logo

Μικροσκόπιο υψηλής δύναμης σάρωσης 0,15 Nm Μικροσκόπιο υψηλής ανάλυσης για κύμα

High Scanning Force Microscope For Wafe Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument used for high-resolution imaging and surface analysis in various fields such as nanotechnology, materials science, and biology. With its advanced capabilities and precise measurements, the AFM is an essential tool for researchers and scientists seeking detailed insights into surface properties at the nanoscale level. One of the key features of the AFM is
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:

Μικροσκόπιο υψηλής δύναμης σάρωσης

,

0Μικροσκόπιο υψηλής ανάλυσης.15 Nm

,

Μικροσκόπιο ισχύος 0

Name: Μικροσκόπιο υψηλής δύναμης σάρωσης
Scanning Modes: Επικοινωνήστε, χτυπήστε, μη επαφή
Model: ΑΦΜ
Imaging Modes: Τοπογραφία, φάση, τριβή, πλευρική δύναμη
Scan Range: 100 μm x 100 μm
Resolution: 0,15 nm
Force Resolution: 0,15 nn
Software Compatibility: παράθυρα
Sample Size: Έως 200 mm x 5200mm

Βασικές ιδιότητες

Ονομασία μάρκας: Truth Instruments
Αριθμός μοντέλου: Ατίξ

Εμπορικά Ακίνητα

Τιμή: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Όροι πληρωμής: T/t
Περιγραφή προϊόντων

Μικροσκόπιο Δυνάμεων Σάρωσης Υψηλής Απόδοσης για Wafe

Περιγραφή Προϊόντος:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο που χρησιμοποιείται για απεικόνιση υψηλής ανάλυσης και ανάλυση επιφανειών σε διάφορους τομείς όπως η νανοτεχνολογία, η επιστήμη των υλικών και η βιολογία. Με τις προηγμένες του δυνατότητες και τις ακριβείς μετρήσεις, το AFM είναι ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και επιστήμονες που αναζητούν λεπτομερείς πληροφορίες για τις ιδιότητες της επιφάνειας σε νανοκλίμακα.

Ένα από τα βασικά χαρακτηριστικά του AFM είναι οι ευέλικτες λειτουργίες απεικόνισης, συμπεριλαμβανομένων των λειτουργιών Τοπογραφίας, Φάσης, Τριβής και Πλευρικής Δύναμης. Αυτές οι λειτουργίες επιτρέπουν στους χρήστες να καταγράψουν λεπτομερείς πληροφορίες σχετικά με την επιφάνεια του δείγματος, όπως μεταβολές ύψους, αντίθεση υλικού, ιδιότητες τριβής και πλευρικές δυνάμεις. Χρησιμοποιώντας αυτές τις λειτουργίες απεικόνισης, οι ερευνητές μπορούν να αποκτήσουν μια ολοκληρωμένη κατανόηση των χαρακτηριστικών και της συμπεριφοράς της επιφάνειας του δείγματος.

Το AFM προσφέρει εντυπωσιακή ανάλυση 0,15 nm, επιτρέποντας στους χρήστες να οπτικοποιούν τα χαρακτηριστικά της επιφάνειας με εξαιρετική σαφήνεια και ακρίβεια. Αυτή η υψηλή ανάλυση είναι ζωτικής σημασίας για τη διεξαγωγή λεπτομερούς ανάλυσης επιφανειών και την απόκτηση ακριβών μετρήσεων για διάφορες εφαρμογές. Είτε εκτελεί μετρήσεις τραχύτητας είτε μελετά τοπογραφία επιφανειών, το AFM προσφέρει απαράμιλλη ανάλυση για ακριβή απεικόνιση και ανάλυση.

