Microscópio de Força de Varredura de Alta Resolução 0,15 Nm para Wafer

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta usado para imagem de alta resolução e análise de superfície em vários campos, como nanotecnologia, ciência dos materiais e biologia. Com suas capacidades avançadas e medições precisas, o AFM é uma ferramenta essencial para pesquisadores e cientistas que buscam informações detalhadas sobre as propriedades da superfície em nível de nanoescala.

Uma das principais características do AFM são seus modos de imagem versáteis, incluindo Topografia, Fase, Atrito e imagem de Força Lateral. Esses modos permitem que os usuários capturem informações detalhadas sobre a superfície da amostra, como variações de altura, contraste de material, propriedades de atrito e forças laterais. Ao utilizar esses modos de imagem, os pesquisadores podem obter uma compreensão abrangente das características e do comportamento da superfície da amostra.

O AFM oferece uma resolução impressionante de 0,15 nm, permitindo que os usuários visualizem recursos de superfície com clareza e precisão excepcionais. Essa alta resolução é crucial para realizar análises de superfície detalhadas e obter medições precisas para várias aplicações. Seja realizando medições de rugosidade ou estudando a topografia da superfície, o AFM oferece resolução incomparável para imagem e análise precisas.

Além de seus recursos de imagem, o AFM oferece uma resolução de força excepcional de 0,15 nN, permitindo que os pesquisadores investiguem as propriedades mecânicas das amostras com sensibilidade excepcional. A resolução de força precisa do AFM permite que os usuários realizem experimentos de nanoindentação, meçam forças de adesão e explorem as propriedades elásticas dos materiais em nível de nanoescala. Com sua alta resolução de força, o AFM oferece informações valiosas sobre o comportamento mecânico das amostras.

Quando se trata do tamanho da amostra, o AFM acomoda uma ampla gama de espécimes, suportando tamanhos de até 200 mm x 5200 mm. Essa capacidade generosa de tamanho de amostra permite que os usuários analisem vários tipos de amostras, desde nanoestruturas pequenas até superfícies maiores, proporcionando flexibilidade e versatilidade para diversos projetos de pesquisa. Seja examinando nanopartículas individuais ou superfícies em larga escala, o AFM oferece a capacidade de investigar amostras de diferentes tamanhos com facilidade.

O AFM oferece vários modos de varredura, incluindo modos de contato, toque e não contato, proporcionando aos usuários flexibilidade em sua abordagem de imagem. O modo de contato permite a interação direta entre a sonda AFM e a superfície da amostra, oferecendo alta resolução e imagem topográfica precisa. O modo de toque reduz as interações ponta-amostra, minimizando os danos à amostra e estendendo a vida útil da sonda, ideal para amostras delicadas. O modo sem contato utiliza interações intermitentes ponta-amostra, adequadas para estudar amostras macias e biomoléculas sem contato físico. Com esses modos de varredura, os pesquisadores podem escolher a abordagem mais adequada para seus requisitos específicos de imagem.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma ferramenta poderosa para análise de superfície, medição de rugosidade e imagem de alta resolução em nível de nanoescala. Com seus modos de imagem avançados, resolução excepcional, sensibilidade de força precisa, capacidade versátil de tamanho de amostra e vários modos de varredura, o AFM capacita os pesquisadores a explorar os detalhes intrincados das superfícies das amostras e obter informações valiosas sobre suas propriedades. Seja estudando materiais, amostras biológicas ou estruturas de nanoescala, o AFM oferece recursos incomparáveis para análise de superfície abrangente e descoberta científica.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
• Faixa de Varredura: 100 μm X 100 μm
• Resolução: 0,15 Nm
• Tamanho da Amostra: Até 200 Mm X 5200mm
• Modos de Imagem: Topografia, Fase, Atrito, Força Lateral
• Modos de Varredura: Contato, Toque, Sem contato

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta poderosa projetada para várias aplicações de análise de superfície em diferentes indústrias. Com uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm e modos de imagem, incluindo topografia, fase, atrito e força lateral, este microscópio de força de varredura oferece recursos de imagem precisos e detalhados.

Um dos principais cenários de aplicação para o AtomEdge Pro é no campo de pesquisa e desenvolvimento de semicondutores. A alta resolução de força de 0,15 NN o torna ideal para analisar superfícies de semicondutores em nível de nanoescala. Pesquisadores e engenheiros da indústria de semicondutores podem utilizar este AFM para estudar propriedades de superfície, defeitos e estruturas com precisão excepcional.

Além disso, o AtomEdge Pro é adequado para várias tarefas de análise de superfície em indústrias como ciência dos materiais, nanotecnologia e biologia. Sua compatibilidade com o software Windows permite uma análise e visualização de dados contínuas, tornando-o um instrumento versátil para laboratórios de pesquisa e instituições acadêmicas.

Seja caracterizando nanoestruturas, medindo a rugosidade da superfície ou estudando amostras biológicas, o AtomEdge Pro oferece flexibilidade e confiabilidade na análise de amostras. O suporte generoso ao tamanho da amostra de até 200 mm x 5200 mm permite que os usuários estudem uma ampla gama de amostras, tornando-o adequado para diversos projetos de pesquisa e aplicações industriais.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é uma ferramenta valiosa para análise de superfície em várias indústrias. Seus recursos avançados, capacidades de imagem precisas e compatibilidade com o software Windows o tornam um instrumento essencial para pesquisadores, cientistas e engenheiros envolvidos em nanotecnologia, ciência dos materiais e outros campos que exigem imagem e análise de alta resolução.