Kort: Ontdek de High Scanning Force Microscope voor Wafe, een geavanceerde Atomic Force Microscope (AFM) met een resolutie van 0,15 nm. Ideaal voor nanotechnologie, materiaalwetenschappen en biologie,Deze AFM biedt veelzijdige beeldvormingHet is perfect voor oppervlaktanalyses met hoge resolutie en onderzoek op nanoschaal.
Gerelateerde Productkenmerken:
Hoogresolutieafbeeldingen met een resolutie van 0,15 nm voor gedetailleerde oppervlaktanalyse.
Veelzijdige beeldvorming, waaronder topografie, fase, wrijving en laterale kracht.
Uitzonderlijke krachtresolutie van 0,15 nN voor nauwkeurige metingen van mechanische eigenschappen.
Ondersteunt grote steekproefgroottes tot 200 mm x 5200 mm voor diverse onderzoekstoepassingen.
Meerdere scanmodi: contact, aanraking en niet-contact voor flexibele beeldvorming.
Geavanceerde softwarecompatibiliteit met Windows voor naadloze data-analyse.
Ideaal voor onderzoek naar halfgeleiders, materiaalkunde en biologische studies.
Robuust ontwerp voor betrouwbare prestaties in nauwkeurige nano-imaging.
FAQS:
Wat is de resolutie van de High Scanning Force Microscope voor Wafe?
De AFM biedt een indrukwekkende resolutie van 0,15 nm, waardoor gedetailleerde oppervlaktanalyses en nauwkeurige metingen mogelijk zijn.
Welke beeldvormingsmodi zijn beschikbaar met deze AFM?
De AFM ondersteunt meerdere beeldmodussen, waaronder topografie, fase, wrijving en laterale kracht, voor een uitgebreide oppervlakkenkarakterisering.
Welke steekproefgroottes kan de AFM bevatten?
De AFM kan monsters tot 200 mm x 5200 mm verwerken, waardoor het geschikt is voor een breed scala aan onderzoekstoepassingen.
Welke scanmodi zijn beschikbaar met deze AFM?
De AFM biedt contact-, tapping- en non-contact scanmodi, wat flexibiliteit biedt voor verschillende beeldvormingsvereisten en monstertypes.