Εκτός από τις δυνατότητες απεικόνισης, το AFM παρέχει εξαιρετική ανάλυση δύναμης 0,15 nN, επιτρέποντας στους ερευνητές να διερευνήσουν τις μηχανικές ιδιότητες των δειγμάτων με εξαιρετική ευαισθησία. Η ακριβής ανάλυση δύναμης του AFM επιτρέπει στους χρήστες να εκτελούν πειράματα νανοεγκολπώσεων, να μετρούν δυνάμεις πρόσφυσης και να εξερευνούν τις ελαστικές ιδιότητες των υλικών σε νανοκλίμακα. Με την υψηλή ανάλυση δύναμης, το AFM προσφέρει πολύτιμες πληροφορίες για τη μηχανική συμπεριφορά των δειγμάτων.

Όσον αφορά το μέγεθος του δείγματος, το AFM φιλοξενεί ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων, υποστηρίζοντας μεγέθη έως και 200 mm x 5200 mm. Αυτή η γενναιόδωρη χωρητικότητα μεγέθους δείγματος επιτρέπει στους χρήστες να αναλύουν διάφορους τύπους δειγμάτων, από μικρές νανοδομές έως μεγαλύτερες επιφάνειες, παρέχοντας ευελιξία και ευελιξία για διάφορα ερευνητικά έργα. Είτε εξετάζοντας μεμονωμένα νανοσωματίδια είτε επιφάνειες μεγάλης κλίμακας, το AFM προσφέρει τη δυνατότητα να διερευνήσει δείγματα διαφορετικών μεγεθών με ευκολία.

Το AFM προσφέρει πολλαπλές λειτουργίες σάρωσης, συμπεριλαμβανομένων των λειτουργιών Επαφής, Tapping και Non-contact, παρέχοντας στους χρήστες ευελιξία στην προσέγγιση απεικόνισης. Η λειτουργία επαφής επιτρέπει την άμεση αλληλεπίδραση μεταξύ της ανιχνευτικής κεφαλής AFM και της επιφάνειας του δείγματος, προσφέροντας υψηλή ανάλυση και ακριβή τοπογραφική απεικόνιση. Η λειτουργία Tapping μειώνει τις αλληλεπιδράσεις άκρου-δείγματος, ελαχιστοποιώντας τη ζημιά στο δείγμα και επεκτείνοντας τη διάρκεια ζωής της ανιχνευτικής κεφαλής, ιδανική για ευαίσθητα δείγματα. Η λειτουργία Non-contact χρησιμοποιεί διαλείπουσες αλληλεπιδράσεις άκρου-δείγματος, κατάλληλη για τη μελέτη μαλακών δειγμάτων και βιομορίων χωρίς φυσική επαφή. Με αυτές τις λειτουργίες σάρωσης, οι ερευνητές μπορούν να επιλέξουν την καταλληλότερη προσέγγιση για τις συγκεκριμένες απαιτήσεις απεικόνισής τους.

Εν κατακλείδι, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) είναι ένα ισχυρό εργαλείο για την ανάλυση επιφανειών, τη μέτρηση τραχύτητας και την απεικόνιση υψηλής ανάλυσης σε νανοκλίμακα. Με τις προηγμένες λειτουργίες απεικόνισης, την εξαιρετική ανάλυση, την ακριβή ευαισθησία δύναμης, την ευέλικτη χωρητικότητα μεγέθους δείγματος και τις πολλαπλές λειτουργίες σάρωσης, το AFM δίνει τη δυνατότητα στους ερευνητές να εξερευνήσουν τις περίπλοκες λεπτομέρειες των επιφανειών των δειγμάτων και να αποκτήσουν πολύτιμες πληροφορίες για τις ιδιότητές τους. Είτε μελετώντας υλικά, βιολογικά δείγματα ή νανοδομές, το AFM παρέχει απαράμιλλες δυνατότητες για ολοκληρωμένη ανάλυση επιφανειών και επιστημονική ανακάλυψη.

