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Résolution nanométrique;Résolution atomique

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September 17, 2025
Catégorie Connexion: Microscope à force atomique
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#Microscope AFM #Systèmes de gestion aérienne #Microscope de sonde à balayage
Bref: Découvrez la microscopie de la force atomique multifonctionnelle AtomEdge Pro AFM, qui offre une résolution nanométrique et atomique pour une numérisation 3D précise de matériaux, d'appareils électroniques et d'échantillons biologiques.d'une puissance de sortie supérieure ou égale à 300 W, il fournit des solutions flexibles, stables et évolutives pour la recherche avancée.
Caractéristiques Du Produit Connexes:
  • Effectue une imagerie par balayage 3D sur des matériaux, des dispositifs électroniques et des échantillons biologiques avec une précision nanométrique.
  • Il dispose de plusieurs modes de fonctionnement, y compris le contact, le tapotement et le non-contact pour un fonctionnement flexible.
  • Intègre des modes fonctionnels tels que la microscopie à force magnétique, la microscopie à force électrostatique et la microscopie à force piézoélectrique.
  • Offre une forte stabilité et une bonne évolutivité avec des modules fonctionnels personnalisables.
  • Prend en charge une plage de numérisation de 100 μm x 100 μm x 10 μm avec une haute résolution allant jusqu'à 4096 x 4096 pixels.
  • Niveaux de bruit faibles: 0,4 nm dans la direction XY et 0,04 nm dans la direction Z pour des mesures précises.
  • Applications polyvalentes dans divers domaines, notamment la biologie, la science des matériaux et l'électronique.
  • Comprend des modes de balayage avancés tels que l'imagerie de phase, le mode de levage et le balayage multidirectionnel.
FAQ:
  • Quelle est la plage de balayage de l'AFM AtomEdge Pro ?
    L'AFM AtomEdge Pro a une plage de balayage de 100 μm x 100 μm x 10 μm, adaptée à une grande variété de tailles d'échantillons.
  • Quels modes fonctionnels le AFM AtomEdge Pro prend en charge?
    Il prend en charge plusieurs modes fonctionnels, notamment la microscopie par force magnétique (MFM), la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par balayage Kelvin (KPFM) et la microscopie par force piézoélectrique (PFM).
  • Le AFM AtomEdge Pro peut-il être personnalisé pour des besoins de recherche spécifiques?
    Oui, l'AFM AtomEdge Pro permet une personnalisation flexible des modules fonctionnels pour répondre aux exigences spécifiques de la recherche, offrant des solutions ciblées pour divers domaines.
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