All-in-one Atomkraftmikroskop Multifunktionale Biomikroskope für flexiblen und präzisen Betrieb

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Werkzeug für elektrische Messungen und Analysen im Nanobereich. Dieses fortschrittliche Instrument bietet beispiellose Fähigkeiten beim Scannen und Abbilden auf Nanoebene und ist somit ein unverzichtbares Gerät für Forscher und Wissenschaftler, die in verschiedenen Bereichen arbeiten.

Wichtige Produktmerkmale:

• Scanbereich: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Rauschpegel in Z-Richtung: 0,04 Nm
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning
• Nichtlinearität: 0,02 % in XY-Richtung und 0,08 % in Z-Richtung
• Rauschpegel in XY-Richtung: 0,4 Nm

Das Rasterkraftmikroskop zeichnet sich durch seinen außergewöhnlichen Scanbereich von 100 μm in X- und Y-Richtung und 10 μm in Z-Richtung aus. Dieser breite Scanbereich ermöglicht eine detaillierte und umfassende Abbildung von Proben auf Nanoebene und liefert Forschern wertvolle Einblicke in Oberflächenmerkmale und -eigenschaften.

Mit einem Rauschpegel von nur 0,04 Nm in Z-Richtung und 0,4 Nm in XY-Richtung gewährleistet das AFM hohe Präzision und Genauigkeit bei den Messungen und ist somit ideal für anspruchsvolle Anwendungen, die eine zuverlässige Datenerfassung erfordern.

Die Scanmethode des AFM verwendet ein XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning, das es Benutzern ermöglicht, Proben aus mehreren Winkeln und Richtungen mit Leichtigkeit zu untersuchen. Dieser vielseitige Scanansatz erleichtert die umfassende Analyse von Probenoberflächen und macht es zu einem wertvollen Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.

Darüber hinaus weist das AFM eine ausgezeichnete Linearität auf, mit nur 0,02 % Nichtlinearität in XY-Richtung und 0,08 % Nichtlinearität in Z-Richtung. Dieses hohe Maß an Linearität stellt sicher, dass Messungen und Abbildungsergebnisse hochpräzise und zuverlässig sind, sodass Forscher ihre Daten sicher interpretieren können.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop eine All-in-One-AFM-Lösung ist, die außergewöhnliche Scanfähigkeiten, niedrige Rauschpegel, präzise Scanmethoden und eine ausgezeichnete Linearität sowohl in XY- als auch in Z-Richtung bietet. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und seinem hochmodernen Design ist das AFM ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die elektrische Messungen und Analysen im Nanobereich durchführen.

Funktionen:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Rauschpegel in XY-Richtung: 0,4 Nm
• Nichtlinearität: 0,02 % in XY-Richtung und 0,08 % in Z-Richtung
• Scangeschwindigkeit: 0,1-30 Hz
• Probengröße: 25 mm
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) Modell AtomEdge Pro von Truth Instruments ist ein hochmodernes Instrument, das den hohen Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung und industriellen Anwendungen gerecht wird. Dieses fortschrittliche AFM stammt aus China und bietet präzise Mess- und Abbildungsmöglichkeiten für eine Vielzahl von Anwendungen.

Der AtomEdge Pro ist aufgrund seiner außergewöhnlichen Eigenschaften ideal für verschiedene Produktanwendungen und -szenarien:

• Rauschpegel: Mit einem Rauschpegel von 0,4 Nm in XY-Richtung gewährleistet der AtomEdge Pro auch in anspruchsvollen Umgebungen genaue und zuverlässige Messungen.
• Probengröße: Dieses AFM kann Proben bis zu einer Größe von 25 mm verarbeiten und eignet sich somit für eine Vielzahl von Probenarten für vielseitige Tests.
• Nichtlinearität: Der AtomEdge Pro bietet Präzision und weist niedrige Nichtlinearitätsraten von 0,02 % in XY-Richtung und 0,08 % in Z-Richtung auf, was konsistente und genaue Ergebnisse gewährleistet.
• Scangeschwindigkeit: Mit einer Scangeschwindigkeit von 0,1 bis 30 Hz können Benutzer die Geschwindigkeit an die spezifischen Anforderungen ihrer Experimente anpassen.
• Scanbereich: Der Scanbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm bietet detaillierte Abbildungs- und Messmöglichkeiten für eine Vielzahl von Proben.

Eines der herausragenden Merkmale des AtomEdge Pro ist seine Fähigkeit, im Tapping-Modus zu arbeiten, einer beliebten Technik im AFM, die Probenschäden minimiert und hochauflösende Bilder liefert. Dieser Modus ist besonders nützlich in der biologischen Forschung und bei Weichmaterialien, bei denen eine schonende Abbildung unerlässlich ist.

Ob in Forschungslaboren, akademischen Einrichtungen oder industriellen Umgebungen, der AtomEdge Pro findet seine Anwendung in verschiedenen Szenarien:

• Materialwissenschaft: Untersuchung von Oberflächeneigenschaften, Morphologie und mechanischen Eigenschaften von Materialien im Nanobereich.
• Biologie: Abbildung biologischer Proben wie Zellen, Proteine und DNA mit hoher Auflösung und Präzision.
• Nanotechnologie: Charakterisierung von Nanomaterialien und Nanostrukturen für Forschungs- und Entwicklungszwecke.
• Qualitätskontrolle: Sicherstellung der Produktqualität durch Analyse von Oberflächenrauheit, Defekten und anderen Merkmalen im Mikro- und Nanobereich.

Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und seiner Präzisionskonstruktion ist der AtomEdge Pro von Truth Instruments ein zuverlässiges und vielseitiges Rasterkraftmikroskop, das den vielfältigen Anforderungen der modernen Forschung und Industrie gerecht wird.