 

Χαρακτηριστικά:

  • Όνομα Προϊόντος: Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων
  • Εύρος Σάρωσης: 100 μm X 100 μm
  • Ανάλυση: 0,15 Nm
  • Μέγεθος Δείγματος: Έως 200 Mm X 5200mm
  • Λειτουργίες Απεικόνισης: Τοπογραφία, Φάση, Τριβή, Πλευρική Δύναμη
  • Λειτουργίες Σάρωσης: Επαφή, Tapping, Non-contact
 

Τεχνικές Παράμετροι:

Ανάλυση Δύναμης 0,15 NN
Λειτουργίες Απεικόνισης Τοπογραφία, Φάση, Τριβή, Πλευρική Δύναμη
Ανάλυση 0,15 Nm
Εύρος Σάρωσης 100 μm X 100 μm
Μέγεθος Δείγματος Έως 200 Mm X 5200mm
Μοντέλο AFM
Λειτουργίες Σάρωσης Επαφή, Tapping, Non-contact
Συμβατότητα Λογισμικού Windows
 

Εφαρμογές:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro της Truth Instruments, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα ισχυρό εργαλείο σχεδιασμένο για διάφορες εφαρμογές ανάλυσης επιφανειών σε διαφορετικούς κλάδους. Με εύρος σάρωσης 100 μm x 100 μm και λειτουργίες απεικόνισης που περιλαμβάνουν τοπογραφία, φάση, τριβή και πλευρική δύναμη, αυτό το μικροσκόπιο δυνάμεων σάρωσης προσφέρει ακριβείς και λεπτομερείς δυνατότητες απεικόνισης.

Ένα από τα βασικά σενάρια εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στον τομέα της έρευνας και ανάπτυξης ημιαγωγών. Η υψηλή ανάλυση δύναμης των 0,15 NN το καθιστά ιδανικό για την ανάλυση επιφανειών ημιαγωγών σε νανοκλίμακα. Οι ερευνητές και οι μηχανικοί στη βιομηχανία ημιαγωγών μπορούν να χρησιμοποιήσουν αυτό το AFM για να μελετήσουν ιδιότητες επιφανειών, ελαττώματα και δομές με εξαιρετική ακρίβεια.

Επιπλέον, το AtomEdge Pro είναι κατάλληλο για διάφορες εργασίες ανάλυσης επιφανειών σε βιομηχανίες όπως η επιστήμη των υλικών, η νανοτεχνολογία και η βιολογία. Η συμβατότητά του με το λογισμικό Windows επιτρέπει την απρόσκοπτη ανάλυση και οπτικοποίηση δεδομένων, καθιστώντας το ένα ευέλικτο όργανο για ερευνητικά εργαστήρια και ακαδημαϊκά ιδρύματα.

Είτε πρόκειται για τον χαρακτηρισμό νανοδομών, τη μέτρηση τραχύτητας επιφανειών ή τη μελέτη βιολογικών δειγμάτων, το AtomEdge Pro προσφέρει ευελιξία και αξιοπιστία στην ανάλυση δειγμάτων. Η υποστήριξη γενναιόδωρου μεγέθους δείγματος έως και 200 mm x 5200 mm επιτρέπει στους χρήστες να μελετούν ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων, καθιστώντας το κατάλληλο για διάφορα ερευνητικά έργα και βιομηχανικές εφαρμογές.

Εν κατακλείδι, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro της Truth Instruments είναι ένα πολύτιμο εργαλείο για την ανάλυση επιφανειών σε πολλούς κλάδους. Τα προηγμένα του χαρακτηριστικά, οι ακριβείς δυνατότητες απεικόνισης και η συμβατότητα με το λογισμικό Windows το καθιστούν ένα απαραίτητο όργανο για ερευνητές, επιστήμονες και μηχανικούς που ασχολούνται με τη νανοτεχνολογία, την επιστήμη των υλικών και άλλους τομείς που απαιτούν απεικόνιση και ανάλυση υψηλής ανάλυσης.

Στείλε Ερευνά

Πάρτε μια γρήγορη προσφορά