logo

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom Mikroskop Biologi Multifungsi Untuk Operasi yang Fleksibel dan Tepat

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
Rincian produk
Menyoroti:

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom

,

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi

,

Mikroskop Biologi Multifungsi

Name: Mikroskop gaya atom
Scanning Rate: 0,1-30 Hz
Scanning Method: XYZ Tiga sumbu pemindaian sampel penuh
Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm
Sample Size: 25 mm
Noise Level In The XY Direction: 0,4 nm
Nonlinearity: 0,02% dalam arah XY dan 0,08% ke arah z

Properti Dasar

Nama merek: Truth Instruments
Nomor Model: Atomedge Pro

Properti Perdagangan

Harga: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Ketentuan Pembayaran: T/t
Deskripsi Produk

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom Untuk Operasi Fleksibel yang Tepat

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah alat mutakhir yang dirancang untuk pengukuran dan analisis listrik skala nano.Instrumen canggih ini menawarkan kemampuan tak tertandingi dalam pemindaian dan pencitraan pada tingkat nanoscale, menjadikannya alat penting bagi peneliti dan ilmuwan yang bekerja di berbagai bidang.

Atribut utama produk:

  • Jangkauan pemindaian:100 μm X 100 μm x 10 μm
  • Tingkat kebisingan di arah Z:00,04 Nm
  • Metode pemindaian:XYZ Scan Sampel Tiga sumbu penuh
  • Nonlinearitas:00,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z
  • Tingkat kebisingan di arah XY:0.4 Nm

Mikroskop Kekuatan Atom menonjol dengan rentang pemindaian yang luar biasa dari 100 μm di arah X dan Y, dan 10 μm di arah Z.Rentang pemindaian yang luas ini memungkinkan pencitraan sampel yang rinci dan komprehensif pada tingkat nanoscale, memberikan peneliti wawasan berharga tentang karakteristik dan sifat permukaan.

Dengan tingkat kebisingan hanya 0,04 Nm di arah Z dan 0,4 Nm di arah XY, AFM memastikan presisi tinggi dan akurasi dalam pengukuran,membuatnya ideal untuk aplikasi yang menuntut yang membutuhkan pengambilalihan data yang dapat diandalkan.

Metode pemindaian AFM menggunakan pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, memungkinkan pengguna untuk menjelajahi sampel dari berbagai sudut dan arah dengan mudah.Pendekatan pemindaian serbaguna ini memfasilitasi analisis komprehensif permukaan sampel, menjadikannya alat yang berharga untuk berbagai aplikasi penelitian.

Selain itu, AFM membanggakan linearitas yang sangat baik, dengan hanya 0,02% nonlinearitas di arah XY dan 0,08% nonlinearitas di arah Z.Tingkat linearitas yang tinggi ini memastikan bahwa hasil pengukuran dan pencitraan sangat akurat dan dapat diandalkan, memungkinkan para peneliti untuk dengan percaya diri menafsirkan data mereka.

Singkatnya, Atomic Force Microscope adalah solusi AFM all-in-one yang menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa, tingkat kebisingan rendah, metode pemindaian yang tepat,dan linearitas yang sangat baik di kedua arah XY dan ZDengan fitur canggih dan desain mutakhir, AFM adalah alat yang harus dimiliki oleh peneliti dan ilmuwan yang melakukan pengukuran dan analisis listrik skala nano.

Fitur:

  • Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
  • Tingkat kebisingan di arah XY: 0,4 Nm
  • Nonlinearitas: 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z
  • Tingkat pemindaian: 0,1-30 Hz
  • Ukuran sampel: 25 mm
  • Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Penuh Tiga sumbu

Parameter teknis:

Jangkauan Pemindaian 100 μm X100 μm x 10 μm
Nonlinearitas 00,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z
Tingkat kebisingan di arah Z 00,04 Nm
Metode Pemindaian XYZ Scan Sampel Tiga sumbu penuh
Tingkat kebisingan di arah XY 0.4 Nm
Ukuran Sampel 25 mm
Kecepatan Pemindaian 0.1-30 Hz

Aplikasi:

Truth Instruments' Atomic Force Microscope (AFM) model AtomEdge Pro adalah instrumen state-of-the-art yang dirancang untuk memenuhi tuntutan tinggi penelitian ilmiah dan aplikasi industri.Berasal dari Cina, AFM canggih ini menawarkan pengukuran yang tepat dan kemampuan pencitraan untuk berbagai aplikasi.

AtomEdge Pro sangat ideal untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk karena fitur luar biasa:

  • Tingkat kebisingan:Dengan tingkat kebisingan 0,4 Nm di arah XY, AtomEdge Pro memastikan pengukuran yang akurat dan dapat diandalkan bahkan di lingkungan yang menantang.
  • Ukuran sampel:Mampu menangani sampel hingga ukuran 25 mm, AFM ini mengakomodasi berbagai jenis sampel untuk pengujian serbaguna.
  • Nonlinearitas:Menawarkan presisi, AtomEdge Pro menawarkan tingkat nonlinearitas rendah 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z, memastikan hasil yang konsisten dan akurat.
  • Kecepatan pemindaian:Dengan kecepatan pemindaian berkisar dari 0,1 hingga 30 Hz, pengguna dapat menyesuaikan kecepatan berdasarkan persyaratan spesifik percobaan mereka.
  • Jangkauan pemindaian:Jangkauan pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm menyediakan kemampuan pencitraan dan pengukuran rinci untuk berbagai sampel.

Salah satu fitur yang menonjol dari AtomEdge Pro adalah kemampuannya untuk beroperasi dalam Mode Tapping, teknik populer dalam AFM yang meminimalkan kerusakan sampel dan memberikan gambar resolusi tinggi.Mode ini sangat berguna dalam penelitian biologis dan bahan lunak di mana pencitraan lembut sangat penting.

Apakah di laboratorium penelitian, lembaga akademik, atau pengaturan industri, AtomEdge Pro menemukan penerapannya dalam berbagai skenario:

  • Ilmu Materi:Mempelajari sifat permukaan, morfologi, dan karakteristik mekanik bahan pada skala nano.
  • Biologi:Pencitraan sampel biologis seperti sel, protein, dan DNA dengan resolusi tinggi dan presisi.
  • Nanoteknologi:Karakterisasi nanomaterial dan nanostruktur untuk tujuan penelitian dan pengembangan.
  • Kontrol kualitas:Memastikan kualitas produk dengan menganalisis kekasaran permukaan, cacat, dan fitur lainnya pada skala mikro dan nano.

Dengan kemampuan canggih dan teknik presisi,AtomEdge Pro dari Truth Instruments adalah Scanning Force Microscope yang handal dan serbaguna yang memenuhi beragam kebutuhan penelitian dan industri modern.

Kirim Pertanyaan

Dapatkan Kutipan Cepat