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उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप 0.15 एनएम उच्च संकल्प माइक्रोस्कोप के लिए

High Scanning Force Microscope For Wafe Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument used for high-resolution imaging and surface analysis in various fields such as nanotechnology, materials science, and biology. With its advanced capabilities and precise measurements, the AFM is an essential tool for researchers and scientists seeking detailed insights into surface properties at the nanoscale level. One of the key features of the AFM is
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:

उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप

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0.15 एनएम उच्च संकल्प माइक्रोस्कोप

,

बल माइक्रोस्कोप 0.15 एनएम

Name: उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप
Scanning Modes: संपर्क, दोहन, गैर-संपर्क
Model: एएफएम
Imaging Modes: स्थलाकृति, चरण, घर्षण, पार्श्व बल
Scan Range: 100 माइक्रोन x 100 माइक्रोन
Resolution: 0.15 एनएम
Force Resolution: 0.15 एनएन
Software Compatibility: खिंचाव
Sample Size: 200 मिमी x 5200 मिमी तक

मूल गुण

ब्रांड नाम: Truth Instruments
मॉडल संख्या: अटारमैक्स

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें: टी/टी
उत्पाद का वर्णन

वेफर के लिए उच्च स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप

उत्पाद विवरण:

परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसका उपयोग विभिन्न क्षेत्रों जैसे नैनोप्रौद्योगिकी, सामग्री विज्ञान और जीव विज्ञान में उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और सतह विश्लेषण के लिए किया जाता है। अपनी उन्नत क्षमताओं और सटीक माप के साथ, एएफएम शोधकर्ताओं और वैज्ञानिकों के लिए एक आवश्यक उपकरण है जो नैनोस्केल स्तर पर सतह गुणों में विस्तृत अंतर्दृष्टि प्राप्त करना चाहते हैं।

एएफएम की प्रमुख विशेषताओं में से एक इसकी बहुमुखी इमेजिंग मोड है, जिसमें टोपोग्राफी, फेज, फ्रिक्शन और लेटरल फोर्स इमेजिंग शामिल हैं। ये मोड उपयोगकर्ताओं को नमूना सतह के बारे में विस्तृत जानकारी प्राप्त करने की अनुमति देते हैं, जैसे ऊंचाई भिन्नता, सामग्री कंट्रास्ट, घर्षण गुण और पार्श्व बल। इन इमेजिंग मोड का उपयोग करके, शोधकर्ता नमूने की सतह विशेषताओं और व्यवहार की व्यापक समझ प्राप्त कर सकते हैं।

एएफएम 0.15 एनएम का एक प्रभावशाली रिज़ॉल्यूशन प्रदान करता है, जो उपयोगकर्ताओं को असाधारण स्पष्टता और सटीकता के साथ सतह विशेषताओं को देखने में सक्षम बनाता है। यह उच्च रिज़ॉल्यूशन विभिन्न अनुप्रयोगों के लिए विस्तृत सतह विश्लेषण करने और सटीक माप प्राप्त करने के लिए महत्वपूर्ण है। चाहे खुरदरापन माप करना हो या सतह टोपोग्राफी का अध्ययन करना हो, एएफएम सटीक इमेजिंग और विश्लेषण के लिए बेजोड़ रिज़ॉल्यूशन प्रदान करता है।

अपनी इमेजिंग क्षमताओं के अलावा, एएफएम 0.15 एनएन का असाधारण बल रिज़ॉल्यूशन प्रदान करता है, जिससे शोधकर्ता असाधारण संवेदनशीलता के साथ नमूनों के यांत्रिक गुणों की जांच कर सकते हैं। एएफएम का सटीक बल रिज़ॉल्यूशन उपयोगकर्ताओं को नैनोइंडेंटेशन प्रयोग करने, आसंजन बलों को मापने और नैनोस्केल स्तर पर सामग्रियों के लोचदार गुणों का पता लगाने में सक्षम बनाता है। अपने उच्च बल रिज़ॉल्यूशन के साथ, एएफएम नमूनों के यांत्रिक व्यवहार में मूल्यवान अंतर्दृष्टि प्रदान करता है।

नमूना आकार की बात करें तो, एएफएम 200 मिमी x 5200 मिमी तक के आकार का समर्थन करते हुए, विभिन्न प्रकार के नमूनों को समायोजित करता है। यह उदार नमूना आकार क्षमता उपयोगकर्ताओं को छोटे नैनोस्ट्रक्चर से लेकर बड़ी सतहों तक, विभिन्न प्रकार के नमूनों का विश्लेषण करने की अनुमति देती है, जो विविध अनुसंधान परियोजनाओं के लिए लचीलापन और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करती है। चाहे व्यक्तिगत नैनोपार्टिकल्स की जांच करना हो या बड़े पैमाने पर सतहों की, एएफएम विभिन्न आकारों के नमूनों को आसानी से जांचने की क्षमता प्रदान करता है।

एएफएम कई स्कैनिंग मोड प्रदान करता है, जिसमें कॉन्टैक्ट, टैपिंग और नॉन-कॉन्टैक्ट मोड शामिल हैं, जो उपयोगकर्ताओं को उनके इमेजिंग दृष्टिकोण में लचीलापन प्रदान करते हैं। कॉन्टैक्ट मोड एएफएम जांच और नमूना सतह के बीच सीधा संपर्क सक्षम करता है, जो उच्च रिज़ॉल्यूशन और सटीक टोपोग्राफिकल इमेजिंग प्रदान करता है। टैपिंग मोड टिप-नमूना इंटरैक्शन को कम करता है, नमूना क्षति को कम करता है और जांच के जीवनकाल को बढ़ाता है, जो नाजुक नमूनों के लिए आदर्श है। नॉन-कॉन्टैक्ट मोड रुक-रुक कर टिप-नमूना इंटरैक्शन का उपयोग करता है, जो बिना शारीरिक संपर्क के नरम नमूनों और बायोमोलेक्यूल्स का अध्ययन करने के लिए उपयुक्त है। इन स्कैनिंग मोड के साथ, शोधकर्ता अपनी विशिष्ट इमेजिंग आवश्यकताओं के लिए सबसे उपयुक्त दृष्टिकोण चुन सकते हैं।

