Microscope à force à balayage élevé 0,15 nm Microscope haute résolution pour plaquette

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface dans divers domaines tels que la nanotechnologie, la science des matériaux et la biologie.Avec ses capacités avancées et ses mesures précises, l'AFM est un outil essentiel pour les chercheurs et les scientifiques à la recherche d'informations détaillées sur les propriétés de surface au niveau nanométrique.

L'une des principales caractéristiques de l'AFM est ses modes d'imagerie polyvalents, y compris la topographie, la phase, la friction et l'imagerie par force latérale.Ces modes permettent aux utilisateurs de capturer des informations détaillées sur la surface de l'échantillonEn utilisant ces modes d'imagerie, nous pouvons déterminer les caractéristiques de l'appareil, comme les variations de hauteur, le contraste du matériau, les propriétés de friction et les forces latérales.Les chercheurs peuvent acquérir une compréhension complète des caractéristiques de surface et du comportement de l'échantillon.

L'AFM offre une résolution impressionnante de 0,15 nm, permettant aux utilisateurs de visualiser les caractéristiques de la surface avec une clarté et une précision exceptionnelles.Cette haute résolution est cruciale pour effectuer des analyses de surface détaillées et obtenir des mesures précises pour diverses applicationsQu'il s'agisse d'effectuer des mesures de rugosité ou d'étudier la topographie de surface, l'AFM offre une résolution inégalée pour une imagerie et une analyse précises.

En plus de ses capacités d'imagerie, l'AFM offre une résolution de force exceptionnelle de 0,15 nN,permettant aux chercheurs d'étudier les propriétés mécaniques des échantillons avec une sensibilité exceptionnelleLa résolution de force précise de l'AFM permet aux utilisateurs d'effectuer des expériences de nanoindentation, de mesurer les forces d'adhérence et d'explorer les propriétés élastiques des matériaux au niveau nanométrique.Avec sa résolution de force élevée, l'AFM offre des informations précieuses sur le comportement mécanique des échantillons.

En ce qui concerne la taille de l'échantillon, l'AFM accueille une large gamme de spécimens, prenant en charge des tailles allant jusqu'à 200 mm x 5200 mm.Cette capacité généreuse de taille d'échantillon permet aux utilisateurs d'analyser différents types d'échantillons, de petites nanostructures à des surfaces plus grandes, offrant flexibilité et polyvalence pour divers projets de recherche.l'AFM offre la possibilité d'examiner facilement des échantillons de différentes tailles.

L'AFM offre plusieurs modes de numérisation, y compris les modes Contact, Tapping et Non-Contact, offrant aux utilisateurs une flexibilité dans leur approche d'imagerie.Le mode de contact permet une interaction directe entre la sonde AFM et la surface de l'échantillonLe mode de tapotement réduit les interactions entre l'échantillon et la pointe, minimisant les dommages à l'échantillon et allongeant la durée de vie de la sonde, idéal pour les échantillons délicats.Le mode sans contact utilise des interactions intermittentes entre l'échantillon et la pointeCes modes de numérisation permettent aux chercheurs de choisir l'approche la plus adaptée à leurs besoins d'imagerie spécifiques.

En résumé, le microscope à force atomique (AFM) est un outil puissant pour l'analyse de surface, la mesure de la rugosité et l'imagerie haute résolution au niveau nanométrique.résolution exceptionnelle, une sensibilité à la force précise, une capacité de taille d'échantillon polyvalente et plusieurs modes de numérisation,l'AFM permet aux chercheurs d'explorer les détails complexes des surfaces d'échantillons et d'obtenir des informations précieuses sur leurs propriétésQu'il s'agisse d'étudier des matériaux, des échantillons biologiques ou des structures à l'échelle nanométrique, l'AFM offre des capacités inégalées pour une analyse complète de la surface et des découvertes scientifiques.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Plage de balayage: 100 μm X 100 μm
• Résolution: 0,15 nm
• Taille de l'échantillon: jusqu'à 200 mm x 5200 mm
• Mode d'imagerie: topographie, phase, frottement, force latérale
• Mode de numérisation: contact, tapotement, sans contact

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil puissant conçu pour diverses applications d'analyse de surface dans différents secteurs.avec une plage de balayage de 100 μm x 100 μm et des modes d'imagerie incluant la topographieCe microscope à force de balayage offre des capacités d'imagerie précises et détaillées.

L'un des scénarios d'application clés pour l'AtomEdge Pro est dans le domaine de la recherche et du développement de semi-conducteurs.15 NN le rend idéal pour l'analyse des surfaces des semi-conducteurs à l'échelle nanométriqueLes chercheurs et les ingénieurs de l'industrie des semi-conducteurs peuvent utiliser cet AFM pour étudier les propriétés de surface, les défauts et les structures avec une précision exceptionnelle.

De plus, l'AtomEdge Pro est bien adapté à diverses tâches d'analyse de surface dans des industries telles que la science des matériaux, la nanotechnologie et la biologie.Sa compatibilité avec les logiciels Windows permet une analyse et une visualisation transparentes des données, ce qui en fait un instrument polyvalent pour les laboratoires de recherche et les établissements universitaires.

Qu'il s'agisse de caractériser des nanostructures, de mesurer la rugosité de surface ou d'étudier des échantillons biologiques, l'AtomEdge Pro offre flexibilité et fiabilité dans l'analyse des échantillons.Le support généreux de taille d'échantillon jusqu'à 200 mm x 5200 mm permet aux utilisateurs d'étudier un large éventail d'échantillons, ce qui le rend adapté à divers projets de recherche et applications industrielles.

En conclusion, le microscope AtomEdge Pro de Truth Instruments est un outil précieux pour l'analyse de surface dans de multiples industries.Il s'agit d'un outil essentiel pour les chercheurs., des scientifiques et des ingénieurs impliqués dans la nanotechnologie, la science des matériaux et d'autres domaines nécessitant une imagerie et une analyse haute résolution.