Kort: Ontdek de AtomEdge Pro Multi Functionele AFM Atomic Force Microscopie, die nanometer- en atoomresolutie biedt voor nauwkeurige 3D-scanning van materialen, elektronische apparaten en biologische monsters. Met meerdere werkmodi en geïntegreerde functionele modules biedt het flexibele, stabiele en schaalbare oplossingen voor geavanceerd onderzoek.
Gerelateerde Productkenmerken:
Voert 3D-scanbeelden op materialen, elektronische apparaten en biologische monsters uit met nanometernauwkeurigheid.
Beschikt over meerdere werkmodi, waaronder contact, tikken en contactloos, voor flexibele bediening.
Integreert functionele modi zoals magnetische krachtmicroscopie, elektrostatische krachtmicroscopie en piezo-elektrische krachtmicroscopie.
Biedt sterke stabiliteit en goede schaalbaarheid met aanpasbare functionele modules.
Ondersteunt een scanbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm met een hoge resolutie tot 4096x4096 pixels.
Lage ruisniveaus: 0,4 nm in XY-richting en 0,04 nm in Z-richting voor precieze metingen.
Veelzijdige toepassingen op verschillende gebieden, waaronder biologie, materiaalwetenschappen en elektronica.
Bevat geavanceerde scanmodi zoals fasebeeldvorming, liftmodus en multidirectioneel scannen.
FAQS:
Wat is het scanbereik van de AtomEdge Pro AFM?
De AtomEdge Pro AFM heeft een scanbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm, geschikt voor een breed scala aan monstergroottes.
Welke functiemodi ondersteunt de AtomEdge Pro AFM?
Het ondersteunt meerdere functionele modi, waaronder magnetische krachtmicroscopie (MFM), elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), scanning Kelvin microscopie (KPFM) en piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM).
Kan de AtomEdge Pro AFM worden aangepast voor specifieke onderzoeksbehoeften?
Ja, de AtomEdge Pro AFM maakt flexibele aanpassing van functionele modules mogelijk om aan specifieke onderzoekseisen te voldoen, en biedt gerichte oplossingen voor verschillende gebieden.