संक्षेप में, परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) नैनोस्केल स्तर पर सतह विश्लेषण, खुरदरापन माप और उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग के लिए एक शक्तिशाली उपकरण है। अपने उन्नत इमेजिंग मोड, असाधारण रिज़ॉल्यूशन, सटीक बल संवेदनशीलता, बहुमुखी नमूना आकार क्षमता और कई स्कैनिंग मोड के साथ, एएफएम शोधकर्ताओं को नमूना सतहों के जटिल विवरणों का पता लगाने और उनके गुणों में मूल्यवान अंतर्दृष्टि प्राप्त करने का अधिकार देता है। चाहे सामग्री, जैविक नमूनों या नैनोस्केल संरचनाओं का अध्ययन करना हो, एएफएम व्यापक सतह विश्लेषण और वैज्ञानिक खोज के लिए बेजोड़ क्षमताएं प्रदान करता है।

 

विशेषताएँ:

  • उत्पाद का नाम: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
  • स्कैन रेंज: 100 μm X 100 μm
  • रिज़ॉल्यूशन: 0.15 एनएम
  • नमूना आकार: 200 मिमी X 5200 मिमी तक
  • इमेजिंग मोड: टोपोग्राफी, फेज, फ्रिक्शन, लेटरल फोर्स
  • स्कैनिंग मोड: कॉन्टैक्ट, टैपिंग, नॉन-कॉन्टैक्ट
 

तकनीकी पैरामीटर:

बल रिज़ॉल्यूशन 0.15 एनएन
इमेजिंग मोड टोपोग्राफी, फेज, फ्रिक्शन, लेटरल फोर्स
रिज़ॉल्यूशन 0.15 एनएम
स्कैन रेंज 100 μm X 100 μm
नमूना आकार 200 मिमी X 5200 मिमी तक
मॉडल एएफएम
स्कैनिंग मोड कॉन्टैक्ट, टैपिंग, नॉन-कॉन्टैक्ट
सॉफ्टवेयर संगतता विंडोज
 

अनुप्रयोग:

ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स का एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप, जो चीन से उत्पन्न हुआ है, विभिन्न उद्योगों में विभिन्न सतह विश्लेषण अनुप्रयोगों के लिए डिज़ाइन किया गया एक शक्तिशाली उपकरण है। 100 μm x 100 μm की स्कैन रेंज और टोपोग्राफी, फेज, फ्रिक्शन और लेटरल फोर्स सहित इमेजिंग मोड के साथ, यह स्कैनिंग फोर्स माइक्रोस्कोप सटीक और विस्तृत इमेजिंग क्षमताएं प्रदान करता है।

एटमएज प्रो के लिए प्रमुख अनुप्रयोग परिदृश्यों में से एक अर्धचालक अनुसंधान और विकास के क्षेत्र में है। 0.15 एनएन का उच्च बल रिज़ॉल्यूशन इसे नैनोस्केल स्तर पर अर्धचालक सतहों का विश्लेषण करने के लिए आदर्श बनाता है। अर्धचालक उद्योग के शोधकर्ता और इंजीनियर इस एएफएम का उपयोग सतह गुणों, दोषों और संरचनाओं का असाधारण सटीकता के साथ अध्ययन करने के लिए कर सकते हैं।

इसके अतिरिक्त, एटमएज प्रो सामग्री विज्ञान, नैनोप्रौद्योगिकी और जीव विज्ञान जैसे उद्योगों में विभिन्न सतह विश्लेषण कार्यों के लिए उपयुक्त है। विंडोज सॉफ़्टवेयर के साथ इसकी संगतता निर्बाध डेटा विश्लेषण और विज़ुअलाइज़ेशन की अनुमति देती है, जिससे यह अनुसंधान प्रयोगशालाओं और शैक्षणिक संस्थानों के लिए एक बहुमुखी उपकरण बन जाता है।

चाहे वह नैनोस्ट्रक्चर की विशेषता हो, सतह खुरदरापन को मापना हो, या जैविक नमूनों का अध्ययन करना हो, एटमएज प्रो नमूना विश्लेषण में लचीलापन और विश्वसनीयता प्रदान करता है। 200 मिमी x 5200 मिमी तक का उदार नमूना आकार समर्थन उपयोगकर्ताओं को विभिन्न प्रकार के नमूनों का अध्ययन करने में सक्षम बनाता है, जिससे यह विविध अनुसंधान परियोजनाओं और औद्योगिक अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त हो जाता है।

निष्कर्ष में, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स का एटमएज प्रो एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप कई उद्योगों में सतह विश्लेषण के लिए एक मूल्यवान उपकरण है। इसकी उन्नत विशेषताएं, सटीक इमेजिंग क्षमताएं और विंडोज सॉफ़्टवेयर के साथ संगतता इसे नैनोप्रौद्योगिकी, सामग्री विज्ञान और अन्य क्षेत्रों में शामिल शोधकर्ताओं, वैज्ञानिकों और इंजीनियरों के लिए एक आवश्यक उपकरण बनाती हैं जिन्हें उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और विश्लेषण की आवश्यकता होती है।

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