AFM Für Wafe

Name: AFM für Wafe
Uploaded: 2025-09-28CDT14:16:09-05:00
Duration: 1 min 15 s
Description: Entdecken Sie das High Scanning Force Microscope for Wafe, ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einer Auflösung von 0,15 nm. Ideal für Nanotechnologie, Materialwissenschaften und Biologie, bietet dieses AFM vielseitige Bildgebungsmodi, präzise Kraftempfindlichkeit und unterstützt Proben bis zu 200 mm x 5200 mm. Perfekt für hochauflösende Oberflächenanalyse und Nanoforschung.

Gruppe: Andere Videos

Freigabezeit: 2025-09-28

Stichwort: AtomKraftmikroskop

Video Description

Entdecken Sie das High Scanning Force Microscope for Wafe, ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einer Auflösung von 0,15 nm. Ideal für Nanotechnologie, Materialwissenschaften und Biologie, bietet dieses AFM vielseitige Bildgebungsmodi, präzise Kraftempfindlichkeit und unterstützt Proben bis zu 200 mm x 5200 mm. Perfekt für hochauflösende Oberflächenanalyse und Nanoforschung.