वेफ के लिए एएफएम

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September 28, 2025

श्रेणी संबंध: परमाणु बल माइक्रोस्कोप

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संक्षिप्त: वेफ के लिए उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप की खोज करें, 0.15 एनएम रिज़ॉल्यूशन के साथ एक अत्याधुनिक परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) । नैनोटेक्नोलॉजी, सामग्री विज्ञान और जीव विज्ञान के लिए आदर्श,यह एएफएम बहुमुखी इमेजिंग मोड प्रदान करता है, सटीक बल संवेदनशीलता, और 200 मिमी x 5200 मिमी तक के नमूनों का समर्थन करता है। उच्च संकल्प सतह विश्लेषण और नैनोस्केल अनुसंधान के लिए एकदम सही है।

संबंधित उत्पाद विशेषताएं:

विस्तृत सतह विश्लेषण के लिए 0.15 nm रिज़ॉल्यूशन के साथ उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग।
टॉपोग्राफी, फेज़, घर्षण और पार्श्व बल सहित बहुमुखी इमेजिंग मोड।
सटीक यांत्रिक गुण मापन के लिए 0.15 nN का असाधारण बल विभेदन।
विभिन्न अनुसंधान अनुप्रयोगों के लिए 200 मिमी x 5200 मिमी तक के बड़े नमूना आकारों का समर्थन करता है।
एकाधिक स्कैनिंग मोड: लचीले इमेजिंग दृष्टिकोण के लिए संपर्क, टैपिंग और गैर-संपर्क।
निर्बाध डेटा विश्लेषण के लिए विंडोज के साथ उन्नत सॉफ्टवेयर संगतता।
अर्धचालक अनुसंधान, सामग्री विज्ञान और जैविक अध्ययन के लिए आदर्श।
उच्च-सटीक नैनोस्केल इमेजिंग में विश्वसनीय प्रदर्शन के लिए मजबूत डिज़ाइन।

सामान्य प्रश्नोत्तर:

वाफे के लिए उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप का संकल्प क्या है?

एएफएम 0.15 एनएम का प्रभावशाली संकल्प प्रदान करता है, जिससे विस्तृत सतह विश्लेषण और सटीक माप संभव होते हैं।
इस AFM के साथ कौन से इमेजिंग मोड उपलब्ध हैं?

एएफएम व्यापक सतह विशेषता के लिए स्थलाकृति, चरण, घर्षण और पार्श्व बल सहित कई इमेजिंग मोड का समर्थन करता है।
एएफएम किस प्रकार के नमूना आकारों को समायोजित कर सकता है?

एएफएम 200 मिमी x 5200 मिमी तक के नमूनों को संभाल सकता है, जिससे यह अनुसंधान अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए उपयुक्त है।
इस AFM के साथ उपलब्ध स्कैनिंग मोड क्या हैं?

एएफएम संपर्क, टैपिंग और नॉन-कॉन्टैक्ट स्कैनिंग मोड प्रदान करता है, जो विभिन्न इमेजिंग आवश्यकताओं और नमूना प्रकारों के लिए लचीलापन प्रदान करता है।

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