English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
Χάρτης Ιστοσελίδας
Company
Προϊόντα
Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
- Μικροσκόπιο Βιολογικής Ατομικής Δύναμης Υψηλής Ακρίβειας Μικροσκόπιο Ανίχνευσης Ανίχνευσης 0.15 Nm Ανάλυση
- Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης Υψηλής Ανάλυσης 0,04 Nm Βιομηχανικό Μικροσκόπιο Για Ανάλυση Σε Νανοκλίμακα
- Δυναμική Διαμόρφωση Σάρωσης Ατομικό Μικροσκόπιο Επιστημονικό Μικροσκόπιο Υψηλής Ανάλυσης 0,04 Nm
- Μικροσκόπια Ατομικής Δύναμης 0,1 Hz - 30 Hz Μικροσκόπια Ανιχνευτή Σάρωσης Νανοκλίμακας
Μικροσκόπιο Kerr
- Μικροσκόπιο Magneto Optic Kerr 250 Nm Μικροσκόπιο Δοκιμής Περιστροφής Για Ολοκληρωμένο Χαρακτηρισμό Υλικού
- Πολυλειτουργικό Μικροσκόπιο MOKE 250 Nm Μαγνητο-Οπτικό Μικροσκόπιο Εφέ Kerr Για Ανάλυση SOT
- Microscope Permanent Magnet Kerr Vector Microscope MOKE 450 Nm For 3D Analysis Of Hard Magnetic Materials
- MOKE Wafer Scanner EFEM Σύστημα Μέτρησης Wafer Για Χάρτες Υστέρησης Και Μαγνητικής Ομοιομορφίας
Δονητικό Μαγνητόμετρο Δείγματος
- Μαγνητόμετρο Δειγμάτων Δόνησης Χαμηλού Θορύβου Υψηλής Ταχύτητας VSM Ευέλικτο Για Αξιόπιστο Μαγνητικό Χαρακτηρισμό
- Ακριβής Έλεγχος Δονητικού Μαγνητόμετρου 77 K - 950 K Εύρος Θερμοκρασίας VSM Για Σκόνες Και Λεπτά Φιλμ
- Πολυδιάστατο Και Ευαίσθητο Σύστημα Μέτρησης Μαγνητικών Ιδιοτήτων Με Χαμηλό Θόρυβο
- Κλειδί Σε Χειρισμό Συστήματα VSM Υψηλής Ακρίβειας Δονητικό Μαγνητόμετρο Για Γρήγορες Και Αξιόπιστες Μαγνητικές Μετρήσεις
Magneto Optical Cryostat
- Γρήγορη Ψύξη Μαγνητο-Οπτικό Κρυοστάτη 1 Πάνω Παράθυρο MO-Κρυοστάτη Για Την Προηγμένη Έρευνα Υλικών
- Οπτικό Κρυοστάτη Υψηλού Πεδίου 1.7 K - 350 K Εύρος Θερμοκρασίας MO-Cryo Με Οπτική Πρόσβαση Πολλαπλών Κατευθύνσεων
- 1.7 K-350 K Κρυοστάτης Υπεραγώγιμου Μαγνήτη – Δοκιμές Οπτο-Μαγνητικής Υψηλής Σταθερότητας
- Κρυοστάτης Υπεραγώγιμου Μαγνήτη – Πολλαπλά Οπτικά Παράθυρα Για Δοκιμές Χαμηλής Θερμοκρασίας/Υψηλού Πεδίου
Κρυογονικός Σταθμός Ανίχνευσης
- Σταθμός Δοκιμών Κρυογονικής Ακριβείας, Χωρίς Κρυογόνο, Για Αυτόματες Μαγνητικές Μετρήσεις
- Εταιρικός Σταθμός Ανίχνευσης Χαμηλής Θερμοκρασίας Κενού Για Μετρήσεις Συσκευών 4 K
- Αυτόματος Σταθμός Δοκιμών Ηλεκτρικών Δοκιμών Κρυογονικής Ανίχνευσης Κενού
- Σταθμός Ανίχνευσης Ημιαγωγών Κλειστού Βρόχου 4 K Σταθμός Ανίχνευσης Κυψελών Κενού Για Δοκιμές Κυψελών 2 Ίντσες
Δοκιμαστής MRAM
- Αυτόματο Τελικό Σύστημα Δοκιμών Precision MRAM Tester Για Γραμμές Παραγωγής Μαγνητικών Τσιπ
- Δοκιμαστής Μαγνητικών Τσιπ Tri Temp Precision Final Tester Για Επαλήθευση Υψηλής Αξιοπιστίας
- Δοκιμαστής Τρισδιάστατου Μαγνητικού Τσιπ Πολυδιάστατος Τελικός Δοκιμαστής Για Επαλήθευση Υψηλής Αξιοπιστίας
- Αυτοματοποιημένος Δοκιμαστής MRAM Μαγνητικό Τσιπ Τελική Μηχανή Δοκιμής Για Την Παραγωγή Και Την Τελική Δοκιμή Παρτίδας
Σταθμός Μαγνητικού Ανιχνευτή
- Σταθμός Ανιχνευτή Μαγνητικού Διάνυσματος Κλιμακούμενο Σταθμός Ανίχνευσης Δίσκων Για Χαρακτηρισμό Συσκευών 2D
- Σε Επίπεδο Και Κατακόρυφο Μαγνητικό Σταθμό Ανίχνευσης 140 MT Wafer Prober Για Προηγμένες Δοκιμές
- Αναβαθμίσιμος Σταθμός Διερεύνησης 2D Για Αισθητήρες Μαγνητικού Πεδίου Για Έρευνα Ακριβείας Και Παραγωγή
- Προγραμματιζόμενος Σταθμός Ανίχνευσης Ακρίβειας RF Για Επεκτάσιμη Έρευνα Και Ανάπτυξη
