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September 28, 2025

Conexão de Categoria: Microscópio de força atômica

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Etiquetas:

#Microscópio AFM #Sistemas de AFM #Microscópio de sonda de varredura

Resumo: Descubra o Microscópio de Força de Varredura de Alta Resolução para Wafe, um Microscópio de Força Atômica (AFM) de última geração com resolução de 0,15 nm. Ideal para nanotecnologia, ciência dos materiais e biologia, este AFM oferece modos de imagem versáteis, sensibilidade de força precisa e suporta amostras de até 200 mm x 5200 mm. Perfeito para análise de superfície de alta resolução e pesquisa em nanoescala.

Recursos de Produtos Relacionados:

Imagem de alta resolução com resolução de 0,15 nm para análise detalhada da superfície.
Modos de imagem versáteis, incluindo Topografia, Fase, Fricção e Força Lateral.
Resolução de força excepcional de 0,15 nN para medições precisas das propriedades mecânicas.
Suporta grandes amostras de até 200 mm x 5200 mm para diversas aplicações de investigação.
Múltiplos modos de digitalização: contato, toque e sem contato para abordagens de imagem flexíveis.
Compatibilidade avançada de software com Windows para análise de dados perfeita.
Ideal para pesquisa em semicondutores, ciência dos materiais e estudos biológicos.
Design robusto para desempenho confiável em imagem nanoescala de alta precisão.

FAQ:

Qual é a resolução do Microscópio de Força de Varredura de Alta Resolução para Wafe?

O AFM oferece uma resolução impressionante de 0,15 nm, permitindo uma análise detalhada da superfície e medições precisas.
Que modos de imagem estão disponíveis com este AFM?

O AFM suporta vários modos de imagem, incluindo Topografia, Fase, Fricção e Força Lateral, para caracterização abrangente da superfície.
Qual o tamanho das amostras que o AFM pode acomodar?

O AFM pode manipular amostras de até 200 mm x 5200 mm, tornando-o adequado para uma ampla gama de aplicações de investigação.
Quais são os modos de varrimento disponíveis com este AFM?

O AFM oferece modos de varrimento de contato, tapping e sem contato, proporcionando flexibilidade para diferentes requisitos de imagem e tipos de amostra.