High Scanning Force Microscope 0,15 Nm High Resolution Microscope voor Wafe

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat wordt gebruikt voor beeldvorming met hoge resolutie en oppervlaktanalyse op verschillende gebieden zoals nanotechnologie, materiaalwetenschappen en biologie.Met zijn geavanceerde mogelijkheden en precieze metingen, is de AFM een essentieel hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers die op zoek zijn naar gedetailleerde inzichten in oppervlakte-eigenschappen op nanoschaalniveau.

Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM is de veelzijdige beeldvorming, waaronder topografie, fase, wrijving en laterale kracht.Deze modi maken het gebruikers mogelijk gedetailleerde informatie over het monsteroppervlak te verzamelen.Met behulp van deze beeldvormende modus, kunnen we de verschillende soorten beelden met elkaar vergelijken, zoals hoogte variaties, materiaal contrast, wrijving eigenschappen en laterale krachten.Onderzoekers kunnen een uitgebreid begrip krijgen van de oppervlakte-eigenschappen en het gedrag van het monster.

De AFM biedt een indrukwekkende resolutie van 0,15 nm, waardoor gebruikers oppervlakken met uitzonderlijke helderheid en precisie kunnen visualiseren.Deze hoge resolutie is cruciaal voor het uitvoeren van gedetailleerde oppervlaktanalyses en het verkrijgen van nauwkeurige metingen voor verschillende toepassingenOf het nu gaat om het uitvoeren van grofheidsmetingen of het bestuderen van de topografie van het oppervlak, de AFM levert een ongeëvenaarde resolutie voor nauwkeurige afbeeldingen en analyses.

Naast zijn beeldvermogen biedt de AFM een uitzonderlijke krachtoplossing van 0,15 nN,de onderzoekers in staat stellen de mechanische eigenschappen van monsters met uitzonderlijke gevoeligheid te onderzoekenDe nauwkeurige krachtresolutie van de AFM stelt gebruikers in staat nanoindentatie-experimenten uit te voeren, hechtingskrachten te meten en de elastische eigenschappen van materialen op nanoschaalniveau te onderzoeken.Met zijn hoge kracht resolutie, biedt de AFM waardevolle inzichten in het mechanische gedrag van monsters.

Wat de steekproefgrootte betreft, is het AFM geschikt voor een breed scala aan exemplaren met een grootte tot 200 mm x 5200 mm.Deze ruimhartige steekproefomvang stelt gebruikers in staat verschillende soorten monsters te analyserenHet onderzoek van individuele nanodeeltjes of grootschalige oppervlakken is een van de belangrijkste aspecten van het onderzoek.de AFM biedt de mogelijkheid om met gemak monsters van verschillende grootte te onderzoeken.

De AFM biedt meerdere scannermodi, waaronder contact-, tap- en niet-contactmodi, waardoor gebruikers flexibiliteit hebben in hun beeldvormingsaanpak.Contactmodus maakt directe interactie mogelijk tussen de AFM-sonde en het monsteroppervlakDe Tapping-modus vermindert de interactie tussen punt-monster, minimaliseert de monsterbeschadiging en verlengt de levensduur van de sonde, ideaal voor delicate monsters.Niet-contactmodus maakt gebruik van intermitterende tip-monster interactiesMet deze scanmodes kunnen onderzoekers de meest geschikte aanpak kiezen voor hun specifieke beeldvormingseisen.

Samengevat is de Atomic Force Microscope (AFM) een krachtig instrument voor oppervlaktanalyse, grofheidsmeting en beeldvorming met hoge resolutie op nanoschaalniveau.uitzonderlijke resolutie, nauwkeurige krachtgevoeligheid, veelzijdige steekproefgrootte en meerdere scanmodi,de AFM stelt onderzoekers in staat de ingewikkelde details van monsteroppervlakken te onderzoeken en waardevolle inzichten te verkrijgen in hun eigenschappenOf het nu gaat om het bestuderen van materialen, biologische monsters of nanoschaalstructuren, de AFM biedt ongeëvenaarde mogelijkheden voor uitgebreide oppervlaktanalyse en wetenschappelijke ontdekkingen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scanbereik: 100 μm X 100 μm
• Resolutie: 0,15 Nm
• Grootte van het monster: tot 200 mm x 5200 mm
• Beeldvorming: topografie, fase, wrijving, zijdelingse kracht
• Scanmodus: contact, tikken, niet-contact

Technische parameters:

Toepassingen:

De AtomEdge Pro Atomic Force Microscope van Truth Instruments, afkomstig uit China, is een krachtig hulpmiddel dat is ontworpen voor verschillende toepassingen op het gebied van oppervlaktanalyse in verschillende industrieën.met een scanbereik van 100 μm x 100 μm en beeldvorming, met inbegrip van topografieDeze scanning microscoop biedt nauwkeurige en gedetailleerde beeldvorming.

Een van de belangrijkste toepassingsscenario's voor de AtomEdge Pro is op het gebied van halfgeleideronderzoek en -ontwikkeling.15 NN maakt het ideaal voor het analyseren van halfgeleideroppervlakken op nanoschaalOnderzoekers en ingenieurs in de halfgeleiderindustrie kunnen deze AFM gebruiken om oppervlakte-eigenschappen, defecten en structuren met uitzonderlijke precisie te bestuderen.

Bovendien is de AtomEdge Pro goed geschikt voor verschillende oppervlaktanalysetaken in industrieën zoals materiaalwetenschappen, nanotechnologie en biologie.De compatibiliteit met Windows-software zorgt voor naadloze gegevensanalyse en visualisatie, waardoor het een veelzijdig instrument is voor onderzoekslaboratoria en academische instellingen.

Of het nu gaat om het karakteriseren van nanostructuren, het meten van oppervlakkrapheid of het bestuderen van biologische monsters, de AtomEdge Pro biedt flexibiliteit en betrouwbaarheid in monsteranalyse.De royale ondersteuning van de steekproefgrootte van maximaal 200 mm x 5200 mm stelt gebruikers in staat een breed scala aan monsters te bestuderen, waardoor het geschikt is voor diverse onderzoeksprojecten en industriële toepassingen.

Tot slot is de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope van Truth Instruments een waardevol hulpmiddel voor oppervlaktanalyse in meerdere industrieën.Het is een essentieel instrument voor onderzoekers., wetenschappers en ingenieurs die betrokken zijn bij nanotechnologie, materiaalwetenschappen en andere gebieden die hoge resolutiebeelden en analyses vereisen.