Видео- канал Китая Truth Instruments Co., Ltd.
Чат контактные данные
Дом Видео репертуар Сайт

Нанометровое разрешение；Атомное разрешение

Другие видео
September 17, 2025
Связь Категорий: Атомный силовый микроскоп
Чат контактные данные
Бирки:
#АСМ микроскоп #Системы AFM #Микроскоп сканирующего зонда
Вкратце: Откройте для себя AtomEdge Pro Multi Functional AFM Atomic Force Microscopy, предлагающий нанометровое и атомное разрешение для точного 3D-сканирования материалов, электронных устройств и биологических образцов.С несколькими режимами работы и интегрированными функциональными модулями, он обеспечивает гибкие, стабильные и масштабируемые решения для передовых исследований.
Связанные характеристики продукта:
  • Выполняет 3D сканирование материалов, электронных устройств и биологических образцов с нанометрической точностью.
  • Обладает несколькими режимами работы, включая контактный, кранутый и бесконтактный для гибкой работы.
  • Интегрирует функциональные режимы, такие как микроскопия магнитной силы, микроскопия электростатической силы и микроскопия пьезоэлектрической силы.
  • Предлагает высокую стабильность и хорошую масштабируемость с настраиваемыми функциональными модулями.
  • Поддерживает диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм с высоким разрешением до 4096x4096 пикселей.
  • Низкий уровень шума: 0,4 нм в направлении XY и 0,04 нм в направлении Z для точных измерений.
  • Универсальное применение в различных областях, включая биологию, материаловедение и электронику.
  • Включает в себя передовые режимы сканирования, такие как фазовое изображение, режим подъема и многонаправленное сканирование.
Ч.З.В.:
  • Каков диапазон сканирования АСМ AtomEdge Pro?
    Атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro AFM имеет область сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм, что подходит для широкого спектра размеров образцов.
  • Какие функциональные режимы поддерживает AtomEdge Pro AFM?
    Он поддерживает несколько функциональных режимов, включая микроскопию магнитной силы (MFM), электростатическую микроскопию силы (EFM), сканирующую микроскопию Кельвина (KPFM) и пиезоэлектрическую микроскопию силы (PFM).
  • Можно ли настроить AFM AtomEdge Pro для конкретных исследовательских задач?
    Да, AtomEdge Pro AFM позволяет гибко настраивать функциональные модули для удовлетворения конкретных исследовательских требований, предоставляя целевые решения для различных областей.
Родственные видео