Microscope à force à balayage élevé 0,15 Nm Microscope haute résolution pour plaquette

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface dans divers domaines tels que la nanotechnologie, la science des matériaux et la biologie. Grâce à ses capacités avancées et à ses mesures précises, l'AFM est un outil essentiel pour les chercheurs et les scientifiques qui recherchent des informations détaillées sur les propriétés de surface au niveau nanométrique.

L'une des principales caractéristiques de l'AFM est ses modes d'imagerie polyvalents, notamment la topographie, la phase, le frottement et l'imagerie de la force latérale. Ces modes permettent aux utilisateurs de capturer des informations détaillées sur la surface de l'échantillon, telles que les variations de hauteur, le contraste des matériaux, les propriétés de frottement et les forces latérales. En utilisant ces modes d'imagerie, les chercheurs peuvent acquérir une compréhension globale des caractéristiques et du comportement de la surface de l'échantillon.

L'AFM offre une résolution impressionnante de 0,15 nm, ce qui permet aux utilisateurs de visualiser les caractéristiques de surface avec une clarté et une précision exceptionnelles. Cette haute résolution est cruciale pour effectuer une analyse de surface détaillée et obtenir des mesures précises pour diverses applications. Qu'il s'agisse de mesurer la rugosité ou d'étudier la topographie de surface, l'AFM offre une résolution inégalée pour une imagerie et une analyse précises.

En plus de ses capacités d'imagerie, l'AFM offre une résolution de force exceptionnelle de 0,15 nN, ce qui permet aux chercheurs d'étudier les propriétés mécaniques des échantillons avec une sensibilité exceptionnelle. La résolution de force précise de l'AFM permet aux utilisateurs d'effectuer des expériences de nanoindentation, de mesurer les forces d'adhésion et d'explorer les propriétés élastiques des matériaux au niveau nanométrique. Grâce à sa haute résolution de force, l'AFM offre des informations précieuses sur le comportement mécanique des échantillons.

En ce qui concerne la taille des échantillons, l'AFM s'adapte à une large gamme de spécimens, prenant en charge des tailles allant jusqu'à 200 mm x 5 200 mm. Cette capacité généreuse de taille d'échantillon permet aux utilisateurs d'analyser divers types d'échantillons, des petites nanostructures aux surfaces plus grandes, offrant flexibilité et polyvalence pour divers projets de recherche. Qu'il s'agisse d'examiner des nanoparticules individuelles ou des surfaces à grande échelle, l'AFM offre la possibilité d'étudier facilement des échantillons de différentes tailles.

L'AFM offre plusieurs modes de balayage, notamment les modes contact, tapping et sans contact, offrant aux utilisateurs une flexibilité dans leur approche d'imagerie. Le mode contact permet une interaction directe entre la sonde AFM et la surface de l'échantillon, offrant une haute résolution et une imagerie topographique précise. Le mode tapping réduit les interactions pointe-échantillon, minimisant les dommages à l'échantillon et prolongeant la durée de vie de la sonde, idéal pour les échantillons délicats. Le mode sans contact utilise des interactions intermittentes pointe-échantillon, adaptées à l'étude d'échantillons mous et de biomolécules sans contact physique. Avec ces modes de balayage, les chercheurs peuvent choisir l'approche la plus appropriée pour leurs exigences d'imagerie spécifiques.

En résumé, le microscope à force atomique (AFM) est un outil puissant pour l'analyse de surface, la mesure de la rugosité et l'imagerie haute résolution au niveau nanométrique. Avec ses modes d'imagerie avancés, sa résolution exceptionnelle, sa sensibilité de force précise, sa capacité de taille d'échantillon polyvalente et ses multiples modes de balayage, l'AFM permet aux chercheurs d'explorer les détails complexes des surfaces d'échantillons et d'acquérir des informations précieuses sur leurs propriétés. Qu'il s'agisse d'étudier des matériaux, des échantillons biologiques ou des nanostructures, l'AFM offre des capacités inégalées pour une analyse de surface complète et la découverte scientifique.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Plage de balayage : 100 µm X 100 µm
• Résolution : 0,15 Nm
• Taille de l'échantillon : Jusqu'à 200 mm X 5 200 mm
• Modes d'imagerie : Topographie, phase, frottement, force latérale
• Modes de balayage : Contact, Tapping, Sans contact

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil puissant conçu pour diverses applications d'analyse de surface dans différents secteurs. Avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm et des modes d'imagerie, notamment la topographie, la phase, le frottement et la force latérale, ce microscope à force de balayage offre des capacités d'imagerie précises et détaillées.

L'un des principaux scénarios d'application de l'AtomEdge Pro est dans le domaine de la recherche et du développement des semi-conducteurs. La haute résolution de force de 0,15 NN le rend idéal pour l'analyse des surfaces de semi-conducteurs au niveau nanométrique. Les chercheurs et les ingénieurs de l'industrie des semi-conducteurs peuvent utiliser cet AFM pour étudier les propriétés de surface, les défauts et les structures avec une précision exceptionnelle.

De plus, l'AtomEdge Pro est bien adapté à diverses tâches d'analyse de surface dans des secteurs tels que la science des matériaux, la nanotechnologie et la biologie. Sa compatibilité avec le logiciel Windows permet une analyse et une visualisation des données transparentes, ce qui en fait un instrument polyvalent pour les laboratoires de recherche et les établissements universitaires.

Qu'il s'agisse de caractériser des nanostructures, de mesurer la rugosité de surface ou d'étudier des échantillons biologiques, l'AtomEdge Pro offre flexibilité et fiabilité dans l'analyse des échantillons. La prise en charge généreuse de la taille des échantillons jusqu'à 200 mm x 5 200 mm permet aux utilisateurs d'étudier un large éventail d'échantillons, ce qui le rend adapté à divers projets de recherche et applications industrielles.

En conclusion, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est un outil précieux pour l'analyse de surface dans de multiples secteurs. Ses fonctionnalités avancées, ses capacités d'imagerie précises et sa compatibilité avec le logiciel Windows en font un instrument essentiel pour les chercheurs, les scientifiques et les ingénieurs impliqués dans la nanotechnologie, la science des matériaux et d'autres domaines nécessitant une imagerie et une analyse haute résolution.