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September 28, 2025
カテゴリー接続: 原子力顕微鏡
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#AFM顕微鏡 #AFMシステム #走査型プローブ顕微鏡
概要: ウェーハ用高性能走査力顕微鏡を発見してください。これは、0.15 nm の分解能を持つ最先端の原子間力顕微鏡 (AFM) です。ナノテクノロジー、材料科学、生物学に理想的で、この AFM は、多様なイメージングモード、正確な力感度を提供し、最大 200 mm x 5200 mm のサンプルをサポートします。高解像度表面分析とナノスケール研究に最適です。
関連製品特性:
  • 詳細な表面分析のための、0.15 nm分解能の高解像度イメージング。
  • トポグラフィ,フェーズ,摩擦,横向き力を含む汎用的な画像モード.
  • 特殊な力解像度 0.15 nN 精密な機械性能測定のために.
  • 多様な研究用途向けに、最大200mm x 5200mmまでの大きなサンプルサイズに対応しています。
  • 複数のスキャンモード: 柔軟な画像アプローチのための接触,タッピング,非接触.
  • Windowsとの高度なソフトウェア互換性により、シームレスなデータ分析を実現します。
  • 半導体研究、材料科学、および生物学研究に最適です。
  • 高精度ナノスケールイメージングにおける信頼性の高い性能のための堅牢な設計。
よくある質問:
  • 高スキャン力顕微鏡の解像度は?
    AFM は 0.15 nm の 印象 的 な 解像度 を 提供 し,詳細 な 表面 分析 と 精密 な 測定 を 可能 に し て い ます.
  • このAFMで利用できるイメージングモードは?
    AFMは,地形,相,摩擦,横力を含む複数のイメージングモードをサポートし,包括的な表面特徴付けを行う.
  • AFM は どの サンプル サイズ に 対応 でき ます か
    AFMは最大200mm x 5200mmのサンプルに対応でき、幅広い研究用途に適しています。
  • このAFMで利用可能なスキャンモードは何ですか？
    AFMは,コンタクト,タッピング,非コンタクトスキャンモードを提供し,異なるイメージング要件とサンプルタイプに柔軟性を提供します.
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