch die präzise Auflösung der Kraft des AFM können die Anwender Nanoindentations-Experimente durchführen, Haftkräfte messen und die elastischen Eigenschaften von Materialien auf der Nanoskala erforschen.Mit seiner hohen Auflösung, bietet die AFM wertvolle Einblicke in das mechanische Verhalten von Proben.

Was die Stichprobengröße angeht, so bietet das AFM eine große Auswahl an Proben mit Größen von bis zu 200 mm x 5200 mm.Diese großzügige Probengröße ermöglicht es den Benutzern, verschiedene Arten von Proben zu analysieren, von kleinen Nanostrukturen bis hin zu größeren Oberflächen, die Flexibilität und Vielseitigkeit für verschiedene Forschungsprojekte bieten.Das AFM bietet die Möglichkeit, Proben unterschiedlicher Größe problemlos zu untersuchen..

Das AFM bietet mehrere Scanning-Modi, einschließlich Kontakt-, Tapping- und Kontaktlos-Modi, was den Benutzern Flexibilität in ihrem Bildgebungsansatz bietet.Der Kontaktmodus ermöglicht eine direkte Wechselwirkung zwischen der AFM-Sonde und der ProbenoberflächeDer Tapping-Modus reduziert die Spitze-Proben-Interaktionen, minimiert Probenschäden und verlängert die Lebensdauer der Sonde, ideal für empfindliche Proben.Kontaktloser Modus verwendet intermittierende Spitze-Proben-InteraktionenDiese Scanning-Modi ermöglichen es den Forschern, den für ihre spezifischen Bildgebungsbedürfnisse am besten geeigneten Ansatz zu wählen.

Zusammenfassend ist das Atomkraftmikroskop (AFM) ein leistungsfähiges Werkzeug für Oberflächenanalysen, Rauheitsmessungen und hochauflösende Bildgebung auf Nanobereich.außergewöhnliche Entschließung, präzise Kraftempfindlichkeit, vielseitige Probengrößenkapazität und mehrere Scanmodi,Das AFM ermöglicht es Forschern, die komplexen Details von Probenoberflächen zu erforschen und wertvolle Erkenntnisse über ihre Eigenschaften zu gewinnenOb es sich um die Untersuchung von Materialien, biologischen Proben oder Nanostrukturen handelt, das AFM bietet unvergleichliche Fähigkeiten für eine umfassende Oberflächenanalyse und wissenschaftliche Entdeckungen.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Messbereich: 100 μm X 100 μm
• Auflösung: 0,15 Nm
• Probengröße: bis zu 200 mm x 5200 mm
• Bildgebungsarten: Topographie, Phase, Reibung, Seitenkraft
• Scannungsmodi: Berührung, Berührung, Kontaktlos

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments, das aus China stammt, ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das für verschiedene Anwendungen der Oberflächenanalyse in verschiedenen Branchen entwickelt wurde.mit einem Scanbereich von 100 μm x 100 μm und Bildmodus einschließlich TopographieDieses Mikroskop bietet präzise und detaillierte Bildgebung.

Einer der wichtigsten Anwendungsfälle für den AtomEdge Pro ist die Halbleiterforschung und -entwicklung.15 NN macht es ideal für die Analyse von Halbleiteroberflächen auf NanobereichForscher und Ingenieure in der Halbleiterindustrie können dieses AFM nutzen, um Oberflächeneigenschaften, Defekte und Strukturen mit außergewöhnlicher Präzision zu untersuchen.

Darüber hinaus eignet sich das AtomEdge Pro für verschiedene Oberflächenanalysen in Branchen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Biologie.Die Kompatibilität mit Windows-Software ermöglicht eine nahtlose Datenanalyse und -visualisierung, so dass es ein vielseitiges Instrument für Forschungslabore und akademische Einrichtungen ist.

Ob es sich um die Charakterisierung von Nanostrukturen, die Messung der Oberflächenrauheit oder das Studium biologischer Proben handelt, das AtomEdge Pro bietet Flexibilität und Zuverlässigkeit bei der Probenanalyse.Die großzügige Unterstützung der Probengröße von bis zu 200 mm x 5200 mm ermöglicht es den Benutzern, eine Vielzahl von Proben zu untersuchen, so dass sie für verschiedene Forschungsprojekte und industrielle Anwendungen geeignet ist.

Abschließend ist das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments ein wertvolles Werkzeug für die Oberflächenanalyse in verschiedenen Branchen.und die Kompatibilität mit Windows-Software machen es zu einem wesentlichen Instrument für Forscher, Wissenschaftler und Ingenieure, die sich mit Nanotechnologie, Materialwissenschaften und anderen Bereichen befassen, die hochauflösende Bildgebung und -analyse erfordern.